Tervetuloa. S Mittaustekniikan perusteet A S Mittaustekniikan perusteet Y. Pe 14:15-15:45 E111-salissa. Mittaustekniikan perusteet
|
|
- Urho Juusonen
- 7 vuotta sitten
- Katselukertoja:
Transkriptio
1 Mittaustekniikan perusteet Luennot ja tiedotus S Mittaustekniikan perusteet A S Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-15:45 E111-salissa Tervetuloa Luennot TkT Maija Ojanen-Saloranta MIKES-VTT maija.ojanen-saloranta@vtt.fi Laboratoriotyöt ja tiedotus DI Hans Baumgartner Mittaustekniikan tutkimusryhmä Huone I441 Hans.Baumgartner@aalto.fi Suorittaminen S Mittaustekniikan perusteet A Laboratoriotyöt (8 kpl) hyväksytysti suoritettu. Tentti määrää arvosanan. Tentti on kaksiosainen: yhteensä 5 kysymystä, joista 3 käsittelee laboratoriotöitä (töistäpääsykuulustelu) ja 2 luentoja. Luento-osuuden voi korvata luentokuulusteluilla. Luentokuulustelupisteet säilyvät seuraavaan syyskuuhun asti. Kaksi heikoiten mennyttä (tai poissaoltua) luentokuulustelua jätetään huomioimatta. Suorittaminen S Mittaustekniikan perusteet Y Arvosana on tentin arvosana. Tentin voi korvata kokonaan viikoittaisilla luentokuulusteluilla. Kaksi heikoiten mennyttä (tai poissaoltua) luentokuulustelua jätetään huomioimatta. Laboratoriotyöt (3 kpl) täytyy olla hyväksytysti suoritettu.
2 Luennoilla tutustutaan Mittayksikköjärjestelmään Mittausten keskeisiin termeihin Mittausten epävarmuus- ja luotettavuusnäkökohtiin Tavallisimpiin mittalaitteisiin Mittausten häiriöihin ja rajoituksiin Tärkeimpiin mittausmenetelmiin Tavoitteena on oppia edellämainituista asioista riittävästi eri alojen opintoja varten Materiaali:Luentokalvot, laboratoriotyökirja (Unigrafia). Päivämäärä Luentojen aikataulu Luennon sisältö Opintojakson ja käsitteen mittaustekniikka esittely. Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet osa I Perusmittalaitteet osa I - Oskilloskooppi Metrologia, Vierailevana luennoitsijana Antti Manninen (MIKES) Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet osa II Sähkösuureet Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet osa III Lämpötila ja massa Perusmittalaitteet osa II - Spektrianalysaattorit Peusmittalaitteet osa III - Yleismittarit ja taajuuslaskurit Perusmittalaitteet osa IV - Kellot ja signaalilähteet Mittausepävarmuus Kohina Häiriöt ja signaali-kohinasuhteen parantaminen Anturit Tentti Harjoitellaan käytännön mittaamista Tutustutaan mittausten teoriaan Oskilloskooppi Yleismittari Taajuuslaskuri Spektrianalysaattori Anturit Häiriöt Kuituoptiset mittaukset Laboratoriotöissä Laboratoriotöiden aikataulu Sovitaan ensimmäisellä luennolla. Laboratoriotyökirja A. Pietiläinen et al, Mittaustekniikan perusteiden laboratoriotyöt myynnissä Unigrafian kautta.
3 Oppilaslaboratorio Mittaustekniikka Mittauksia käsittelevä tieteenhaara on metrologia. Metrologia sisältää kaikki mittauksiin liittyvät teoreettiset ja käytännölliset seikat, tekijät ja näkökohdat riippumatta mittausten epävarmuudesta ja tieteen tai tekniikan alasta. Ruokalaa vastapäätä. Tekniikka on kokeellinen tieteenala, jonka tiedonsaanti on mittausten varassa. Mittaustekniikan osa-alueita SI-Mittayksikköjärjestelmä Metrologia Mittanormaalit Jäljitettävyys Laatujärjestelmät Lakisääteinen metrologia SI Mittalaitteet Anturit Mittauselektroniikka Ohjelmistot Spesifikaatiot Yksikköjärjestelmä = annettujen sääntöjen mukaan tietylle suurejärjestelmälle määritelty perus- ja johdannaisyksiköiden joukko Kansainvälinen SI-mittayksikköjärjestelmä = koherentti mittayksikköjärjestelmä, jonka Yleinen paino- ja mittakonferenssi on omaksunut ja jota se suosittelee käytettävän Mittausten analyysi Mallintaminen Epävarmuusanalyysi Metrijärjestelmä = mittayksikköjärjestelmä, joka perustuu metriin ja kilogrammaan. Tämän järjestelmän voidaan sanoa olevan nykyisin käytössä olevan SI-mittayksikköjärjestelmän alku
4 Metrisopimus 1875 Alueelliset metrologiaorganisaatiot Metrisopimus: SI yksikköjärjestelmän perusta Yksiköiden määritelmät: Yleinen paino- ja mittakonferenssi Toimeenpaneva elin: Kansainvälinen paino- ja mittakomitea (CIPM) Ohjaa BIPM:n toimintaa, päättää avainvertailuista Neuvoa-antavat komiteat (CC; suurealueille, SI-yksiköille) Avainvertailujen ja tutkimuksen koordinointi Kansainvälinen mitta- ja painotoimisto (BIPM, Bureau International des Poids et Mesures) Tehtävät: eräiden yksiköiden realisointi (kilogramma), tutkimus, vertailut Avainvertailut Jäljitettävyys
5 MIKES-Metrologia, VTT SI-perusyksiköt Toteuttaa SI-järjestelmän mittayksiköt Suomessa Metrologian tutkimus, mittausmenetelmien kehitys teollisuuden tarpeisiin Kansainvälinen yhteistyö Kalibrointi-, koulutus- ja asiantuntijapalvelut SI-yksiköiden määritelmät Sekunti (s) Sekunti on kertaa sellaisen säteilyn jakson aika, joka vastaa cesium 133-atomin siirtymää perustilan ylihienorakenteen kahden energiatason välillä (E=hf) Metri (m) Metri on sellaisen matkan pituus, jonka valo kulkee tyhjiössä 1/ sekunnissa. Kilogramma (kg) Kilogramma on yhtäsuuri kuin kansainvälisen kilogramman prototyypin massa (1889). (BIPM-puhdistuksen jälkeen) SI-järjestelmän perussuureet Ampeeri (A) Ampeeri on ajallisesti muuttumaton sähkövirta, joka kulkiessaan kahdessa suorassa samansuuntaisessa, äärettömän pitkässä johtimessa, jotka ovat 1 metrin etäisyydellä toisistaan tyhjiössä, aikaansaa johtimien välillä Newtonin voiman johtimen metriä kohti. Kelvin (K) Kelvin on 1/273,16 veden kolmoispisteen lämpötilasta.
6 SI-järjestelmän perussuureet Mooli (mol) Mooli on sellaisen systeemin ainemäärä, joka sisältää yhtä monta perusosasta kuin 0,012 kg:ssa C 12 :a on atomeja. Moolia käytettäessä perusosaset on yksilöitävä ja ne voivat olla atomeja, molekyylejä, ioneja, elektroneja, muita hiukkasia tai hiukkasten määriteltyjä ryhmiä. [Avogadron vakio N A = (6, ± 0, ) mol 1 ]. Kandela (cd) Kandela on sellaisen valonlähteen valovoima tiettyyn suuntaan, joka säteilee monokromaattista säteilyä Hz:n taajuudella ja jonka säteilyintensiteetti tähän suuntaan on 1/683 W/steradiaani. Johdannaisyksiköt, joilla erityisnimi Suure Nimi Yksikkö Selitys Taajuus hertsi Hz Hz = s -1 Voima newton N N = kg m/s 2 Paine, jännitys pascal Pa Pa = N/m 2 Energia, työ joule J J = N m Teho watti W W = J/s Sähkövaraus coulombi C C = A s Jännite voltti V V = W/A Kapasitanssi faradi F F = A s/v Resistanssi ohmi = V/A Konduktanssi siemens S S = -1 Magneettivuo weber Wb Wb = V s Magneettivuon tiheys tesla T T = Wb/m 2 Induktanssi henry H H = V s/a Valovirta luumen lm lm = cd sr Valaistusvoimakkuus luksi lx lx = lm/m 2 Aktiivisuus becquerel Bq Bq = s -1 Absorboitunut annos gray Gy Gy = J/Kg SI-etuliitteet Realisoinnit: Sekunti (s) Nimi Tunnus Kerroin jotta Y tsetta Z eksa E peta P tera T giga G 10 9 mega M 10 6 kilo k 10 3 hehto h 10 2 deka da 10 1 Nimi Tunnus Kerroin jokto y tsepto z atto a femto f piko p nano n 10-9 mikro 10-6 milli m 10-3 sentti c 10-2 desi d 10-1 Sekunti on kertaa sellaisen säteilyn jakson aika, joka vastaa cesium 133-atomin siirtymää perustilan ylihienorakenteen kahden energiatason välillä Voidaan realisoida määritelmänsä mukaan. Tarkin suure: Cesium -atomikello, epävarmuus ~10-13 Cesium fountain -atomikello, epävarmuus ~ Käytetään mm. useiden muiden perussuureiden realisoinnissa. Atomikelloihin palataan taajuuslaskureiden yhteydessä
7 Metri (m) Metri on sellaisen matkan pituus, jonka valo kulkee tyhjiössä 1/ sekunnissa. Voidaan realisoida määritelmänsä mukaan. Valonnopeus on määritelty vakioksi realisointi: 1. Matkana, jonka sähkömagneettinen tasoaalto kulkee tyhjiössä ajassa t. 2. Taajuudella f olevan sähkömagneettisen tasoaallon tyhjiöaallonpituuden avulla. 3. CIPM:n (Comité Internationales des Poids et Mesures) suosituksen mukaisen sähkömagneettisen säteilyn tyhjiöaallonpituuden avulla. Menetelmiä 2 ja 3 käytetään pituusmetrologiassa. Metri (m) Metrin realisoinnissa käytettävän sähkömagneettisen säteilyn aallonpituus on valon (yleensä näkyvän) alueella (esim. 633 nm) Pituuden mittanormaalin ydin on taajuusstabiloitu laser, jonka taajuus ja näin myös tyhjiöaallonpituus tunnetaan tarkasti. Taajuusstabiloidun laserin taajuus täytyy määrittää Csatomikelloon verranollisesti. Varsinainen pituusmittaus tehdään interferometrisesti. Metri: Interferometri Pituus aallonpituudesta: interferometri c Mittaus ilmassa: nf n 633 nm Mekaanisten kappaleiden dimensioiden mittauksen epävarmuus m Esimerkki: Michelsonin interferometri L2 Interferenssi Interferometrin eri haaroista heijastuvien (monokromaattisten) aaltojen välinen vaihe riippuu peilien etäisyyserosta säteenjakajaan. Peilin liikkuma matka saadaan laskemalla minimit ja maksimit. l=/4 Albert A. Michelson (Nobel 1907) LASER L 1 DET.
8 Viivamittainterferometri Päätemittainterferometri MIRROR GLASS PLATE CUBE CORNER CC 2 LASER MONITOR LENS BEAM- SPLITTER LINE SCALE SPATIAL FILTER COVER LAMP BEAM SPLITTER CCD CAMERA MIRROR D1 D2 CUBE CORNER LASER FOCUS OF THE MICROSCOPE MOTOR MOVING CUBE CORNER BEAM SPLITTER MIRROR PIEZOS COMPENSATOR PLATE DETECTORS SCREEN MOTOR Kuvat: MIKES REFERENCE FLAT GAUGE BLOCK Kuvat: MIKES Päätemittainterferometri Toiminta: Etsitään valkoisen valon interferenssit (molemmissa pinnoissa) Luetaan näissä kohdissa juovalaskuri ja näytteistetään interferenssisignaali tietokoneelle Karkea pituusmittaus juovien lukumäärastä valkoisen valon interferenssien välillä Tarkka pituus interferenssisignaalien vaihe-erosta D3 D1 N a Reference flat surface D a N b Gauge block surface D b L=[rnd(N b +D b -N a -D a )+] (N i, D i and in fringes) Kuva: MIKES Metri: Taajuusstabiloitu laser Taajuustabiloitu laser = optinen kello Toissijainen taajuusnormaali Lukitaan stabiiliin spektriviivaan (metaani, jodi, rubidium) Epävarmuus tavallisesti n. ~ f 1 y (2, ) f 0 SNR 1 Jodistabiloitu 633 nm He-Ne laser f f 0 1 f MHz 500 THz 1 9 Laser Absorption cell 3 f 210 LOCK-IN AMPLIFIER PI
9 Metri: Taajuusstabiloitu laser Stabiloituja lasereita tarvitaan myös: Tietoliikennetekniikassa Atomioptiikan ja fysiikan kokeissa Taajuus määritettävä Cs-atomikelloon Metri: Optinen taajuusmittaus Ongelma: optista taajuutta ~500 THz verrattava atomikelloon, jonka taajuus ~10 GHz Teknisesti vaikeaa: ~16 oktaavin taajuusväli Sähköinen toteutus mahdoton Menetelmät Vaihekoherentit taajuusketjut Useita vaihekoherentisti linkitettyjä kertoja -asteita Perinteinen menetelmä Optiset taajuuskammat Moodilukittu pulssilaser Kuva: A. Madej, International Comb Workshop, BIPM, March 13, Taajuuskampa Idea: pulssijono aikatasossa viivaspektri, jonka viivat ovat toistotaajuuden päässä toisistaan Cs-atomikelloon synkronoidulla taajuudella katkotaan laserin valoa Optiselle alueelle muodostuu viivaspektri, jossa viivojen väli on verrannollinen Cs-kellon taajuuteen f n n f rep Sitä roinan määrää Taajuuskampa Optinen taajuus Cs-kelloon verrannollinen taajuus Taajuuspoikkeama Kuva: D. J. Jones et al., Science 28, 635 (2000). Kuva: D. J. Jones et al., Science 28, 635 (2000).
10 Taajuuskampa Lopputulos: optisia taajuuksia voidaan mitata atomikellon tarkkuudella Toisaalta: optisten kellojen taajuus voidaan siirtää vaihekoherentisti radiotaajuuksille Optisilla kelloilla on periaatteessa atomikelloa parempi suorituskyky ~10-18 epävarmuus saavutettu ytterbiumkellolla NIST:ssa (USA) Kuva: NIST ion group Sekunnin määritelmä Kertaus: Metri Cs-atomikello Metrin määritelmä (c = m/s) Interferometri Pituus Taajuuskampa tai taajuusketju Taajuustabiloitu laser Ympäristömittaukset, ilman taitekerroin ym.
Tervetuloa. Luennot ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
Mittaustekniikan perusteet Luennot ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Luennot Noppa ja tiedotus Pe 14:15-15:45 S4-salissa Tervetuloa TkT Maija Ojanen-Saloranta
LisätiedotTervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
Mittaustekniikan perusteet Luennointi ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-16:00 A-salissa Tervetuloa Doc. Petri Kärhä Mittaustekniikan laboratorio
LisätiedotTervetuloa. Mittausteknikka. Mittaustekniikan perusteet. Mittaustekniikka. Mittaustekniikka
Mittaustekniikan perusteet Mittausteknikka S-08.95 Mittaustekniikan perusteet A S-08.9 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 4:5-6:00 A-salissa Mittauksia käsittelevä tieteenhaara on metrologia. Metrologia sisältää
LisätiedotTervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
Mittaustekniikan perusteet Luennointi ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-16:00 A-salissa Tervetuloa Doc. Petri Kärhä Mittaustekniikan laboratorio
LisätiedotMittaustuloksen esittäminen Virhetarkastelua. Mittalaitetekniikka NYMTES 13 Jussi Hurri syksy 2014
Mittaustuloksen esittäminen Virhetarkastelua Mittalaitetekniikka NYMTES 13 Jussi Hurri syksy 2014 SI järjestelmä Kansainvälinen mittayksikköjärjestelmä Perussuureet ja perusyksiköt Suure Tunnus Yksikkö
LisätiedotJulkaistu Helsingissä 8 päivänä joulukuuta 2014. 1015/2014 Valtioneuvoston asetus. mittayksiköistä. Annettu Helsingissä 4 päivänä joulukuuta 2014
SUOMEN SÄÄDÖSKOKOELMA Julkaistu Helsingissä 8 päivänä joulukuuta 2014 1015/2014 Valtioneuvoston asetus mittayksiköistä Annettu Helsingissä 4 päivänä joulukuuta 2014 Valtioneuvoston päätöksen mukaisesti
LisätiedotSI-järjestelmä uudistuu
SI-järjestelmä uudistuu Virpi Korpelainen VTT MIKES 6.10.2018 VTT beyond the obvious 1 Sisällys SI-järjestelmä Uudistus Miksi? Mitä? Milloin? Uudet määritelmät ja toteutus Kysymyksiä? 6.10.2018 VTT beyond
Lisätiedot1. Fysiikka ja mittaaminen
1. Fysiikka ja mittaaminen 1.1 Fysiikka ja muut luonnontieteet Ihminen on aina pyrkinyt selittämään havaitsemansa ilmiöt Kreikkalaiset filosofit pyrkivät selvittämään ilmiöt pelkästään ajattelemalla Aristoteles
LisätiedotSI-mittayksiköt. Martti Heinonen VTT MIKES. FINAS-päivä National Metrology Institute VTT MIKES
SI-mittayksiköt Martti Heinonen VTT MIKES FINAS-päivä 29.1.2019 National Metrology Institute VTT MIKES SI järjestelmän uudistus astuu voimaan 20.5.2019 National Metrology Institute VTT MIKES Sisältö: -
LisätiedotSTANDARDIEN LYHIN MAHDOLLINEN OPPIMÄÄRÄ
STANDARDIEN LYHIN MAHDOLLINEN OPPIMÄÄRÄ HEI OPISKELIJA! Tämä opas on tehty Hei muistuttamaan opiskelija! standardisoinnin tärkeydestä ja kertomaan Oletko huomannut, että maailma toimii standardien avulla?
LisätiedotYksikkömuunnokset. Pituus, pinta-ala ja tilavuus. Jaana Ohtonen Språkskolan/Kielikoulu Haparanda-Tornio. lördag 8 februari 14
Yksikkömuunnokset Pituus pinta-ala ja tilavuus lördag 8 februari 4 SI-järjestelmän perussuureet ja yksiköt Suure Suureen tunnus Perusyksikkö Yksikön lyhenne Määritelmä Lähde: Mittatekniikan keskus MIKES
LisätiedotMETROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi
METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi SISÄLTÖ Mitä metrologia on Metrisopimus, MIKES Lämpötilan yksikkö kelvin, lämpötila-asteikko ITS-90 Valovoiman yksikkö kandela,
Lisätiedot11915/08 VHK,HKE/tan DG C I A
EUROOPAN UNIONIN NEUVOSTO Bryssel, 9. lokakuuta 2008 (OR. en) 11915/08 Toimielinten välinen asia: 2007/0187 (COD) MI 257 ENT 180 CONSOM 92 CODEC 978 SÄÄDÖKSET JA MUUT VÄLINEET Asia: Neuvoston hyväksymä
LisätiedotMittayksikköjärjestelmät
Mittaustekniikan historia: mittaustekniikan lähtökohta ihmisten luontaisen tietämyksen tarpeet, aluksi etäisyydet, massat, tilavuudet ja aika ulottuu todella kauas menneisyyteen, jopa 3000 vuotta ennen
LisätiedotTämä asiakirja on ainoastaan dokumentointitarkoituksiin. Toimielimet eivät vastaa sen sisällöstä.
1980L0181 FI 27.05.2009 004.001 1 Tämä asiakirja on ainoastaan dokumentointitarkoituksiin. Toimielimet eivät vastaa sen sisällöstä. B NEUVOSTON DIREKTIIVI, annettu 20 päivänä joulukuuta 1979, mittayksikköjä
LisätiedotMittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön lähentäminen ***I
P7_TA(2011)0209 Mittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön lähentäminen ***I Euroopan parlamentin lainsäädäntöpäätöslauselma 11. toukokuuta 2011 ehdotuksesta Euroopan parlamentin ja neuvoston
LisätiedotEUROOPAN YHTEISÖJEN KOMISSIO. Ehdotus EUROOPAN PARLAMENTIN JA NEUVOSTON DIREKTIIVIKSI
EUROOPAN YHTEISÖJEN KOMISSIO Bryssel 27.9.2010 KOM(2010) 507 lopullinen 2010/0260 (COD) C7-0287/10 Ehdotus EUROOPAN PARLAMENTIN JA NEUVOSTON DIREKTIIVIKSI mittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön
LisätiedotMETROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES
METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi SISÄLTÖ Mitä metrologia on Metrologian organisointi Lämpötilan yksikkö kelvin, lämpötila-asteikko ITS-90 Valovoiman yksikkö
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, osa II b, sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö 4. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä
Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, osa II b, sähkösuureet Antti Manninen MIKES TKK, Mittaustekniikan perusteet 22.9.2006 Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Perusyksikkö: ampeeri (A)
LisätiedotOPAS. Kansainvälinen suure- ja yksikköjärjestelmä International System of Quantities and Units
OPAS Kansainvälinen suure- ja yksikköjärjestelmä International System of Quantities and Units Sisällys Esipuhe....3 1 Kansainvälinen mittayksikköjärjestelmä SI...4 2 Suure ja yksikkö....5 3 ISQ-suurejärjestelmä
LisätiedotTekstiilien tutkiminen ja testaus
Tekstiilien tutkiminen ja testaus Yleistä johdatusta tekstiilien tutkimusmenetelmiin elokuu 2006 Riikka Räisänen Helsingin yliopisto Miksi tekstiilejä tutkitaan? Tutkimus (teoreettinen metrologia) Määritykset,
LisätiedotLuento 1. 1 SMG-1100 Piirianalyysi I
SMG-1100 Piirianalyysi I Luento 1 1 SMG-1100 Piirianalyysi I I + II periodi Luennot Harjoitukset ti 8 10 S4 ma 10 12 TB 110 pe 9 10 S4 ti 12 14 TC 161 Risto Mikkonen, SC 312 ti 12 14 SC 163 ke 14 16 SC
LisätiedotElektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus
Elektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus Antti Karjalainen, PRK 30.10.2014 Komponenttien esittelytaktiikka Toiminta, (Teoria), Käyttö jännite, virta, teho, taajuus, impedanssi ja näiden yksiköt:
LisätiedotElektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus
Elektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus Antti Karjalainen, PRK 14.11.2013 Komponenttien esittelytaktiikka Toiminta, (Teoria), Käyttö jännite, virta, teho, taajuus, impedanssi ja näiden yksiköt:
LisätiedotLuento 1 / SMG-1100 Piirianalyysi I Risto Mikkonen
SMG-1100 Piirianalyysi I Luento 1 / 12 1 SMG-1100 Piirianalyysi I Viikot 22-24 (27.5. 14.6.) Luennot Harjoitukset ma, ti, ke, to 16-19 S2 pe 11-14 S2 ti 28.5. ja ke 29.5. SC 105B pe 14.6. SC 105B, SH 311
LisätiedotLähteet. SESKOn yhteystiedot: Särkiniementie HELSINKI puhelin sähköposti verkkosivut
Lähteet Suomenkieliset lähteet SFS-IEC 60050-121 + A1 Sähköteknillinen sanasto. Osa 121: Sähkömagnetismi (1. painos) SFS-EN 60059 IEC-standardimitoitusvirrat (1. painos) SFS-EN 60269-1 Pienjännitevarokkeet.
LisätiedotMITTAUSTEKNIIKAN ERIKOISTUMISOPINNOT (30 op)
MITTAUSTEKNIIKAN ERIKOISTUMISOPINNOT (30 op) 15.1.2014 - Joulukuu 2014 Aikuis- ja täydennyskoulutuspalvelut Linnankatu 6, PL 51, 87101 KAJAANI www.aikopa.fi MITTAUSTEKNIIKAN ERIKOISTUMISOPINNOT Tervetuloa
LisätiedotTutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa
Tutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa Heikki Isotalo Johtaja Metrologia Tutkimus Kvanttimetrologiakolmio (SA) Taajuuskampa (SA) EMMA - piimikromekaniikalla toteutettu voltti CBT- primääri lämpömittari
LisätiedotLuento 1. 1 DEE Piirianalyysi Risto Mikkonen
DEE-11000 Piirianalyysi Luento 1 1 DEE-11000 Piirianalyysi Kesäkurssi, viikot 22-24 (26.5. 13.6.) Luennot Harjoitukset ma, ti, ke to klo 16-19 SE 211 pe klo 11-14 SE 211 (helatorstaina 29.5. ei luentoa),
LisätiedotEUROOPAN PARLAMENTTI
EUROOPAN PARLAMENTTI 2004 Istuntoasiakirja 2009 C6-0425/2008 2007/0187(COD) 20/11/2008 YHTEINEN KANTA Neuvoston 18 päivänä marraskuuta 2008 hyväksymä yhteinen kanta Euroopan parlamentin ja neuvoston asetuksen
LisätiedotKellot ja signaalilähteet
Mittaustekniikan perusteet / luento 10 Kellot ja signaalilähteet Määritellään kello Kello = Oskillaattori + Laskuri Figure: Pierre Dube, NRC (Canada) Heiluri > Kideoskillaattori > Optinen kello (taajuusstabiloitu
LisätiedotPYP I / TEEMA 4 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS
1 PYP I / TEEMA 4 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS Aki Sorsa 2 SISÄLTÖ YLEISTÄ Mitattavuus ja mittaus käsitteinä Mittauksen vaiheet Mittaustarkkuudesta SUUREIDEN MITTAUSMENETELMIÄ Mittalaitteen osat Lämpötilan
LisätiedotPYP I / TEEMA 8 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS
1 PYP I / TEEMA 8 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS Aki Sorsa 2 SISÄLTÖ YLEISTÄ Mitattavuus ja mittaus käsitteinä Mittauksen vaiheet Mittausprojekti Mittaustarkkuudesta SUUREIDEN MITTAUSMENETELMIÄ Mittalaitteen
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, sähkösuureet. Antti Manninen MIKES 10.10.2008
Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, sähkösuureet Antti Manninen MIKES 10.10.2008 Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Perusyksikkö: ampeeri (A) Ampeeri on ajallisesti muuttumaton sähkövirta,
LisätiedotKellot, taajuuslähteet. Kellot, taajuuslähteet. Mittaustekniikan perusteet / luento 6 Perusmittalaitteet 4. Kideoskillaattorit
Mittaustekniikan perusteet / luento 6 Perusmittalaitteet 4 Kellot, taajuuslähteet Kellon (taajuuslähteen) epävarmuus riippuu käytetystä referenssistä Taajuusreferenssejä: Kvartsikiteet Mekaaninen värähtelijä
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet: sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä
TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet: sähkösuureet Antti Manninen MIKES-metrologia, VTT Aalto, Mittaustekniikan perusteet
LisätiedotDEE-11110: SÄHKÖTEKNIIKAN PERUSTEET
DEE-11110: SÄHKÖTEKNIIKAN PERUSTEET Kurssin esittely Sähkömagneettiset ilmiöt varaus sähkökenttä magneettikenttä sähkömagneettinen induktio virta potentiaali ja jännite sähkömagneettinen energia teho Määritellään
LisätiedotELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2015)
ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2015) Henrik Wallén Luentoviiko 1 / versio 8. syyskuuta 2015 Johdanto (ti) Merkinnät ja yksiköt Kenttä- ja lähdesuureet Maxwellin yhtälöt ja väliaineyhtälöt Aallot ja osoittimet
LisätiedotSähköiset perussuureet. 1 DEE Piirianalyysi Risto Mikkonen
DEE-11000 Piirianalyysi Sähköiset perussuureet 1 DEE-11000 Piirianalyysi kevät 2016 ; III + IV periodi Luennot, III periodi Ma 10 12 S1 Ti 14 15 S4 Luennot, IV periodi Ma 10 12 S1 Harjoitukset, III + IV
LisätiedotUusi SI-järjestelmä toteuttaa Maxwellin unelman. Antti Manninen. liikkeestä tai massasta, vaan pilaantumattomien,
Uusi SI-järjestelmä toteuttaa Maxwellin unelman Antti Manninen Tämän vuoden tammikuussa kanadalaistutkijat raportoivat hätkähdyttävän tieteellisen tuloksen: he olivat määrittäneet Planckin vakion arvon
LisätiedotFysiikan perusteet. SI-järjestelmä. Antti Haarto 21.05.2012. www.turkuamk.fi
Fysiikan perusteet SI-järjestelmä Antti Haarto 21.05.2012 Fysiikka ja muut luonnontieteet Ihminen on aina pyrkinyt selittämään havaitsemansa ilmiöt Kreikkalaiset filosofit pyrkivät selvittämään ilmiöt
Lisätiedot- ultraviolettisäteilyn (UV) - näkyvän alueen (visible) - infrapuna-alueen (IR)
86 Opettele jako: - Gammasäteet (Gamma rays) - Röntgensäteet (X-rays) - Ultravioletti (Ultraviolet) - Näkyvä (Visible) - Infrapuna-alue (Infrared) - Mikroaaltoalue (Microwave) - Radioaallot 87 Valo-opissa
LisätiedotCoulombin laki. Sähkökentän E voimakkuus E = F q
Coulombin laki Kahden pistemäisen varatun hiukkasen välinen sähköinen voima F on suoraan verrannollinen varausten Q 1 ja Q 2 tuloon ja kääntäen verrannollinen etäisyyden r neliöön F = k Q 1Q 2 r 2, k =
LisätiedotOngelmia mittauksissa Ulkoiset häiriöt
Ongelmia mittauksissa Ulkoiset häiriöt Häiriöt peittävät mitattavia signaaleja Häriölähteitä: Sähköverkko 240 V, 50 Hz Moottorit Kytkimet Releet, muuntajat Virtalähteet Loisteputkivalaisimet Kännykät Radiolähettimet,
LisätiedotMagneettikenttä. Liikkuva sähkövaraus saa aikaan ympärilleen sähkökentän lisäksi myös magneettikentän
3. MAGNEETTIKENTTÄ Magneettikenttä Liikkuva sähkövaraus saa aikaan ympärilleen sähkökentän lisäksi myös magneettikentän Havaittuja magneettisia perusilmiöitä: Riippumatta magneetin muodosta, sillä on aina
Lisätiedot25 INTERFEROMETRI 25.1 Johdanto
5 INTERFEROMETRI 5.1 Johdanto Interferometrin toiminta perustuu valon interferenssiin. Interferenssillä tarkoitetaan kahden tai useamman aallon yhdistymistä yhdeksi resultanttiaalloksi. Kuvassa 1 tarkastellaan
LisätiedotMittaustarkkuus ja likiarvolaskennan säännöt
Mittaustarkkuus ja likiarvolaskennan säännöt Mittaustulokset ovat aina likiarvoja, joilla on tietty tarkkuus Kokeellisissa luonnontieteissä käsitellään usein mittaustuloksia. Mittaustulokset ovat aina
Lisätiedot1240eV nm. 410nm. Kun kappaleet saatetaan kontaktiin jännite-ero on yhtä suuri kuin työfunktioiden erotus ΔV =
S-47 ysiikka III (ST) Tentti 88 Maksimiaallonpituus joka irroittaa elektroneja metallista on 4 nm ja vastaava aallonpituus metallille on 8 nm Mikä on näiden metallien välinen jännite-ero? Metallin työfunktio
LisätiedotB sivu 1(6) AMMATTIKORKEAKOULUJEN TEKNIIKAN JA LIIKENTEEN VALINTAKOE
B sivu 1(6) TEHTÄVÄOSA 7.6.2004 AMMATTIKORKEAKOULUJEN TEKNIIKAN JA LIIKENTEEN VALINTAKOE YLEISOHJEITA Tehtävien suoritusaika on 2 h 45 min. Osa 1 (Tekstin ymmärtäminen) Osassa on 12 valintatehtävää. Tämän
LisätiedotWien R-J /home/heikki/cele2008_2010/musta_kappale_approksimaatio Wed Mar 13 15:33:
1.2 T=12000 K 10 2 T=12000 K 1.0 Wien R-J 10 0 Wien R-J B λ (10 15 W/m 3 /sterad) 0.8 0.6 0.4 B λ (10 15 W/m 3 /sterad) 10-2 10-4 10-6 10-8 0.2 10-10 0.0 0 200 400 600 800 1000 nm 10-12 10 0 10 1 10 2
LisätiedotPaikkatietokeskuksen mittanormaalit ja kalibrointitoiminta
Paikkatietokeskuksen mittanormaalit ja kalibrointitoiminta Jorma Jokela ja Mirjam Bilker-Koivula Geodesian ja geodynamiikan osasto Paikkatietokeskus FGI Maanmittauspäivät 27.-28.3.2019 Mittanormaali,
LisätiedotMekaniikan jatkokurssi Fys102
Mekaniikan jatkokurssi Fys102 Syksy 2009 Jukka Maalampi LUENTO 12 Aallot kahdessa ja kolmessa ulottuvuudessa Toistaiseksi on tarkasteltu aaltoja, jotka etenevät yhteen suuntaan. Yleisempiä tapauksia ovat
LisätiedotS-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A Tentti
S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A Tentti 15.12.06 / Kärhä Tehtävät 1-2 käsittelevät luentoja ja ne hyvitetään vuoden 2006 luentokuulustelupisteiden perusteella. Tehtävät 3-5 käsittelevät laboratoriotöitä
LisätiedotMagneettikentät. Haarto & Karhunen. www.turkuamk.fi
Magneettikentät Haarto & Karhunen Magneettikenttä Sähkövaraus aiheuttaa ympärilleen sähkökentän Liikkuva sähkövaraus saa aikaan ympärilleen myös magneettikentän Magneettikenttä aiheuttaa voiman liikkuvaan
LisätiedotDiplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2011 Insinöörivalinnan fysiikan koe 1.6.2011, malliratkaisut
A1 Diplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2011 Täydennä kuhunkin kohtaan yhtälöstä puuttuva suure tai vakio alla olevasta taulukosta. Anna vastauksena kuhunkin kohtaan ainoastaan
LisätiedotFYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT. 1 Johdanto. 2 Teoreettista taustaa
FYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT Työn tavoitteita o Havainnollistaa vaihtovirtapiirien toimintaa o Syventää ymmärtämystä aiheeseen liittyvästä fysiikasta 1 Johdanto Tasavirta oli 1900 luvun alussa kilpaileva
LisätiedotInterferenssi. Luku 35. PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman. Lectures by James Pazun
Luku 35 Interferenssi PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman Lectures by James Pazun Johdanto Interferenssi-ilmiö tapahtuu, kun kaksi aaltoa yhdistyy
LisätiedotKapasitiivinen ja induktiivinen kytkeytyminen
Kapasitiivinen ja induktiivinen kytkeytyminen EMC - Kaapelointi ja kytkeytyminen Kaapelointi merkittävä EMC-ominaisuuksien kannalta yleensä pituudeltaan suurin elektroniikan osa > toimii helposti antennina
LisätiedotLUT, Sähkötekniikan osasto. 1. Ilmassa etenevällä tasoaallolla on sähkökentän voimakkuus z. d) vaihekerroin
SÄHKÖMAGNETISMI LUT, Sähkötekniikan osasto LH5/216 P.I. Ketausta: 1. Ilassa etenevällä tasoaallolla on sähkökentän voiakkuus z t E cos t z Ex,. Aallon taajuus on 2 MHz. Kuvassa 1 on esitetty tasoaallon
LisätiedotKvanttifysiikan perusteet 2017
Kvanttifysiikan perusteet 207 Harjoitus 2: ratkaisut Tehtävä Osoita hyödyntäen Maxwellin yhtälöitä, että tyhjiössä magneettikenttä ja sähkökenttä toteuttavat aaltoyhtälön, missä aallon nopeus on v = c.
LisätiedotMekaniikan jatkokurssi Fys102
Mekaniikan jatkokurssi Fys12 Kevät 21 Jukka Maalampi LUENTO 11 Mekaaninen aaltoliike alto = avaruudessa etenevä järjestäytynyt häiriö. alto altoja on kahdenlaisia: Poikittainen aalto - poikkeamat kohtisuorassa
LisätiedotKvantittuminen. E = hf f on säteilyn taajuus h on Planckin vakio h = 6, Js = 4, evs. Planckin kvanttihypoteesi
Kvantittuminen Planckin kvanttihypoteesi Kappale vastaanottaa ja luovuttaa säteilyä vain tietyn suuruisina energia-annoksina eli kvantteina Kappaleen emittoima säteily ei ole jatkuvaa (kvantittuminen)
LisätiedotSÄHKÖTEKNIIKKA. NTUTAS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri kevät 2015
SÄHKÖTEKNIIKKA NTTAS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri kevät 2015 1. PERSKÄSITTEITÄ 1.1. VIRTAPIIRI Virtapiiri on johtimista ja komponenteista tehty reitti, jossa sähkövirta kulkee. 2 Virtapiirissä on vähintään
LisätiedotELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016)
ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016) Henrik Wallén / versio 15. syyskuuta 2016 Johdanto (Ulaby 1.2 1.3) Merkinnät ja yksiköt Kenttä- ja lähdesuureet Maxwellin yhtälöt ja väliaineyhtälöt Vektorit ja koordinaatistot
Lisätiedota) Piirrä hahmotelma varjostimelle muodostuvan diffraktiokuvion maksimeista 1, 2 ja 3.
Ohjeita: Tee jokainen tehtävä siististi omalle sivulleen/sivuilleen. Merkitse jos tehtävä jatkuu seuraavalle konseptille. Kirjoita ratkaisuihin näkyviin tarvittavat välivaiheet ja perustele lyhyesti käyttämästi
LisätiedotPerusmittalaitteet 2. Yleismittari Taajuuslaskuri
Mittaustekniikan perusteet / luento 4 Perusmittalaitteet 2 Digitaalinen yleismittari Yleisimmin sähkötekniikassa käytetty mittalaite. Yleismittari aajuuslaskuri Huomaa mittareiden toisistaan poikkeaat
LisätiedotInfrapunaspektroskopia
ultravioletti näkyvä valo Infrapunaspektroskopia IHMISEN JA ELINYMPÄ- RISTÖN KEMIAA, KE2 Kertausta sähkömagneettisesta säteilystä Sekä IR-spektroskopia että NMR-spektroskopia käyttävät sähkömagneettista
LisätiedotDiplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2012 Insinöörivalinnan fysiikan koe 30.5.2012, malliratkaisut
A1 Kappale, jonka massa m = 2,1 kg, lähtee liikkeelle levosta paikasta x = 0,0 m pitkin vaakasuoraa alustaa. Kappaleeseen vaikuttaa vaakasuora vetävä voima F, jonka suuruus riippuu paikasta oheisen kuvan
Lisätiedotd sinα Fysiikan laboratoriotyöohje Tietotekniikan koulutusohjelma OAMK Tekniikan yksikkö TYÖ 8: SPEKTROMETRITYÖ I Optinen hila
Fysiikan laboratoriotyöohje Tietotekniikan koulutusohjelma OAMK Tekniikan yksikkö TYÖ 8: SPEKTROMETRITYÖ I Optinen hila Optisessa hilassa on hyvin suuri määrä yhdensuuntaisia, toisistaan yhtä kaukana olevia
LisätiedotMetrologian peruskäsitteet uusissa kansissa
VTT TECHNICAL RESEARCH CENTRE OF FINLAND LTD Centre for Metrology MIKES MIKES METROLOGY Metrologian peruskäsitteet uusissa kansissa 26.1.2017 Sari Saxholm, VTT MIKES Aiheet Mittayksikkökomitea SFS-käsikirja
Lisätiedot2. Pystyasennossa olevaa jousta kuormitettiin erimassaisilla kappaleilla (kuva), jolloin saatiin taulukon mukaiset tulokset.
Fysiikka syksy 2005 1. Nykyinen käsitys Aurinkokunnan rakenteesta syntyi 1600-luvulla pääasiassa tähtitieteellisten havaintojen perusteella. Aineen pienimpien osasten rakennetta sitä vastoin ei pystytä
Lisätiedot11.1 MICHELSONIN INTERFEROMETRI
47 11 INTERFEROMETRIA Edellisessä kappaleessa tarkastelimme interferenssiä. Instrumentti, joka on suunniteltu interferenssikuvion muodostamiseen ja sen tutkimiseen (mittaamiseen) on ns. interferometri.
LisätiedotS-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y - Tentti
S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y - Tentti 15.12.06/Kärhä Merkitse vastauspaperiin laboratoriotöiden suoritusvuosi. 1. Ohessa on 12 väittämää antureista. Ovatko väittämät oikein vai väärin? Oikeasta
LisätiedotDiplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2014 Insinöörivalinnan fysiikan koe 28.5.2014, malliratkaisut
A1 Diplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 014 Insinöörivalinnan fysiikan koe 8.5.014, malliratkaisut Kalle ja Anne tekivät fysikaalisia kokeita liukkaalla vaakasuoralla jäällä.
LisätiedotFysiikka 8. Aine ja säteily
Fysiikka 8 Aine ja säteily Sähkömagneettinen säteily James Clerk Maxwell esitti v. 1864 sähkövarauksen ja sähkövirran sekä sähkö- ja magneettikentän välisiä riippuvuuksia kuvaavan teorian. Maxwellin teorian
LisätiedotSÄHKÖTEKNIIKKA. NBIELS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri syksy 2015
SÄHKÖTEKNIIKKA NBIELS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri syksy 2015 1. PERSKÄSITTEITÄ 1.1. VIRTAPIIRI Virtapiiri on johtimista ja komponenteista tehty reitti, jossa sähkövirta kulkee. 2 Virtapiirissä on vähintään
LisätiedotFYSP101A Laboratoriotöiden perusteet
FYSP101A Laboratoriotöiden perusteet Luennot To 4.9. klo 14 16 FYS1 Ti 9.9. klo 14 16 FYS1 To 11.9. klo 14 15 FYS1 Harjoitustehtäviä FYSP101:n ensimmäisissä laskuharjoituksissa tiistaina 16.9. Kurssin
LisätiedotVIRTAPIIRILASKUT II Tarkastellaan sinimuotoista vaihtojännitettä ja vaihtovirtaa;
VITAPIIIASKUT II Tarkastellaan sinimutista vaihtjännitettä ja vaihtvirtaa; u sin π ft ja i sin π ft sekä vaihtvirtapiiriä, jssa n sarjaan kytkettyinä vastus, käämi ja kndensaattri (-piiri) ulkisen vastuksen
LisätiedotMittaustulosten tilastollinen käsittely
Mittaustulosten tilastollinen käsittely n kertaa toistetun mittauksen tulos lasketaan aritmeettisena keskiarvona n 1 x = x i n i= 1 Mittaustuloksen hajonnasta aiheutuvaa epävarmuutta kuvaa keskiarvon keskivirhe
LisätiedotMuunnokset ja mittayksiköt
Muunnokset ja mittayksiköt 1 a Mitä kymmenen potenssia tarkoittavat etuliitteet m, G ja n? b Mikä on massan (mass) mittayksikkö SI-järjestelmässäa? c Mikä on painon (weight) mittayksikkö SI-järjestelmässä?
LisätiedotSÄHKÖ KÄSITTEENÄ. Yleisnimitys suurelle joukolle ilmiöitä ja käsitteitä:
FY6 SÄHKÖ Tavoitteet Kurssin tavoitteena on, että opiskelija ymmärtää sähköön liittyviä peruskäsitteitä, tutustuu mittaustekniikkaan osaa tehdä sähköopin perusmittauksia sekä rakentaa ja tutkia yksinkertaisia
Lisätiedotkipinäpurkauksena, josta salama on esimerkki.
Sähkö 25 Esineet saavat sähkövarauksen hankauksessa kipinäpurkauksena, josta salama on esimerkki. Hankauksessa esineet voivat varautua sähköisesti. Varaukset syntyvät, koska hankauksessa kappaleesta siirtyy
LisätiedotLuento 2. SMG-2100 Sähkötekniikka Risto Mikkonen
SMG-2100 Sähkötekniikka Luento 2 1 Sähköenergia ja -teho Hetkellinen teho p( t) u( t) i( t) Teho = työ aikayksikköä kohti; [p] = J/s =VC/s = VA = W (watti) Energian kulutus aikavälillä [0 T] W T 0 p( t)
LisätiedotLinssin kuvausyhtälö (ns. ohuen linssin approksimaatio):
Fysiikan laboratorio Työohje 1 / 5 Optiikan perusteet 1. Työn tavoite Työssä tutkitaan valon kulkua linssisysteemeissä ja perehdytään interferenssi-ilmiöön. Tavoitteena on saada perustietämys optiikasta
Lisätiedot1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot
1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot 1.1 Tieteellinen esitystapa Maan ja auringon välinen etäisyys on 1 AU. AU on astronomical unit, joka määritelmänsä mukaan on maan ja auringon välinen keskimääräinen
LisätiedotRadioaktiivisen säteilyn läpitunkevuus. Gammasäteilty.
Fysiikan laboratorio Työohje 1 / 5 Radioaktiivisen säteilyn läpitunkevuus. Gammasäteilty. 1. Työn tavoite Työn tavoitteena on tutustua ionisoivaan sähkömagneettiseen säteilyyn ja tutkia sen absorboitumista
LisätiedotMittausjärjestelmän kalibrointi ja mittausepävarmuus
Mittausjärjestelmän kalibrointi ja mittausepävarmuus Kalibrointi kalibroinnin merkitys kansainvälinen ja kansallinen mittanormaalijärjestelmä kalibroinnin määritelmä mittausjärjestelmän kalibrointivaihtoehdot
LisätiedotEsimerkki 1a. Stubisovituksen (= siirtokaapelisovitus) laskeminen Smithin kartan avulla
Esimerkkejä Smithin kartan soveltamisesta Materiaali liittyy OH3AB:llä keväällä 2007 käytyihin tekniikkamietintöihin. 1.5.2007 oh3htu Esimerkit on tehty käyttäen Smith v 1.91 demo-ohjelmaa. http://www.janson-soft.de/seminare/dh7uaf/smith_v191.zip
Lisätiedot1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot
1 Tieteellinen esitystapa, yksiköt ja dimensiot 1.1 Tieteellinen esitystapa Maan ja auringon välinen etäisyys on 1 AU. AU on astronomical unit, joka määritelmänsä mukaan on maan ja auringon välinen keskimääräinen
LisätiedotELEKTROMAGNEETTISET VOIMAT SAMANSUUNTAISISSA VIRTA- JOHDOISSA
VAASAN YLIOPISTO TEKNILLINEN TIEDEKUNTA SÄHKÖTEKNIIKKA Jussi Sievänen, n86640 Tuomas Yli-Rahnasto, n85769 Markku Taikina-aho, n85766 SATE.2010 Dynaaminen Kenttäteoria ELEKTROMAGNEETTISET VOIMAT SAMANSUUNTAISISSA
LisätiedotSISÄLLYS. N:o 179. Laki. ulkomaalaislain muuttamisesta. Annettu Naantalissa 10 päivänä heinäkuuta 1998
SUOMEN SÄÄDÖSKOKOELMA 2001 Julkaistu Helsingissä 7 päivänä maaliskuuta 2001 N:o 179 188 SISÄLLYS N:o Sivu 179 Laki ulkomaalaislain muuttamisesta... 569 180 Laki ampuma-aselain muuttamisesta... 571 181
Lisätiedot3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 1. Tsunamin synty. 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.
Akustiikan perussuureita, desibelit. 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 1 Tsunamin synty 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 2 1 Tasoaallon synty 3.1.2013
LisätiedotKuva 1. Ohmin lain kytkentäkaavio. DC; 0 6 V.
TYÖ 37. OHMIN LAKI Tehtävä Tutkitaan metallijohtimen päiden välille kytketyn jännitteen ja johtimessa kulkevan sähkövirran välistä riippuvuutta. Todennetaan kokeellisesti Ohmin laki. Välineet Tasajännitelähde
LisätiedotMittausten jäljitettävyysketju
Mittausten jäljitettävyysketju FINAS-päivä 22.1.2013 Sari Saxholm, MIKES @mikes.fi p. 029 5054 432 Mittatekniikan keskus varmistaa kansainvälisesti hyväksytyt mittayksiköt ja pätevyyden arviointipalvelut
LisätiedotTyöturvallisuus fysiikan laboratoriossa
Työturvallisuus fysiikan laboratoriossa Haarto & Karhunen Tulipalo- ja rajähdysvaara Tulta saa käyttää vain jos sitä tarvitaan Lämpöä kehittäviä laitteita ei saa peittää Helposti haihtuvia nesteitä käsitellään
LisätiedotFYSIIKKA (FY91): 9. KURSSI: Kertauskurssi KOE 30.01.2014 VASTAA KUUTEEN (6) TEHTÄVÄÄN!!
FYSIIKKA (FY91): 9. KURSSI: Kertauskurssi KOE 30.01.2014 VASTAA KUUTEEN (6) TEHTÄVÄÄN!! 1. Vastaa, ovatko seuraavat väittämät oikein vai väärin. Perustelua ei tarvitse kirjoittaa. a) Atomi ei voi lähettää
LisätiedotFysiikan perusteet ja pedagogiikka (kertaus)
Fysiikan perusteet ja pedagogiikka (kertaus) 1) MEKANIIKKA Vuorovaikutus vuorovaikutuksessa kaksi kappaletta vaikuttaa toisiinsa ja vaikutukset havaitaan molemmissa kappaleissa samanaikaisesti lajit: kosketus-/etä-
LisätiedotValon diffraktio yhdessä ja kahdessa raossa
Jväslän Ammattioreaoulu, IT-instituutti IXPF24 Fsiia, Kevät 2005, 6 ECTS Opettaja Pasi Repo Valon diffratio hdessä ja ahdessa raossa Laatija - Pasi Vähämartti Vuosiurssi - IST4S1 Teopäivä 2005-2-17 Palautuspäivä
LisätiedotEssee Laserista. Laatija - Pasi Vähämartti. Vuosikurssi - IST4SE
Jyväskylän Ammattikorkeakoulu, IT-instituutti IIZF3010 Sovellettu fysiikka, Syksy 2005, 5 ECTS Opettaja Pasi Repo Essee Laserista Laatija - Pasi Vähämartti Vuosikurssi - IST4SE Sisällysluettelo: 1. Laser
LisätiedotTeoreetikon kuva. maailmankaikkeudesta
Teoreetikon kuva Teoreetikon kuva hiukkasten hiukkasten maailmasta maailmasta ja ja maailmankaikkeudesta maailmankaikkeudesta Jukka Maalampi Fysiikan laitos Jyväskylän yliopisto Lapua 5. 5. 2012 Miten
Lisätiedot