Vastauksia HAPA _ tarjouspyyntöön kohdistuneisiin kysymyksiin

Transkriptio

1 Vastauksia HAPA _ tarjouspyyntöön kohdistuneisiin kysymyksiin Itä-Suomen yliopiston tarjouspyyntö on julkaistu Hilmassa ja aiheeseen liittyvät kysymykset on pyydetty lähettämään mennessä. Ohessa on kysymyksiä liittyen tarjouspyynnössä laitteelta vaadittuihin ominaisuuksiin käyttäen dokumentaation numerointia ja merkintöjä KYSYMYKSET RYHMITELTYNÄ AIHEEN MUKAAN (vastaukset kursiivilla). Hankinnan kohdetta koskeva kysymys: Kysymys 1: Yritys A pystyy tarjoamaan ainoana ICP-MS -valmistajana myös tandem massaspektrometrilaitteistoa (ICP-QQQ) tavanomaisen yksittäiskvadrupolilaitteiston lisäksi. Onko samassa tarjouksessa mahdollista ehdottaa kahta erilaista laitekokonaisuutta? Tarjouspyynnön kohteena on ICP-MS-laite. Muun tyyppisiä laitteita ei oteta huomioon valintaa tehtäessä. Huolto koulutus ja tekninen tuki: Kysymys 10: (Tarjouspyynnön sivu 5/5, Kohta 3) Koulutus, huolto ja tekninen tuki, max 20 p, mutta selityksessä yhteenlaskettu pistemäärä on vain 10 p (koulutus max 5p ja takuu max 5p). Mistä loput 10 p tulevat? Tässä on todellakin virhe. Huolto ja tekninen tuki ovat jääneet huomioimatta. 10 pistettä jaetaan seuraavasti: huolto saatavissa 2 vrk:ssa 5 p, hitaammin 0 p; tekninen tuki vastaa samana työpäivänä 5 p, 2 päivässä 2,5 p, muutoin 0 p. Reaktiokennoa ja reaktiokaasuja koskevat kysymykset: Kysymys 1: Ominaisuus numero 7 DRC on kauppanimike, jota käyttää vain yksi ICP-MS-laitevalmistaja. Onko mahdollista muuttaa vaatimus muodosta DRC-kennossa muotoon: Kaasukennossa, jolloin useampi laitevalmistaja voi osallistua tarjouskilpailuun? Kysymys 2: Ominaisuus numero 7 Erilaiset kaasut ja kaasuseokset mahdollistavat titaanin, vanadiinin ja seleenin alhaisten pitoisuuksien mittaamisen ICP-MS-laitteilla. 100 % ammoniakki ei ole ainut, eikä paras kaasu kaikkien alkuaineiden analytiikan kannalta. Esimerkiksi vety tai vety-helium-seos mahdollistaa äärimmäisen alhaisen seleenipitoisuuden mittaamisen. Ammoniakkia voidaan esimerkiksi käyttää kaasukennossa menestyksekkäästi seoskaasuna heliumin kanssa puhtaan ammoniakin sijasta. Onko mahdollista muuttaa vaatimus seuraavaan muotoon: Kaasukennossa voidaan käyttää kaasua tai kaasuseosta, mikä mahdollistaa mm. titaanin, vanadiinin ja seleenin hyvin alhaisten pitoisuuksien mittaamisen minimaalisilla häiriöillä. Suositeltava kaasu tai kaasuseos tulee ilmoittaa alkuainekohtaisine havainnointialarajoineen. Kysymys 4: Tarjouspyynnön sisältö Häiriönpoistoa voidaan tehdä monilla eri kaasuilla, joiden teho ja soveltuvuus vaihtelee alkuaineittain ja matriiseittain. Onko mahdollista muuttaa kohta ICP-MS-laitteisto NH3-reaktiokammiolla muotoon ICP- MS-laitteisto reaktiokammiolla, jossa voi käyttää NH3- tai NH3-seoskaasua tai muuta kaasua, joka mahdollistaa mm. titaanin, vanadiinin ja seleenin hyvin alhaisten pitoisuuksien mittaamisen minimaalisilla häiriöillä? Kysymys 2: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 1, ammoniakkikaasun käyttö):

2 Ammoniakkikaasun käyttö häiriöiden poistamisessa on eräs, muttei ainoa eikä yritys A:n asiantuntijoiden mielestä paras tapa kaikissa tapauksissa. Häiriönpoisto ammoniakkikaasulla perustuu kemialliseen reaktioon (ammoniakin reaktio joko häiriön tai itse analyytin kanssa). Joissakin tapauksissa tämä kemiallinen reaktio poistaa häiriön, joissakin tapauksissa ei. Toinen ongelma ammoniakin käytössä liittyy isotooppeihin: ammoniakki luovuttaa helposti vedyn, jolloin esimerkiksi titaanin tapauksessa 48Ti+- ja 47Ti-H+ -ionit näkyvät samalla m/z -luvulla (massa-varaus -suhde). Edellä mainituista syistä kysymmekin, voidaksemme tarjota parasta mahdollista laitekokonaisuutta tarpeeseenne, tarvitaanko häiriönpoistoon nimenomaisesti ammoniakkikaasu-moodia vai arvioidaanko tarjouksia ennenminkin sillä perusteella, miten häiriönpoisto ylipäätään tehdään parhaalla mahdollisella tavalla? Kysymys 4: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 7, 100 % ammoniakin käyttää DRC-kennossa): 100 % ammoniakin käyttö on tietty yksittäinen tekninen toteutustapa häiriöiden poistamisessa, jonka vain yksi valmistaja on valinnut tekniseksi toteutustavakseen, osana laitekokonaisuuttaan. Yritys A:n mukaan 100 % ammoniakin käyttö ei kuitenkaan ole ainoa ratkaisu häiriönpoistoon Ti, V ja Se -analytiikassa, ja muitakin ammoniakin käyttöön perustuvia tapoja on olemassa. Yritys A voi kuitenkin tarjota myös ammoniakin käyttömahdollisuutta törmäyskaasuna siten, että törmäyskaasun koostumus on NH3/He 10/90 til-%. Tällaisen seoksen käyttö on turvallisempaa kuin 100 % NH3:n käytön (korroosioriski + vuotoriski). Jotta yritys A voisi osallistua tarjouskilpailuun, sallitaanko muukin tekninen toteutustapa kuin 100 % ammoniakin käyttö ratkaisuksi parhaaseen mahdolliseen häiriön poistoon Ti, V ja Se-analytiikassa? Jos kyllä, saadaanko tietoon parametrit, joiden mukaan arvioitte häiriön poiston laatua? Virallinen kysymys nro 4: Miksi laitteeseen halutaan käyttää ammoniakkia, jos mainittujen vaikeiden näytteiden analysointi onnistuu helposti ilman sitäkin? Lyhenne DCR ei ole kauppanimi vaan tulee reaktiokennon toimintaperiaatteesta (Dynamic Reaction Cell) (Thomas 2002). Hankittava laite tulee vaativaan tutkimuskäyttöön. Perinteinen törmäyskaasuihin perustuva häiriönpoisto ei kykene poistamaan kaikkia häiriöitä. Tarvitaan siis sellainen sovellus, jossa on mahdollista käyttää häiriönpoistossa hyvin reaktiivisia kaasuja (mm. NH 3) myös korkeina pitoisuuksina jopa 100% ammoniakkikaasua. Kaikki sellaiset kaasu/törmäys/reaktiokennot, joissa häiriönpoisto on mahdollista toteuttaa toimivasti em. tavalla, huomioidaan valintaa tehtäessä. Kaasuseosten käyttäminen rajoittaa reaktiivisen kaasun käytettävissä olevaan maksimikonsentraatiota. Kaikkien reaktiivisten kaasujen (NH 3, H 2, CH 4) myös kaasuseosten ja muiden kaasujen käyttöön liittyy mahdollisia työturvallisuusriskejä, jotka pitää huomioida tiloja, kaasulinjoja ja -kytkentöjä suunniteltaessa. Kysymyksissä yksilöityjen alkuaineiden lisäksi häiriönpoiston tulee olla tehokas myös muilla alkuaineilla ja matriiseilla. Näytteensyöttöä koskevat kysymykset: Virallinen kysymys nro 5: Miksi laitteessa pitää olla Yritys B:n AGD aerosolilaimennin, hyväksyttekö muiden valmistajien aerosoli laimentimet? Lyhenne AGD ei ole kauppanimi vaan yleisesti käytetty lyhenne termeille aerosolikaasulaimennus ja argonkaasulaimennus (Aerosol Gas Dilution, Argon Gas Dilution). Kyseinen lyhenne löytyy useamman ICP- MS-laitevalmistajan materiaaleista. AGD-lyhenteen käyttö tarjouspyynnössä ei rajoita pois sellaisia aerosolikaasulaimentimia, joiden nimessä ei kyseistä kirjainyhdistelmää esiinny. Kysymys 1: Tarjouspyynnössänne on sekä neste/neste-laimennus että aerosolilaimennus. Aiotteko hankkia molemmat vai ovatko ne vaihtoehtoisia? Tarjouspyynnössä on vaadittavana ominaisuuksina sekä aerosolilaimennus että autosamplerin kanssa yhteensopiva venttiilipohjainen looppisysteemi, jota voidaan käyttää hankalien näytteiden laimentamiseen.

3 A Kysymys 3: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 4, aerosolilaimennus argonkaasulla): Arvioitaessa tarjottavan AGD:n (aerosolilaimennus argonkaasulla) laatua, tarvitaanko tietoa myös seuraavista seikoista, tilanteessa jossa laitteen muut kuin AGD:lla tapahtuva laimentaminen ovat pois käytöstä (nestefaasilaimennos) sekä näytetilavuutta ei rajoiteta: - Max. suolakonsentraatio, joka voidaan injesoida ICP-MS -laitteeseen? - Havaitsemisrajat (LOD)? - Max. injesoitavan näytteen tilavuus silloin? A Kysymys 5: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 8, 30 % suolapitoisuuden näytteet): Arvioitaessa laitteistoa 30 % suolapitoisten näytteiden tapauksessa, tarvitaanko tietoa myös seuraavista seikoista: - Havaitsemisrajat (LOD) silloin, kun 30 % suolapitoisia näytteitä? - Max. mahdollinen injesoitavan näytteen tilavuus silloin, kun 30 % suolapitoisia näytteitä? A Kysymys 6: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 9, < 1 ml näytetilavuus): Arvioitaessa laitteen suorituskykyä silloin, kun käytetään < 1 ml näytetilavuutta, tarvitaanko tietoa myös havaitsemisrajasta (LOD)? Kyseisiä tietoja ei vaadita ilmoitettavaksi tarjouksessa. Spesiaatiokittejä koskevat kysymykset: Kysymys 2: Kysymys 9: Pyynnössä mainitaan myös spesiaatiokitit. Tarkoittaako tämä HPLC-laitteistoa ICPMSlaitteistoon liitettäväksi? (Tarjouspyynnön sivu 4/5, Spesiaatiokitit) Mitä spesiaatiokittejä tarkemmin tarkoitetaan? Tarkoitetaanko vain Cr-spesiaatiokittiä? Vai myös muita alkuaineita? Virallinen kysymys nro 2: Haluatteko tarjouksen myös HPLC laitteesta, kun mainitsette spesiaatiokiteistä? Jos laitteen valmistajalla on HF-spesiaatiokitin lisäksi tarjolla myös muihin käyttötarkoituksiin (esim. orgaaniset liuottimet, tietyt alkuaineet, alkuaineiden hapetusluvut tai isotoopit tmv.) erillisiä spesiaatiokittejä, niin tarjouksessa pyydetään kuvailemaan niiden sisältö hintatietoineen. HPLCyhteensopivuus ei ole välttämätön ominaisuus. Käyttökustannuksia koskevat kysymykset: A Kysymys 8: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 11, kaasujen käyttökustannukset): Tarkoitatteko tarvittavien kaasujen taloudellisuudella Ar ja He lisäksi myös NH3:a? Mitä parametreja tarkalleen ottaen pyydätte tarjoukseen liitettävän tämän kohdan arvioimiseksi? Tarjouspyynnössä kaasujen käyttökustannukset-kohdassa tarkoitetaan määrityksissä jatkuvasti tarvittavien argon- ja heliumkaasujen keskimääräistä kulutusta ilmoitettuna työpäivää kohden. Tällöin oletetaan, että laitteella tehdään mittauksia koko työpäivän ajan (8 h). Muiden kaasujen osalta käyttökustannusten arvioimista ei vaadita. Toimitusaikaa ja hintaa koskevat kysymykset: A2 Virallinen kysymys nro 1:

4 8 viikon toimitusaika on todella pitkä. Miksi pisteytyksessä ei anneta lisäpisteitä esimerkiksi 4 viikon toimitusajasta, mikä vastaa tyypillistä toimitusaikaa? Nyt kaikki valmistajat saavat tästä kohdasta varmasti täydet pisteet. 8 viikon toimitusaika on katsottu riittäväksi. Virallinen kysymys nro 2: ICP-MS laitteiden hinta julkisissa hankinnoissa on ollut noin 100,000. Miksi annatte täydet pisteet 150,000 hinnasta, jos voitte saada laitteen halvemmallakin? Tarjouspyynnössä hintarajaa asetettaessa on otettu huomioon pelkän ICP-MS-peruslaitteen lisäksi myös muut eri sovelluksissa tarvittavat komponentit. Nanopartikkelimäärityksiä koskevat kysymykset: Kysymys 3: Ominaisuus numero 10 Tarjouspyynnössä on mainittu seuraavaa: Ohjelmisto säätää automaattisesti kynnysarvon. Onko mahdollista muuttaa kyseinen vaatimus seuraavaan muotoon: Ohjelmistossa käytetään kynnysarvoa? Automaattinen kynnysarvon säädettävyys on erittäin tärkeä ominaisuus, koska muutoin jokaisen näytteen data joudutaan jälkikäteen käsittelemään erikseen taustan asettamiseksi, mikä lisää merkittävästi manuaalista työtä datan käsittelyssä. Kysymys 1: Toiminnalliset ominaisuudet kohta 1 Vertailukriteerinä on määritelty että datapisteitä on pystyttävä keräämään riittävästi nanopartikkelien analytiikkaa varten. Mitä lyhempää mittausaikaa käytetään sitä suuremmaksi muodostuu mittaustulosten hajonta, mikä heikentää suoraan mittausten luotettavuutta. Laimennoskertoimen optimointi on ainoa luotettava tapa varmistaa, että datapisteen keruuseen käytettävän ajan kuluessa mitataan kerrallaan yksittäinen nanopartikkeli. Kriteeri on kirjattu tarjouspyyntöön seuraavasti: Nanomoduuli on tärkeä osa laitteistoa: Laitteella on pystyttävä kahta eri metallia sisältäviä nanopartikkeleita analysoitaessa keräämään riittävästi datapisteitä minuutissa (yli 5 miljoonaa datapistettä 30 p, muutoin 0 p). Onko mahdollista muuttaa yllä mainittu kriteeri muotoon: Laitteella on pystyttävä kahta eri metallia sisältäviä nanopartikkeleita analysoitaessa keräämään riittävästi datapisteitä, jolloin yksittäiset nanopartikkelit ovat mitattavissa. Toivon että arviointikriteereissä kiinnitetään huomiota käsittelyn nopeuteen ja helppouteen siirryttäessä nanopartikkelien mittauksesta kasvi-, vesi- ym liuosnäytteiden mittaukseen ja takaisin (tämä on tärkeää, mikäli laitetta on tarkoitus käyttää eri tyyppisessä analytiikassa). On hyvä tietää millaisia toimenpiteitä ja paljonko aikaa tarvitaan siirryttäessä mittaustavasta toiseen. Lisäksi on hyvä tietää onko nanopartikkelien kromatografisen signaalin käsittely mahdollista integroidusti ICP-MS-laitteiston yhteydessä toimivalla ns. plug-in -ohjelmistolla vai toteutetaanko se täysin erillisellä ohjelmistolla, mikä vaikuttaa käytettävyyteen merkittävästi. A Kysymys 7: (Tarjouspyynnön sivu 3/5 kohta 10, nanomoduuli): Arvioitaessa laitteiston suorituskykyä sellaisten nanopartikkelien analysoinnissa, joissa on useampi kuin yksi eri alkuaine, tarvitaanko tietoa myös laitteistolta kuluvasta ajasta massaluvun vaihtamisessa toiseen? Tästä vaihtamisesta käytetään kirjallisuudessa englanninkielistä termiä "Settling time". Settling time on väistämätön asia kvadrupoli-massaspektrometreissa, sillä kvadrupoli ei voi mitata kuin yhtä massalukua kerrallaan. Kvadrupolilta kuluu aina Settling time -ajan verran ensimmäisen massaluvun vaihtamisessa toiseen massalukuun siten, että kvadrupolin hystereesi vältetään. Settling time -aika myös riippuu siitä, mikä on kahden vaihdettavan massaluvun etäisyys toisistaan. Esimerkiksi analysoitaessa ensin 9Be ja sitten 238U, Settling time - aika voi olla pitempi kuin esimerkiksi analysoitaessa ensin 107Ag ja sitten 109Ag.

5 Monipistekalibrointi nanopartikkelianalyysissa on Yritys A:n asiantuntijoiden mukaan yhden valmistajan spesifinen tapa toteuttaa nanopartikkelien data-analyysi, mutta A:n tietojen mukaan tämän toteutustavan paremmuudesta toisiin toteutustapoihin verrattuna ei ole tieteellistä kirjallisuustietoa. Jotta Yritys A voisi osallistua tarjouskilpailuun, sallitaanko myös muun kuin nimenomaan monipistekalibrointiin perustuvan toteutustavan tarjoaminen, kunhan tämä toinen toteutustapa täyttää mahdollistaa onnistuneen nanopartikkelianalyysin? A2 Virallinen kysymys nro 3: Miksi ehdottomissa vaatimuksissa on minimi dwell time arvoja, koska hitaampikin mittaus riittää ja johtaa parempaan herkkyyteen? Sisältääkö dwell time myös ajan siirryttäessä massalta toiselle (settling time)? Nanopartikkelianalyyseissä riittävä datapisteiden määrä on tärkeää. Nanomoduuli on tärkeä osa laitteistoa, ja lyhyt mittausaika toimii pidempää paremmin yksittäisten nanopartikkelien analysoinnissa. Lyhyt mittausaika (dwell time) parantaa nanohiukkasanalyysin luotettavuutta. Pienten nanohiukkasen aiheuttama signaalipiikin kesto on tyypillisesti muutamia satoja mikrosekunteja ( jolloin dwell time arvot, jotka ovat selkeästi alle 100 mikrosekuntia antavat huomattavan edun nanohiukkasanalyysissä. Laimennuskertoimen optimointi on myös tärkeä ominaisuus, mutta ei yksin riitä. Liian suuri laimennus voi merkittävästi muuttaa kemiallista tasapainoa liuoksessa, mikä voi aiheuttaa merkittävää systemaattista virhettä analyysiin. Lyhyt dwell time mahdollistaa alhaisempien laimennussuhteiden käytön. Tieteellisiä julkaisuja lyhyen dwell timen vaikutuksesta on olemassa (ed. viitteet lisäksi: Bao et al. 2016, Donovan et al. 2016, Merrifield et al 2017). Useampaa alkuainetta sisältävät nanopartikkelit ovat yleisiä ympäristönäytteissä. Mahdollisimman lyhyt dwell time on ehdoton edellytys sellaisten nanopartikkeleiden analysoimiseen. Lisäksi tällöin halutaan molempien kalibrointien olevan voimassa samanaikaisesti. Monipistekalibroinnin mahdollisuus on tutkimuksen kannalta erittäin tärkeä ominaisuus. Nanopartikkeleille mitatun datan siirtäminen ulkopuoliseen ohjelmaan prosessoitavaksi lisää manuaalista työtä, koska taustasäädöt on asetettava tällöin erikseen. Tarve mittaustavasta toiseen siirtymiseen pystytään minimoidaan ryhmittelemällä erilaiset näytteet.