METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES

Samankaltaiset tiedostot
METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi

ITS-90: lämpötilan laskukaavat vastuslämpömittareille (SPRT)

SI-mittayksiköt. Martti Heinonen VTT MIKES. FINAS-päivä National Metrology Institute VTT MIKES

SI-järjestelmä uudistuu

Yksikkömuunnokset. Pituus, pinta-ala ja tilavuus. Jaana Ohtonen Språkskolan/Kielikoulu Haparanda-Tornio. lördag 8 februari 14

Tervetuloa. S Mittaustekniikan perusteet A S Mittaustekniikan perusteet Y. Pe 14:15-15:45 E111-salissa. Mittaustekniikan perusteet

Tervetuloa. Luennot ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen

Mittayksikköjärjestelmät

Mittaustuloksen esittäminen Virhetarkastelua. Mittalaitetekniikka NYMTES 13 Jussi Hurri syksy 2014

Uusi SI-järjestelmä toteuttaa Maxwellin unelman. Antti Manninen. liikkeestä tai massasta, vaan pilaantumattomien,

Paikkatietokeskuksen mittanormaalit ja kalibrointitoiminta

Tervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen

KAASUJEN YLEISET TILANYHTÄLÖT ELI IDEAALIKAASUJEN TILANYHTÄLÖT (Kaasulait) [pätevät ns. ideaalikaasuille]

Tervetuloa. Mittausteknikka. Mittaustekniikan perusteet. Mittaustekniikka. Mittaustekniikka

Tekstiilien tutkiminen ja testaus

Mittausten jäljitettävyysketju

Wien R-J /home/heikki/cele2008_2010/musta_kappale_approksimaatio Wed Mar 13 15:33:

Mustan kappaleen säteily

LIITE 2. ALTISTUMISRAJA-ARVOT OPTISELLE SÄTEILYLLE

Kvanttifysiikan perusteet 2017

MIKES, Julkaisu J3/2000 MASS COMPARISON M3. Comparison of 1 kg and 10 kg weights between MIKES and three FINAS accredited calibration laboratories

OPAS. Kansainvälinen suure- ja yksikköjärjestelmä International System of Quantities and Units

HE 42/2006 vp. Hallituksen esitys Eduskunnalle laiksi mittayksiköistä ja mittanormaalijärjestelmästä annetun lain muuttamisesta

Mittausjärjestelmän kalibrointi ja mittausepävarmuus

Alkuaineita luokitellaan atomimassojen perusteella

JOHTOKYKYMITTAUKSEN AKKREDITOINTI

- ultraviolettisäteilyn (UV) - näkyvän alueen (visible) - infrapuna-alueen (IR)

Uutta teknologiaa, uusia osaajia ja innovaatioita

RADIOMETRIAN PERUSTEET

ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2015)

Julkaistu Helsingissä 8 päivänä joulukuuta /2014 Valtioneuvoston asetus. mittayksiköistä. Annettu Helsingissä 4 päivänä joulukuuta 2014

Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, osa II b, sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö 4. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä

a) Piirrä hahmotelma varjostimelle muodostuvan diffraktiokuvion maksimeista 1, 2 ja 3.

luku 1.notebook Luku 1 Mooli, ainemäärä ja konsentraatio

LIITE I. Epäkoherentti optinen säteily. λ (H eff on merkityksellinen vain välillä nm) (L B on merkityksellinen vain välillä nm)

Mikroskooppisten kohteiden

KE4, KPL. 3 muistiinpanot. Keuruun yläkoulu, Joonas Soininen

Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, sähkösuureet. Antti Manninen MIKES

EUROOPAN YHTEISÖJEN KOMISSIO. Ehdotus EUROOPAN PARLAMENTIN JA NEUVOSTON DIREKTIIVIKSI

Mittaustarkkuus ja likiarvolaskennan säännöt

Mittaustulosten tilastollinen käsittely

Seoksen pitoisuuslaskuja

Työssä määritetään luokkahuoneen huoneilman vesihöyryn osapaine, osatiheys, huoneessa olevan vesihöyryn massa, absoluuttinen kosteus ja kastepiste.

Ulkoilman SO 2 -, NO- ja O 3 -mittausten kansallisen vertailumittauksen tuloksia. Karri Saarnio Ilmanlaadun mittaajatapaaminen 11.4.

Diplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2011 Insinöörivalinnan fysiikan koe , malliratkaisut

Mittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön lähentäminen ***I

KJR-C1001 Statiikka ja dynamiikka. Luento Susanna Hurme

Tämä asiakirja on ainoastaan dokumentointitarkoituksiin. Toimielimet eivät vastaa sen sisällöstä.

1. Tasavirta. Virtapiirin komponenttien piirrosmerkit. Virtapiiriä havainnollistetaan kytkentäkaaviolla

MIKES METROLOGIA. Kalibrointipalvelut. Kansainvälistä kilpailukykyä ja luotettavuutta

Kuvan 4 katkoviivalla merkityn alueen sisällä

Differentiaali- ja integraalilaskenta 3 Mallit laskuharjoitukseen 3 /

Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet: sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä

ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016)

Kansallinen mittanormaalitoiminta ja sen kehittäminen

Lämpöoppi. Termodynaaminen systeemi. Tilanmuuttujat (suureet) Eristetty systeemi. Suljettu systeemi. Avoin systeemi.

Molaariset ominaislämpökapasiteetit

MIKES METROLOGIA Kalibrointipalvelut. Kansainvälistäkilpailukykyä ja luotettavuutta

T F = T C ( 24,6) F = 12,28 F 12,3 F T K = (273,15 24,6) K = 248,55 K T F = 87,8 F T K = 4,15 K T F = 452,2 F. P = α T α = P T = P 3 T 3

Tervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen

PAINEMITTAUKSET. 0,0005 Pa MPa. Mittaustekniikan lisensiaattikurssi Mittatekniikan keskus Sari Semenoja, p

Ajankohtaista metrologiasta. Timo Hirvi Syysseminaari Tarkemmat mittaukset tarpeen?

PYP I / TEEMA 4 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS

REAKTIOT JA ENERGIA, KE3. Kaasut

SMG-5250 Sähkömagneettinen yhteensopivuus (EMC) Jari Kangas Tampereen teknillinen yliopisto Elektroniikan laitos

4) Törmäysten lisäksi rakenneosasilla ei ole mitään muuta keskinäistä tai ympäristöön suuntautuvaa vuorovoikutusta.

DEE-11110: SÄHKÖTEKNIIKAN PERUSTEET

Kalibrointipalvelumme

PYP I / TEEMA 8 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS

Automaatioseminaari

= 84. Todennäköisin partitio on partitio k = 6,

Tutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa

vetyteknologia Polttokennon tyhjäkäyntijännite 1 DEE Risto Mikkonen

1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot

SMG-5250 Sähkömagneettinen yhteensopivuus (EMC) Jari Kangas Tampereen teknillinen yliopisto Elektroniikan laitos

Vaaituksen mittakaavasta

(b) Tunnista a-kohdassa saadusta riippuvuudesta virtausmekaniikassa yleisesti käytössä olevat dimensiottomat parametrit.

SÄHKÖMAGNEETTISTEN KENTTIEN BIOLOGISET VAIKUTUKSET JA TERVEYSRISKIT

Työssä määritetään luokkahuoneen huoneilman vesihöyryn osapaine, osatiheys, huoneessa olevan vesihöyryn massa, absoluuttinen kosteus ja kastepiste.

Muita tyyppejä. Bender Rengas Fokusoitu Pino (Stack) Mittaustekniikka

ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016)

MITTAUSTEKNIIKAN ERIKOISTUMISOPINNOT (30 op)

AVOIMEN SARJAN VASTAUKSET JA PISTEITYS

Luku Ohmin laki

YO-harjoituskoe B / fysiikka Mallivastaukset

1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot

Braggin ehdon mukaan hilatasojen etäisyys (111)-tasoille on

Laadukkaan mittaamisen perusteet Toimittaneet: E. Hiltunen, L. Linko, S. Hemminki, M. Hägg, E. Järvenpää, P. Saarinen, S. Simonen, P.

MITTATEKNIIKAN KESKUKSEN TIEDOTUSLEHTI Yhteistyöllä tarkkuutta ja laatua

Pt-100-anturin vertailu: anturin kalibrointi ja kalibrointikertoimen laskeminen

0. perusmääritelmiä. Lukutyypit Laskusäännöt Laskujärjestys

1. (*) Luku 90 voidaan kirjoittaa peräkkäisen luonnollisen luvun avulla esimerkiksi

1. Elektronin ominaisvarauksen määritystyö Sähkömagnetismi IIZF1031

TURUN AMMATTIKORKEAKOULU TYÖOHJE 1 TEKNIIKKA FYSIIKAN LABORATORIO V

KRISTALLOGRAFIASSA TARVITTAVAA MATEMA- TIIKKAA

Magneettikenttä ja sähkökenttä

LIITE 1 VIRHEEN ARVIOINNISTA

Kaksi yleismittaria, tehomittari, mittausalusta 5, muistiinpanot ja oppikirjat. P = U x I

1. Fysiikka ja mittaaminen

e) levyssä olevan pienen reiän läpi pääsevä valovirta, kun reiän halkaisija on 5 cm.

Transkriptio:

METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi SISÄLTÖ Mitä metrologia on Metrologian organisointi Lämpötilan yksikkö kelvin, lämpötila-asteikko ITS-90 Valovoiman yksikkö kandela, määritelmä ja realisointi Ainemäärän yksikkö mooli, määritelmä ja realisointi, Massan yksikkö kilogramma, määritelmä ja realisointi kilogramman realisointi tulevaisuudessa METROLOGIA Metrologia on mittauksia käsittelevä tiedonala Osa-alueet - Mittayksikköjen määritelmät, esim. kandela - Mittayksikköjen realisointi, esim. kandelan realisointi - Jäljitettävyysketjut alemman tason mittanormaalista yksikön määritelmään. Metrologiaan kuuluvat lisäksi mittaustulokseen vaikuttavia seikkoja - mittausolosuhteet - mittauslaitteet - mittaajat - mittausmenetelmät ja mittausohjelmistot - mittausepävarmuuslaskelmat METRISOPIMUS (1875) Muodostaa SI yksikköjärjestelmän perusta Organisointi: - Yleinen paino- ja mittakonferenssi (yksiköiden määritelmät) - Kansainvälinen paino- ja mittakomitea (CIPM) Toimeenpaneva elin mm. ohjaa BIPM:n toimintaa, päättää avainvertailuista - Neuvoa-antavat komiteat (CC komiteat) eri suurealueelle sekä SI yksiköille omat komiteat, tutkimuksen, avain vertailujen koordinointi - Kansainvälinen mitta- ja painotoimisto (BIPM) kilogramman ja eräiden muiden yksiköiden realisointi, tutkimus, vertailut

Mittanormaalien jäljitettävyys Metrologian organisointi Suomessa Suomen kansallinen metrologian laitos on Mittatekniikan keskus (MIKES), joka vastaa Suomen kansallisesta mittanormaalijärjestelmästä Useimpien suureiden kansalliset mittanormaalilaboratoriot ovat MIKESissä Virallisia kalibrointipalveluja antamat myös FINASin akkreditoimat kalibrointilaboratoriot Lakisääteisestä metrologiasta (esim. vaakojen vakaus) vastaa Turvatekniikan keskus (TUKES)

Uusi MIKES-talo (2005) Tekniikantie 1, Otaniemi KELVIN ITS-90: LÄMPÖTILAN LASKUKAAVAT VASTUSLÄMPÖMITTARILLE (SPRT) Lämpötila-asteikko ITS-90 - asteikko määritelty lämpötilan 0,65 K yläpuolella - asteikko määritellään lämpötilan 961,78 C alapuolella termodynaamisten kiintopisteiden ja interpolointi-instrumenttien avulla - kiintopisteinä on puhtaiden aineiden faasitransitiolämpötiloja - interpolointi-instrumentteina on kaasulämpömittari ja platinavastuslämpömittari - 961,78 C yläpuolella asteikko määritellään Planckin säteilylain avulla Alueella 0,9 mk - 1 K on käytössä PLTS-2000 asteikko W ( T ) = W ( T ) + W ( T ) W ( T ) = referenssifunktio r r W ( T ) = R( T ) / R(273,16K) = vastussuhde R( T ) = mitattuvastus W ( T ) = korjaus

ITS-90: PLANCKIN SÄTEILYLAKI Planckin laki (teho/pinta-ala/λ) Spektrinen radianssi 2 1 hc Fλ = 5 hc / λkt λ e 1 dφe / dλ Le ( λ) = dλ dacosθdω VEDEN KOLMOISPISTEKENNO JÄÄHAUTEESSA

SINKKIKENNO UUNISSA HOPEAKENNO MUSTANKAPPALEEN SÄTEILIJÄNÄ KANDELA Valovoima I v on säteilyintensiteettiä I e (W/sr) vastaava fotometrinen suure Valovoima saadaan säteilyintensiteetistä ihmissilmän päivänäkemisen spektrisen herkkyyskäyrän V(λ) ja kertoimen K m = 683 cd sr / W avulla I v = K m 0 die( λ) V ( λ) dλ dλ

KANDELAN REALISOINTI KANDELAN REALISOINTI Kandela realisoidaan nykyisin seuraavasti I v 2 Kmd = Fi As(555) s(555) = detektorin vaste aallonpituudella 555 nm A = säteilyä rajoittava apertuuri d = etäisyys säteilylähteestä F = korjauskerroin i = tulevaa säteilytehoa Φ e vastaava sähkövirta s rel = detektorin suhteellinen vaste F I v = valovirta K m = 683 cd sr / W = Φ Φ e e ( λ ) V ( λ ) dλ ( λ ) s rel ( λ ) dλ MOOLI Kemian metrologian primäärimenetelmät - isotooppilaimennusmassaspektroskopia - gravimetria - titrimetria - kulometria - jäätymispisteen alenema KILOGRAMMAN MÄÄRITELMÄ 1 kg = Kansainvälisen kilogramman prototyypin massa (1889) Täsmennys: massa BIPM-puhdistuksen (eetteri/etanoli, höyry) jälkeen Kansainvälinen kilogramman prototyyppi - Pt 90 % Ir 10 % ρ 21,5 kg/m 3 - sylinteri d h 39 mm - säilytys: BIPM - käytetty:.. 1946, 1991 Ongelmat: - prototyyppi on artefakti, haavoittuva - ilman saasteet muuttavat massaa - jäljitettävyysketju on yleensä pitkä - stabiiliutta ei tunneta Edut: - helppo toteuttaa - tarkka (vertailutarkkuus parempi kuin 1 µg)

Wattivaaka 1) Punnitus Mahdollisia menetelmiä kilogramman realisoimiseksi: a) Wattivaaka, magneettikentässä liikkuva kela ( 10-7 ) b) Avogadro vakio Si kiteestä (5 10-7 ) c) Ionien keräys (tällä hetkellä 10-3 ) d) Surajohtavan kappaleen Levitointi (noin 10-6 ) 1) Voimatasapaino : - Staattisessa magneettikentässä olevaan kelaan syötetään virta I, jolloin siihen kohdistuu voima F = I β - Voima kompensoidaan punnuksen aiheuttaman painovoiman g m avulla ( g = putoamiskiihtyvyys, m = massa ), F = I β = m g, missä β =mg/i riippuu geometriasta ja magneettikentästä Wattivaaka 2) Induktiomittaus Watt balance at NIST - superconducting solenoids - moving coil in balance - 1 kg weight - wheel balance 2) Mitataan kelaan indusoitunut jännite U - kelaa liikutetaan magneettikentässä nopeudella v Φ U = vβ = v - β = U/v z 3) Yhdistetään punnituksen ja induktiomittauksen tulokset : β = mg/i = U/v mgv = UI (mekaaninen teho = sähköteho)

Watt balance at METAS 1) Mass comparator 2,5) seesaw mechanism for coil 3,4) servo system 6) laser interferometer 7) weight handler 8) 100 g weight 9) suspension frame 10) coil 11) coil positioning mechanism 12) permanent magnet 13) position detector Mahdollisia kilogramman realisointimenetelmiä Avogadro vakio N a mitattuna Si-kiteestä V = n N a v a N a = atomien lukumäärä moolissa = Avogadro vakio n = moolien lukumäärä kiteessä = m / M ρ = m/v = kiteen tiheys = massa / tilavuus v a = atomin tilavuus yksikkökopissa M = moolimasssa, arvo riippuu isotooppijakaumasta N a = ( V / n ) / ν a = ( V M / m ) / v a = (M / ρ ) / ν a Mitattavat suureet: tilavuus, massa, hilavakio, atomipainot, isotooppijakauma, epäpuhtausatomien lukumäärä, kidevirheiden lukumäärä. Fig. www.metas.ch/pdf/labors/research/wattwage.pdf Ref. R.A. Nicolaus, G. Bönch. CPEM02, Ottawa, Canada 16-21 June 2002 Ref. G.Cavagnero et..al., CPEM02, Ottawa, Canada 16-21 June 2002 Hilavakion määritys Tilavuuden määritys Ref. K. Fujii et.al., CPEM02, Ottawa, Canada 16-21 June 2002

Φ Φl h Superconducting magnetic levitation system (NMRL) i dφ = Current source 1 2 dφ mg = I dz Id ( Φ i DVM R SQUID h h JJ Levitated body is Φ i ) + mg( z l l dφ U = v dz f h Laser interferometer z ) l m Coil L = inductance i = current U =voltage z h -z l= vertical displacement Φ = magnetic flux = L i=- Udt Mahdollisia kilogramman realisointitapoja Suprajohtava magneettinen levitointi Φ Φ h i l dφ = 1 2 ( Φ i h h Φ i ) + mg( z l l z ) Mitattavat suureet putoamiskiihtyvyys g mitataan absoluuttisella gravimetrilla korkeusero z h -z l (l = alhaalla, h = ylhäällä) mitataan laserinterferometrilla kelaan syötettävä virta i, mitataan jännite referenssivastuksen yli magneettivuon muutos dφ = Udt= n f Φ 0 dt mitataan ja integroidaan kelan yli oleva jännite, kun virtaa muutetaan f = mikroaaltotaajuus, n = kokonaisluku, Φ 0 = vuokvantti massa m, verrataan tunnettuun massaan Käytännön arvoja avainsuureille B < 50 mt, z h -z l = 5-10 mm, m 100 g, I = 1-5 A, U = 0,1-1 V h l ION ACCUMULATION (PTB)