Nanometrologiasta ja eräiden virhelähteiden mallintamisesta
|
|
- Marika Honkanen
- 8 vuotta sitten
- Katselukertoja:
Transkriptio
1 Nanometrologiasta ja eräiden virhelähteiden mallintamisesta J. Seppä S Mittaustekniikan Lisensiaattikurssi Jeremias Seppä
2 Esityksen rakennetta Nanometrologiasta ja nanometrologiasta MIKESissä lyhyesti pari sanaa laskennallisista menetelmistä Kaksi esimerkkiä joissa mallinnetaan, estimoidaan ja poistetaan virhekomponentti mittauksesta Samat teemat kuitenkin toistuvat jonkin verran 2
3 Nanometrologia Eräs määritelmä vapaasti suomennettuna: 1 nm-1 nm mittakaavassa etäisyyksien, kokojen, muotojen mittaaminen = dimensionaalinen nanometrologia Tässäkin esityksessä liikutaan laajemmalla skaalalla,1 µm hilavakioista 1 pm epälineaarisuusvirheeseen mittalaitteita tai kalibroitavia laitteita: Elektronimikroskoopit, atomivoimamikroskoopit(afm), diffraktometrit, puolijohdelitografialaitteet, tarkat valomikroskoopit,.. 3
4 MIKES Seuraavat kalvot kuvaavat MIKESin resursseja ja lähestymistapaa nanometrologiaan. 4
5 MIKES MIKESin metrologia-afm: 12 x 12 x 16 µm liikealue Antaa pinnanmuodon Näytteen liikkeen xyz interferometrinen mittaus Jäljitettävyys laserin aallonpituudesta Näytteen paikan epävarmuus 1 nm luokkaa Diffraktometri Laserin aallonpituus ja diffraktiokulmat Keskimääräinen hilavakio säännöllisestä näytteestä tarkasti 5
6 Pyyhkäisymikroskooppikalibroinnin jäljitettävyysketju SI-metrin määritelmä Metre is the length of the path travelled by light in a vacuum during a time interval of 1/ th of a second Metrin realisointi Femtosekuntitaajuuskampa, Yhdistää metrin ja sekunnin Acoustic damper Jodistabiloidut laserit Freq. doubled I 2 stab. Nd:YAG laser AFM head Scanner stage Laserin taajuuden kalibrointi Beam position CCD camera Beam splitter Laser Interferometrinen AFM Laserdiffraktometri Single mode fiber Microscope objective Screen Rotary table Acoustic damper Fyysisten siirtonormaalien kalibrointi Camera control Rotary table control Angle position Grating e.g. 1D ja 2D hilat, tasomaisuus- ja askelkorkeusnormaalit Measurement program for pitch determination PC Pyyhkäisymikroskoopin (SPM) kalibrointi Jäljitettävät SPM-mittaukset 6
7 Siirtonormaaleja, vertailupartikkeleja 7
8 MIKES M-AFM periaatekuva PC2 AFM PID parameters for Z piezo AFM mode, set point and drive control USB AFM controller Park - Z control - AFM tip mode "AFM mode control.." Measured signals Stepper motors AFM head XYZ scanner stage Optical microsccope X int Y int Stepper motor controller AFM head motor Brake Optical release microscope motor Interferometer Zygo ZMI 2 x y z Interference Counters Phase meters Scanner control Queensgate NPS33 z xy PIDcontrollers Capacitive position sensing DIO bus VME bus DIO bus PC1 Position measurement and control Scan parameters Interferometer data acquisition Linearization XY pos. feedback Topography XYZ Z piezo buffer amplifier Z int Environmental sensors GPIB, RS232 Temperatures, Pressure & RH 8
9 (Laskennalliset menetelmät nanometrologiassa) Esimerkkejä AFM-mittakärjen ja näytemateriaalin vuorovaikutuksen mallinnus molekyylitasolla (esim. Masaru Tsukada) (= voimakkaasti fysikaalinen malli) Käänteisdiffraktio: Hilan parametrien estimointi neuroverkolla diffraktioasteiden intensiteetistä, kun verkko on ensin opetettu lasketuilla (hila,diffraktiokuvio) pareilla (= malli ei ymmärrä fysiikasta mitään (ennen sovitusta)) 9
10 Diffraktio-ongelman kääntämien NN-regressiolla J. Opt. Soc. Am. A/Vol. 19, No. 12/December 22 1
11 Kaksi esimerkkitapausta Molemmissa mallinnetaan ja poistetaan periodinen, toistuva asteikkovirhe 1. Diffraktometrin pyöröpöydän kulma-asteikon itseiskalibrointi 2. Laserinterferometrin periodisen epälineaarisuuden mittaus ja poisto 11
12 Diffraktometrin kulmapöydän itseiskalibrointi Pyöröpöydän asteikossa epäiltiin olevan toistuvaa virhettä Havaittiin myös autokollimaattorilla Ajatus -> mittaamalla saman hilan diffraktiokulmat useassa asennossa pyöröpöydän asteikon suhteen voidaan erottaa kulmapöydän virhe/korjausfunktio, hilan hilavakio, kulmapöydän asentojen absoluuttioffsetit sekä laserin aallonpituus toisistaan. 12
13 Freq. doubled I 2 stab. Nd:YAG laser Beam position CCD camera Beam splitter Single mode fiber Microscope objective Screen Rotary table Camera control Rotary table control Angle position Grating Measurement program for pitch determination PC 13
14 Diffraktometri mλ θ jm = γ j + arcsin + ζ ( θ jm ) θ jm = γ j + kulma m + ζ ( θ jm ) 2np' 14
15 Diffraktometrin pyöröpöydän itseiskalibrointi 3 µm hila mitattiin 16 eri asennossa pyöröpöydän suhteen, kiertäen hilanpidintä suhteessa pöytään n asteen välein 337,5, 22, , 45, 4 292,5 67,5 2 27, 9, Arc Seconds 247,5 112, , 135, 22,5 157,5 18, Angles of measured diffraction orders / Degrees 15
16 Diffraktometrin itseiskalibroinnin mittausmalli 1 p' 1 = JM J, M j, m 1 p arcsin mλ θ jm = γ j + + ζ ( θ 2np' jm jm ) Hilavakion keskimääräinen käänteisarvo Kulmaoffsetti Korjausfunktio (käytettiin palapolynomia) Mitattu absoluuttikulma Teorian mukainen diffraktiokulma Ratkaistaan vapaat muuttujat eli offsetit ja korjaus minimoimalla mallinusvirhe 16
17 Diffraktometrin itseiskalibroinnin mittausmalli 2 Ja edelleen tehtiin malli jossa diffraktiokuvion toistuvalla epäideaalisuudella ja hilavakiolla tai laserin aallonpituudella ei ole väliä: θ = γ + Φ + ζ ( θ jm ) jm j m Uusi vapaa muuttuja, kunkin diffraktiokertaluvun kulma 17
18 Diffraktometri, korjausfunktio Siisti sovitus ja verifiointi autokollimaattorilla Residuals /" Rotary table error / " Angle difference after calibration / " before calibration / " a b Rotary table angle / Rotary table angle / 18
19 Diffraktometrin tarkkuudesta Keskeisen virhelähteen poiston jälkeen: Nominal pitch / nm Diffractometer / nm u c /pm IT-MAFM / nm u c /pm
20 Toinen esimerkki Laserinterferometria on keskeinen menetelmä tarkoissa mittauksissa. Katsotaan ensin interferometriaa ylipäätään ja sitten periodista virhettä. 2
21 Interferometriasta Jaetaan tietyn valonlähteen valo kahdelle reitille, jotka myöhemmin yhdistetään. Toimii tietysti myös radiotaajuuksilla, ääniaalloilla.. Laserinterferometriassa reittien pituuseron muuttuessa syntyy yhdistetystä valosta interferenssisignaali joka toistuu samana aina kun reittien pituusero muuttuu kokonaisen laservalon aallonpituuden verran. Michelson-interferometrin periaate Valonlähde dr I 1 I 2 referenssipeili Detektori d m Mittauspeili Siirtymä / λ d 21
22 Heterodyyni-interferometria Heterodyyni-interferometriassa interferometriassa käytetään laserlähdettä josta saadaan kaksi aallonpituutta, taajuusero esimerkiksi 1 Mhz, keskenään kohtisuorissa polarisaatioissa. Polarisaatioherkillä komponenteilla jaetaan toinen taajuus mittaushaaraan ja toinen referenssihaaraan. Myös taajuudet interferoivat yhdistettäessä, mutta mittauspeilin liike aiheuttaa erotustaajuuteen vaihesiirron.. (tai voidaan ajatella myös dopplersiirtymää toiselle taajuudelle) 22
23 Laser 633nm ± 2MHz Heterodyyni-interferometri 2-pass, differentiaali, esimerkki τ time difference phase FILTER phase φ COMPARATOR FILTER COMPARATOR 2 MHz Measurement signal BS Polarizers Referenssipeili Mittauspeili Differential interferometer (Zygo xxx) 23
24 Periodisen virheen syyt Optiikan epäideaalisuus, ei-toivotut heijastukset, polarisaatiokulmat Vaiheenmittaukseen käytetty menetelmä Mitattu siirtymä / (λ/4) Todellinen siirtymä / (λ/4) 24
25 Kuvat epälineaarisuudesta Kapasitiivisen ja interferometrisen mittauksen erotus 4 cap-int 3. asteen poly residuaali nm nm 25
26 Kuvat epälineaarisuudesta Tasomaisuusnäytteessä näkyy olematonta kuviota (M-AFM) 26
27 Periodisen virheen huomiointi mittauksessa Vaihtoehtoja: 1. Ei huomioida 2. Estimoidaan suuruus ja sisällytetään epävarmuuteen 3. Rakennetaan optiikkajärjestely jossa vähän aiheuttajia 4. Mitataan vakiovaiheessa 5. Mitataan epälineaarisuus niin hyvin että se voidaan vähentää pois 27
28 Laserinterferometrien tarkkuuden parantaminen MIKES osana eurooppalaista metrologiaprojektia Kehitettyjä laserinterferometreja tarkoitus verrata myös englantilaisten röntgeninterferometriin 28
29 Nykyinen testilaitteisto, kaavakuva Laser 633nm ± 2MHz Signal gen MHz FILTER FILTER phase COMPARATOR phase φ COMPARATOR 2 khz τ time difference Frequency counter Computer Measure/Compute phase correction from data Apply correction D->A conv. BS 2 MHz Polarizers Measurement signal Differential interferometer (Zygo xxx) Reference mirror Moving block on piezo stage Piezo voltage Capacitive sensor with guard ring and buffer electronics (G.Picotto) Voltmeter C->V conversion (G.Picotto) Signal gen. e.g. 6kHz 29
30 Valokuva interferometriasetupista 3
31 Manual translator screw Piezo stage <-> Reference mirror Moving block Capacitive senor Buffer (Block grounding wire) 31
32 Pääosa elektroniikasta 32
33 Periodinen epälineaarisuusmalli Ratkaise sovittamalla a,c,s seuraavasta: fringes kapasiivisen sensorin jännitteen polynomi kuvaa lievästi epälineaarisen sensorin pehmeän vasteen ja vähän ajatumista(drift) ϕ ϕ = a + c 1 + c + a v + a 1 cos( 2πϕ) + s1 sin(2πϕ ) +... cos(2π nϕ) s sin(2π nϕ) = korjaamaton interferometrilukema periodeina v = jännitelukema kapasitiiviselta sensorilta 2 v 2 + a n + 3 n v 3 fringes Interferometer reading / fringes c ja s antavat korjausfunktion interferometrin vaiheelle periodin harmonisina. ϕ - e.g. 1 (,v) paria input dataa Correction / nm.4.2 ϕ Phase / 33
34 Linearisoinnin toistuvuus Estimaatit 1 pyyhkäisyn sarjasta Kahdesta kohdasta Tunnin aikaerolla Periodic nonlinearity / pm Difference / pm Difference -1.5 µm µm Periodic nonlinearity / pm Difference / pm t t+1h Interferometer phase / 34
35 Linearisointimenetelmä (2) Voidaan mitata erikseen epälineaarisuus ja sitten käyttää mittauksessa, tai erottaa virhe samasta datasta. Ei riipu siitä, mistä periodinen virhe aiheutuu. Muistuttaa oikeastaan Schmitz et al. /Prec. Eng. 33 (29) Ei tarvitse olla tasavälistä dataa Esimerkki 8 harmonisen amplitudit, arb. yksikkö Epälineaarisuus sisältää lähinnä ensimmäisiä harmonisia 6-8 harmonista käytetty kokeissa
36 Epälineaarisuuden (epä)stabiilius 5 Slower drifting nonlinearity pm -5 one hour intervals pm Faster drifting nonlinearity one hour intervals T+1h 2h 3h 4h Phase / Merkittävä tekijä korjausmenetelmiä suunniteltaessa 36
37 Korjattu ja korjaamaton Kapasitiivisen ja interferometrisen erotus, korjattu ja kormaamaton interferometri a + a v + a v a v c1 cos( 2πϕ ) + s1 sin(2πϕ ) +... c cos(2πnϕ ) + s sin(2πnϕ ) = ϕ n n fg 4 pm nm 37
38 Päätelmiä? Tarkoissa mittauksissa merkitsevien virhelähteiden määrä kasvaa (lämpödriftit, ilmanpaine, periodiset interpolointivirheet ja asteikkovirheet, elektroniikan virheet, tietokoneen käyttämän numeerisen tarkkuuden virheet huonoilla menetelmillä, geometriavirheet, käyttäjän virheet,..) Joskus voidaan yksittäiset virhelähteet erottaa pois tai pienentää niiden vaikutusta. 38
39 Kiitos! 39
Tutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa
Tutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa Heikki Isotalo Johtaja Metrologia Tutkimus Kvanttimetrologiakolmio (SA) Taajuuskampa (SA) EMMA - piimikromekaniikalla toteutettu voltti CBT- primääri lämpömittari
LisätiedotPark systems XE-100 atomivoimamikroskoopin käyttöohje
Tämä käyttöohje on kirjoitettu ESR-projektissa Mikroanturitekniikan osaamisen kehittäminen Itä-Suomen lääninhallitus, 2007, 86268 Park systems XE-100 atomivoimamikroskoopin käyttöohje Mihin laitetta käytetään?
LisätiedotOPTIIKAN TYÖ. Fysiikka 1-2:n/Fysiikan peruskurssien harjoitustyöt (mukautettu lukion oppimäärään) Nimi: Päivämäärä: Assistentti:
Fysiikka 1-2:n/Fysiikan peruskurssien harjoitustyöt (mukautettu lukion oppimäärään) Nimi: Päivämäärä: Assistentti: OPTIIKAN TYÖ Vastaa ensin seuraaviin ennakkotietoja mittaaviin kysymyksiin. 1. Mitä tarkoittavat
LisätiedotAKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY SGS FIMKO OY
K001/M12/2015 Liite 1 / Appendix 1 Sivu / Page 1(17) AKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY SGS FIMKO OY Tunnus Code Laboratorio Laboratory Osoite Address Puh./fax/e-mail/www
LisätiedotSäteilijät - aallonpituusnormaalit Stabiloidut laserit rel. 543,5 nm 5 10-10 λ 0
1/ Säteilijät - aallonpituusnormaalit Stabiloidut laserit 32 nm 1 10-10 λ 0 43, nm 10-10 λ 0 633 nm 1 10-10 λ 0 Pituusmitat Pituuden mittauslaitteet Laser-interferometri 1,0 Peruslaitteisto Kulmapoikkeamien
LisätiedotFYSIIKAN LABORATORIOTYÖT 2 HILA JA PRISMA
FYSIIKAN LABORATORIOTYÖT HILA JA PRISMA MIKKO LAINE 9. toukokuuta 05. Johdanto Tässä työssä muodostamme lasiprisman dispersiokäyrän ja määritämme työn tekijän silmän herkkyysrajan punaiselle valolle. Lisäksi
LisätiedotFysiikan laboratoriotyöt 2, osa 2 ATOMIN SPEKTRI
Fysiikan laitos, kevät 2009 Fysiikan laboratoriotyöt 2, osa 2 ATOMIN SPEKTRI Valon diffraktioon perustuvia hilaspektrometrejä käytetään yleisesti valon aallonpituuden määrittämiseen. Tätä prosessia kutsutaan
Lisätiedot1 db Compression point
Spektrianalysaattori mittaukset 1. Työn tarkoitus Työssä tutustutaan vahvistimen ja mixerin perusmittauksiin ja spektrianalysaattorin toimintaan. 2. Teoriaa RF- vahvistimen ominaisuudet ja käyttäytyminen
LisätiedotAKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY SGS FIMKO OY
K001/M16/2019 Liite 1 / Appendix 1 Sivu / Page 1(19) AKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY SGS FIMKO OY Tunnus Code Laboratorio Laboratory Osoite Address www www K001 SGS
LisätiedotKÄYTTÖOHJE PEL 1000 / PEL 1000-M
V1.0 (19.02.2015) 1 (8) KÄYTTÖÖNOTTO Asennus - Lähetin tulisi asentaa mittauskohdan yläpuolelle kondensoitumisongelmien välttämiseksi. - Kanavan ylipaine mitataan siten, että kanavan mittayhde yhdistetään
LisätiedotTyö 21 Valon käyttäytyminen rajapinnoilla. Työvuoro 40 pari 1
Työ 21 Valon käyttäytyminen rajapinnoilla Työvuoro 40 pari 1 Tero Marttila Joel Pirttimaa TLT 78949E EST 78997S Selostuksen laati Tero Marttila Mittaukset suoritettu 12.11.2012 Selostus palautettu 19.11.2012
LisätiedotAKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY
K022/A15/2015 Liite 1 / Appendix 1 Sivu / Page 1(6) AKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY JYVÄSKYLÄN AMMATTIKORKEAKOULU TEKNOLOGIA KALIBROINTIKESKUS K022 (EN ISO/IEC 17025)
LisätiedotBraggin ehdon mukaan hilatasojen etäisyys (111)-tasoille on
763343A KIINTEÄN AINEEN FYSIIKKA Ratkaisut 2 Kevät 2018 1. Tehtävä: Kuparin kiderakenne on pkk. Käyttäen säteilyä, jonka aallonpituus on 0.1537 nm, havaittiin kuparin (111-heijastus sirontakulman θ arvolla
LisätiedotRadiokurssi. Modulaatiot, arkkitehtuurit, modulaattorit, ilmaisimet ja muut
Radiokurssi Modulaatiot, arkkitehtuurit, modulaattorit, ilmaisimet ja muut Modulaatiot CW/OOK Continous Wave AM Amplitude Modulation FM Frequency Modulation SSB Single Side Band PM Phase Modulation ASK
LisätiedotS-108-2110 OPTIIKKA 1/10 Laboratoriotyö: Polarisaatio POLARISAATIO. Laboratoriotyö
S-108-2110 OPTIIKKA 1/10 POLARISAATIO Laboratoriotyö S-108-2110 OPTIIKKA 2/10 SISÄLLYSLUETTELO 1 Polarisaatio...3 2 Työn suoritus...6 2.1 Työvälineet...6 2.2 Mittaukset...6 2.2.1 Malus:in laki...6 2.2.2
LisätiedotMittausten jäljitettävyysketju
Mittausten jäljitettävyysketju FINAS-päivä 22.1.2013 Sari Saxholm, MIKES @mikes.fi p. 029 5054 432 Mittatekniikan keskus varmistaa kansainvälisesti hyväksytyt mittayksiköt ja pätevyyden arviointipalvelut
LisätiedotTyön tavoitteita. 1 Johdanto
FYSP103 / K2 FRAUNHOFERIN DIFFRAKTIO Työn tavoitteita havainnollistaa valon taipumiseen (diffraktio) ja interferenssiin liittyviä ilmiöitä erilaisissa rakosysteemeissä sekä syventää kyseisten ilmiöiden
Lisätiedotd sinα Fysiikan laboratoriotyöohje Tietotekniikan koulutusohjelma OAMK Tekniikan yksikkö TYÖ 8: SPEKTROMETRITYÖ I Optinen hila
Fysiikan laboratoriotyöohje Tietotekniikan koulutusohjelma OAMK Tekniikan yksikkö TYÖ 8: SPEKTROMETRITYÖ I Optinen hila Optisessa hilassa on hyvin suuri määrä yhdensuuntaisia, toisistaan yhtä kaukana olevia
LisätiedotPaikkatietokeskuksen mittanormaalit ja kalibrointitoiminta
Paikkatietokeskuksen mittanormaalit ja kalibrointitoiminta Jorma Jokela ja Mirjam Bilker-Koivula Geodesian ja geodynamiikan osasto Paikkatietokeskus FGI Maanmittauspäivät 27.-28.3.2019 Mittanormaali,
LisätiedotDiplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2014 Insinöörivalinnan fysiikan koe 28.5.2014, malliratkaisut
A1 Diplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 014 Insinöörivalinnan fysiikan koe 8.5.014, malliratkaisut Kalle ja Anne tekivät fysikaalisia kokeita liukkaalla vaakasuoralla jäällä.
LisätiedotMittaustulosten tilastollinen käsittely
Mittaustulosten tilastollinen käsittely n kertaa toistetun mittauksen tulos lasketaan aritmeettisena keskiarvona n 1 x = x i n i= 1 Mittaustuloksen hajonnasta aiheutuvaa epävarmuutta kuvaa keskiarvon keskivirhe
LisätiedotSIGNAALITEORIAN KERTAUSTA 1
SIGNAALITEORIAN KERTAUSTA 1 1 (26) Fourier-muunnos ja jatkuva spektri Spektri taajuuden funktiona on kompleksiarvoinen funktio, jonka esittäminen graafisesti edellyttää 3D-kuvaajan piirtämisen. Yleensä
LisätiedotHARJOITUS 7 SEISOVAT AALLOT TAVOITE
SEISOVAT AALLOT TAVOITE Tässä harjoituksessa opit käyttämään rakolinjaa. Toteat myös seisovan aallon kuvion kolmella eri kuormalla: oikosuljetulla, sovittamattomalla ja sovitetulla kuormalla. Tämän lisäksi
Lisätiedot1 Vrms 2 Skewness 3 Kurtosis 4 Amax 5 Amin. 11 A4xbf 12 A7xbf 13 A14xbf 14 A1xrotf 15 A2xrotf. 16 A3xrotf 17 A4xrotf 18 A1to4xrotf 19 Vrms10to100
JAVO mittaukset 4..006 -Primaari-ilmapuhallin I - keruutaajuus.56 x khz, kiihtyvyysmittaus - aikasarjan talletus, T 1s, 15 min välein, 500 kertaa 8 6 4 5 7 1 'PA fan 1, motor current' 'PA fan, motor current'
LisätiedotAKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY
K022/M16/2016 Liite 1 / Appendix 1 Sivu / Page 1(6) AKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY JYVÄSKYLÄN AMMATTIKORKEAKOULU TEKNOLOGIA KALIBROINTIKESKUS JAMK UNIVERSITY OF APPLIED
LisätiedotTietoliikennesignaalit & spektri
Tietoliikennesignaalit & spektri 1 Tietoliikenne = informaation siirtoa sähköisiä signaaleja käyttäen. Signaali = vaihteleva jännite (tms.), jonka vaihteluun on sisällytetty informaatiota. Signaalin ominaisuuksia
LisätiedotKondensaattorin läpi kulkeva virta saadaan derivoimalla yhtälöä (2), jolloin saadaan
VAIHTOVIRTAPIIRI 1 Johdanto Vaihtovirtapiirien käsittely perustuu kolmen peruskomponentin, vastuksen (resistanssi R), kelan (induktanssi L) ja kondensaattorin (kapasitanssi C) toimintaan. Tarkastellaan
Lisätiedot9. Polarimetria. tähtitieteessä. 1. Polarisaatio. 2. Stokesin parametrit. 3. Polarisaattorit. 4. CCD polarimetria
9. Polarimetria 1. Polarisaatio tähtitieteessä 2. Stokesin parametrit 3. Polarisaattorit 4. CCD polarimetria 9.1 Polarisaatio tähtitieteessä! Polarisaatiota mittaamalla päästään käsiksi moniin fysikaalisiin
LisätiedotQ = pienin suunniteltu ilmamäärä ja k = puhaltimen tai iirispellin k-arvo.
V1..12(1.1.215) 1 (6) Tämä ohje on tarkoitettu laitteille, joiden ohjelmistoversio on 1..12 tai uudempi. ILMAMÄÄRÄN MITTAUS Ilmamäärä voidaan mitata: 1. Virtausmittausliitännöillä varustetuista puhaltimista.
LisätiedotTyö 2324B 4h. VALON KULKU AINEESSA
TURUN AMMATTIKORKEAKOULU TYÖOHJE 1/5 Työ 2324B 4h. VALON KULKU AINEESSA TYÖN TAVOITE Työssä perehdytään optisiin ilmiöihin tutkimalla valon kulkua linssisysteemeissä ja prismassa. Tavoitteena on saada
LisätiedotFYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT. 1 Johdanto. 2 Teoreettista taustaa
FYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT Työn tavoitteita o Havainnollistaa vaihtovirtapiirien toimintaa o Syventää ymmärtämystä aiheeseen liittyvästä fysiikasta 1 Johdanto Tasavirta oli 1900 luvun alussa kilpaileva
LisätiedotSähköpaja. Kimmo Silvonen (X)
Sähköpaja Kimmo Silvonen (X) Loppusyksyn 2016 ohjelma Ma 28.11. Viimeinen luento Pyydä tarvittaessa pääsyä Pajalle normiaikojen ulkopuolella! Ma 5.12. Paja on auki ainakin klo 12-18 Ti 6.12. Koulu on kiinni
LisätiedotInterferenssi. Luku 35. PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman. Lectures by James Pazun
Luku 35 Interferenssi PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman Lectures by James Pazun Johdanto Interferenssi-ilmiö tapahtuu, kun kaksi aaltoa yhdistyy
Lisätiedot25 INTERFEROMETRI 25.1 Johdanto
5 INTERFEROMETRI 5.1 Johdanto Interferometrin toiminta perustuu valon interferenssiin. Interferenssillä tarkoitetaan kahden tai useamman aallon yhdistymistä yhdeksi resultanttiaalloksi. Kuvassa 1 tarkastellaan
LisätiedotHajautetut vikasietoiset kelloverkot (2500M-0099) Anders Wallin, VTT, MIKES Metrologia. kesto: 2018/ /02 MATINE-rahoitus 100 keur
Hajautetut vikasietoiset kelloverkot (2500M-0099) Anders Wallin, VTT, MIKES Metrologia kesto: 2018/04 2019/02 MATINE-rahoitus 100 keur 21/11/2018 VTT beyond the obvious 1 Toteutus: VTT Yhteistyössä: Aalto
LisätiedotMMEA Measurement, monitoring and environmental assessment
MMEA Measurement, monitoring and environmental assessment D4.5.1.2 Test report Tekijät: Antti Rostedt, Marko Marjamäki Tampereen teknillinen yliopisto Fysiikan laitos PPS-M anturin hiukkaskokovaste Johdanto
LisätiedotTeoreettisen fysiikan esittely
Teoreettisen fysiikan esittely Fysiikan laitos Oulun yliopisto 28.9.2012 Erkki Thuneberg Nämä kalvot on saatavissa osoitteessa http://www.oulu.fi/fysiikka/teoreettinen-fysiikka Sisältö Mitä on teoreettinen
LisätiedotYleistä. Digitaalisen äänenkäsittelyn perusteet. Tentit. Kurssin hyväksytty suoritus = Harjoitustyö 2(2) Harjoitustyö 1(2)
Yleistä Digitaalisen äänenkäsittelyn perusteet Jouni Smed jouni.smed@utu.fi syksy 2006 laajuus: 5 op. (3 ov.) esitiedot: Java-ohjelmoinnin perusteet luennot: keskiviikkoisin 10 12 12 salissa β perjantaisin
LisätiedotTiedonkeruu ja analysointi
Tiedonkeruu ja analysointi ViDRoM Virtual Design of Rotating Machines Raine Viitala ViDRoM Virtual Design of Rotating Machines Mitataan dynaamista käyttäytymistä -> nopeuden funktiona Puhtaat laakerit,
Lisätiedot3D-kuvauksen tekniikat ja sovelluskohteet. Mikael Hornborg
3D-kuvauksen tekniikat ja sovelluskohteet Mikael Hornborg Luennon sisältö 1. Optiset koordinaattimittauskoneet 2. 3D skannerit 3. Sovelluskohteet Johdanto Optiset mittaustekniikat perustuvat valoon ja
Lisätiedot11.1 MICHELSONIN INTERFEROMETRI
47 11 INTERFEROMETRIA Edellisessä kappaleessa tarkastelimme interferenssiä. Instrumentti, joka on suunniteltu interferenssikuvion muodostamiseen ja sen tutkimiseen (mittaamiseen) on ns. interferometri.
LisätiedotHavaitsevan tähtitieteen peruskurssi I
Havaintokohteita 9. Polarimetria Lauri Jetsu Fysiikan laitos Helsingin yliopisto Havaintokohteita Polarimetria Havaintokohteita (kuvat: @phys.org/news, @annesastronomynews.com) Yleiskuvaus: Polarisaatio
LisätiedotPeltorobotin akselimoduulin kontrolleri
Peltorobotin akselimoduulin kontrolleri Automaatio- ja systeemitekniikan projektityöt B.Sc. Joni Rannisto (Mech.) Janne Hafrén (Mech.) Matti Koskinen (Mech.) Esitelmän rakenne 1. Tehtävänanto ja vaatimukset
LisätiedotVALON DIFFRAKTIO YHDESSÄ JA KAHDESSA RAOSSA
1 VALON DIFFRAKTIO YHDESSÄ JA KAHDESSA RAOSSA MOTIVOINTI Tutustutaan laservalon käyttöön aaltooptiikan mittauksissa. Tutkitaan laservalon käyttäytymistä yhden ja kahden kapean raon takana. Määritetään
LisätiedotFYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT. 1 Johdanto
FYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT Työn tavoitteet o Havainnollistaa vaihtovirtapiirien toimintaa o Syventää ymmärtämystä aiheeseen liittyvästä fysiikasta 1 Johdanto Tasavirta oli 1900 luvun alussa kilpaileva
LisätiedotLYTH-CONS CONSISTENCY TRANSMITTER
LYTH-CONS CONSISTENCY TRANSMITTER LYTH-INSTRUMENT OY has generate new consistency transmitter with blade-system to meet high technical requirements in Pulp&Paper industries. Insurmountable advantages are
LisätiedotHavaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, yhteenveto
Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, yhteenveto Luento 23.4.2009, T. Hackman & J. Näränen 1. Yleisesti tärkeätä Peruskäsitteet Mitä havaintomenetelmää kannatta käyttää? Minkälaista teleskooppia millekin
LisätiedotLABORATORIOTYÖ 3 VAIHELUKITTU VAHVISTIN
LABORATORIOTYÖ 3 VAIHELUKITTU VAHVISTIN Päivitetty: 23/01/2009 TP 3-1 3. VAIHELUKITTU VAHVISTIN Työn tavoitteet Työn tavoitteena on oppia vaihelukitun vahvistimen toimintaperiaate ja käyttömahdollisuudet
LisätiedotSisältö. Työn lähtökohta ja tavoitteet Lyhyt kertaus prosessista Käytetyt menetelmät Työn kulku Tulokset Ongelmat ja jatkokehitys
Loppuraportti Sisältö Työn lähtökohta ja tavoitteet Lyhyt kertaus prosessista Käytetyt menetelmät Työn kulku Tulokset Ongelmat ja jatkokehitys Työn lähtökohta ja tavoitteet Voimalaitoskattiloiden tulipesässä
LisätiedotHavaitsevan tähtitieteen peruskurssi I. Datan käsittely. Jyri Lehtinen. kevät Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Datan käsittely Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos kevät 2013 3. Datan käsittely Luennon sisältö: Havaintovirheet tähtitieteessä Korrelaatio Funktion sovitus Aikasarja-analyysi 3.1 Havaintovirheet Satunnaiset
Lisätiedot1. Polarimetria. voidaan tutkia mm. planeettojen ilmakehien ja tähtien välistä pölyä.
Polarimetria Tekijät: Immonen Antti, Nieminen Anni, Partti Jussi, Pylkkänen Kaisa ja Viljakainen Antton Koulut: Mikkelin Lyseon lukio ja Mikkelin Yhteiskoulun lukio Päiväys: 21.11.2008 Lukion oppiaine:
LisätiedotMitä kalibrointitodistus kertoo?
Mitä kalibrointitodistus kertoo? Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin MIKES 21.9.2006 Martti Heinonen Tavoite Laitteen kalibroinnista hyödytään vain jos sen tuloksia käytetään hyväksi.
LisätiedotPERMITTIIVISYYS. 1 Johdanto. 1.1 Tyhjiön permittiivisyyden mittaaminen tasokondensaattorilla . (1) , (2) (3) . (4) Permittiivisyys
PERMITTIIVISYYS 1 Johdanto Tarkastellaan tasokondensaattoria, joka koostuu kahdesta yhdensuuntaisesta metallilevystä Siirretään varausta levystä toiseen, jolloin levyissä on varaukset ja ja levyjen välillä
LisätiedotTilastolliset mallit hakkuukoneen katkonnan ohjauksessa. Tapio Nummi Tampereen yliopisto
Tilastolliset mallit hakkuukoneen katkonnan ohjauksessa Tapio Nummi Tampereen yliopisto Runkokäyrän ennustaminen Jotta runko voitaisiin katkaista optimaalisesti pitäisi koko runko mitata etukäteen. Käytännössä
Lisätiedot10. Polarimetria. 1. Polarisaatio tähtitieteessä. 2. Stokesin parametrit. 3. Polarisaattorit. 4. CCD polarimetria
10. Polarimetria 1. Polarisaatio tähtitieteessä 2. Stokesin parametrit 3. Polarisaattorit 4. CCD polarimetria 10.1 Polarisaatio tähtitieteessä Polarisaatiota mittaamalla päästään käsiksi moniin fysikaalisiin
LisätiedotValon diffraktio yhdessä ja kahdessa raossa
Jväslän Ammattioreaoulu, IT-instituutti IXPF24 Fsiia, Kevät 2005, 6 ECTS Opettaja Pasi Repo Valon diffratio hdessä ja ahdessa raossa Laatija - Pasi Vähämartti Vuosiurssi - IST4S1 Teopäivä 2005-2-17 Palautuspäivä
LisätiedotFYSA230/2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA
FYSA230/2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA 1 JOHDANTO Työssä tutustutaan hila- ja prismaspektrometreihin, joiden avulla tutkitaan valon taipumista hilassa ja taittumista prismassa. Samalla tutustutaan eräiden
LisätiedotTURUN AMMATTIKORKEAKOULU TYÖOHJE 1 TEKNIIKKA FYSIIKAN LABORATORIO V
TURUN AMMATTIKORKAKOUU TYÖOHJ 1 3A. asertyö 1. Työn tarkoitus Työssä perehdytään interferenssi-ilmiöön tutkimalla sitä erilaisissa tilanteissa laservalon avulla. 2. Teoriaa aser on lyhennys sanoista ight
LisätiedotMittalaitetekniikka. NYMTES13 Vaihtosähköpiirit Jussi Hurri syksy 2014
Mittalaitetekniikka NYMTES13 Vaihtosähköpiirit Jussi Hurri syksy 2014 1 1. VAIHTOSÄHKÖ, PERUSKÄSITTEITÄ AC = Alternating current Jatkossa puhutaan vaihtojännitteestä. Yhtä hyvin voitaisiin tarkastella
Lisätiedot35 VALON INTERFERENSSI (Interference)
13 35 VALON INTERFERENSSI (Interference) Edellisissä kappaleissa tutkimme valon heijastumista ja taittumista peileissä ja linsseissä geometrisen optiikan approksimaation avulla. Approksimaatiossa aallonpituutta
LisätiedotAKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY INSPECTA TARKASTUS OY MITTAUSLAITTEET
K004/M35/2015 Liite 1 / Appendix 1 Sivu / Page 1(13) AKKREDITOITU KALIBROINTILABORATORIO ACCREDITED CALIBRATION LABORATORY INSPECTA TARKASTUS OY MITTAUSLAITTEET INSPECTA TARKASTUS OY MEASURING INSTRUMENTS
Lisätiedot11. Astrometria, ultravioletti, lähiinfrapuna
11. Astrometria, ultravioletti, lähiinfrapuna 1. Astrometria 2. Meridiaanikone 3. Suhteellinen astrometria 4. Katalogit 5. Astrometriasatelliitit 6. Ultravioletti 7. Lähi-infrapuna 13.1 Astrometria Taivaan
LisätiedotTiedonkeruu ja analysointi
Tiedonkeruu ja analysointi ViDRoM Virtual Design of Rotating Machines Raine Viitala 30.9.2015 ViDRoM Virtual Design of Rotating Machines Mitataan dynaamista käyttäytymistä -> nopeuden funktiona Puhtaat
LisätiedotWORKING GROUP ON DIMENSIONAL METROLOGY WGDM CCL Length Services Classification (DimVIM)
Consultative Committee for Length WORKING GROUP ON DIMENSIONAL METROLOGY WGDM Length Services Classification (DimVIM) Pituuden neuvoa-antava komitea Dimensiometrologian työryhmä WGDM Pituuden kalibrointipalveluluokitus
LisätiedotKehittyneiden Aaltomuotojen Käytettävyys HF-alueen Tiedonsiirrossa
MATNE Tutkimusseminaari 17.11.2011 Kehittyneiden Aaltomuotojen Käytettävyys HF-alueen Tiedonsiirrossa Markku Jokinen 2 Sisällys Johdanto WARP ohjelmistoradioalusta HF-toteutus lmenneet rajoitukset ohjelmistoradioalustalla
LisätiedotInfrapunalämpömittari CIR350
Infrapunalämpömittari CIR350 Käyttöopas (ver. 1.2) 5/23/2006 Johdanto Injektor solutionsin CIR350 infrapunalämpömittari tarjoaa sinulle laadukkaan laitteen huokeaan hintaan. Tämän laitteen etuja ovat Optiikka
Lisätiedot1 Tietoliikennelaboratorio V0.0. X
1 WCDMA SIGNAALIEN MITTAUKSET 4. Käytettävät välineet Signaalianalysaattori FSIQ 3 Rohde&Schwarz Signaaligeneraattori SMIQ 03 Rohde&Schwarz ZKL-2R5 (etsi speksit) 4.1 Aseta Rohde&Schwarz SMIQ signaali
Lisätiedot9. Polarimetria. Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, Syksy 2017 Thomas Hackman (Kalvot JN, TH, MG & VMP)
9. Polarimetria Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, Syksy 2017 Thomas Hackman (Kalvot JN, TH, MG & VMP) 1 9. Polarimetria 1. Stokesin parametrit 2. Polarisaatio tähtitieteessä 3. Polarisaattorit 4.
LisätiedotPinces AC-virtapihti ampèremetriques pour courant AC
Pinces AC-virtapihti ampèremetriques pour courant AC MN-sarja Serie MN-SARJA Nämä ergonomiset mini-pihdit ovat sunniteltu matalien ja keskisuurien virtojen mittaamiseen välillä 0,01 A ja 240 A AC. Leukojen
LisätiedotTämä on PicoLog Windows ohjelman suomenkielinen pikaohje.
Tämä on PicoLog Windows ohjelman suomenkielinen pikaohje. Asennus: HUOM. Tarkemmat ohjeet ADC-16 englanninkielisessä User Manual issa. Oletetaan että muuntimen kaikki johdot on kytketty anturiin, käyttöjännite
Lisätiedot33 SOLENOIDIN JA TOROIDIN MAGNEETTIKENTTÄ
TYÖOHJE 14.7.2010 JMK, TSU 33 SOLENOIDIN JA TOROIDIN MAGNEETTIKENTTÄ Laitteisto: Kuva 1. Kytkentä solenoidin ja toroidin magneettikenttien mittausta varten. Käytä samaa digitaalista jännitemittaria molempien
LisätiedotTTY Mittausten koekenttä. Käyttö. Sijainti
TTY Mittausten koekenttä Käyttö Tampereen teknillisen yliopiston mittausten koekenttä sijaitsee Tampereen teknillisen yliopiston välittömässä läheisyydessä. Koekenttä koostuu kuudesta pilaripisteestä (
LisätiedotHarjoitustyö 3. Heiluri-vaunusysteemin parametrien estimointi
Aalto-yliopiston perustieteiden korkeakoulu Systeemianalyysin laboratorio Mat-2.4129 Systeemien identifiointi Harjoitustyö 3 Heiluri-vaunusysteemin parametrien estimointi Yleistä Systeemianalyysin laboratoriossa
LisätiedotPitkän kantaman aktiivinen hyperspektraalinen laserkeilaus
Pitkän kantaman aktiivinen hyperspektraalinen laserkeilaus MATINE:n Tutkimusseminaari, 18.11.2015 Helsinki Sanna Kaasalainen, Olli Nevalainen, Teemu Hakala Paikkatietokeskus Sisällys Taustaa Multispektraaliset
LisätiedotMekaniikan jatkokurssi Fys102
Mekaniikan jatkokurssi Fys102 Kevät 2010 Jukka Maalampi LUENTO 6 Yksinkertainen harmoninen liike yhteys ympyräliikkeeseen energia dynamiikka Värähdysliike Knight Ch 14 Heilahtelut pystysuunnassa ja gravitaation
LisätiedotLuento 15: Ääniaallot, osa 2
Luento 15: Ääniaallot, osa 2 Aaltojen interferenssi Doppler Laskettuja esimerkkejä Luennon sisältö Aaltojen interferenssi Doppler Laskettuja esimerkkejä Aaltojen interferenssi Samassa pisteessä vaikuttaa
LisätiedotScanned by CamScanner
Scanned by CamScanner ELEC-C414 Kenttäteoria ESIMERKKIRATKAISUT 2. välikoe: 13.12.216 4. (a) Ominaisimpedanssi (merkitään Z ) on siirtojohdon ominaisuus. Se on siis eri asia kuin tasoaaltojen yhteydessä
Lisätiedoton radan suuntaiseen komponentti eli tangenttikomponentti ja on radan kaarevuuskeskipisteeseen osoittavaan komponentti. (ks. kuva 1).
H E I L U R I T 1) Matemaattinen heiluri = painottoman langan päässä heilahteleva massapiste (ks. kuva1) kuva 1. - heilurin pituus l - tasapainoasema O - ääriasemat A ja B - heilahduskulma - heilahdusaika
LisätiedotAnturit ja Arduino. ELEC-A4010 Sähköpaja Tomi Pulli Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos Mittaustekniikka
Anturit ja Arduino Tomi Pulli Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos Mittaustekniikka Anturit ja Arduino Luennon sisältö 1. Taustaa 2. Antureiden ominaisuudet 3. AD-muunnos 4. Antureiden lukeminen Arduinolla
Lisätiedot4 Optiikka. 4.1 Valon luonne
4 Optiikka 4.1 Valon luonne 1 Valo on etenevää aaltoliikettä, joka syntyy sähkökentän ja magneettikentän yhteisvaikutuksesta. Jos sähkömagneettinen aalto (valoaalto) liikkuu x-akselin suuntaan, värähtelee
Lisätiedot9. Polarimetria. 1. Stokesin parametrit 2. Polarisaatio tähtitieteessä. 3. Polarisaattorit 4. CCD polarimetria
9. Polarimetria 1. Stokesin parametrit 2. Polarisaatio tähtitieteessä 3. Polarisaattorit 4. CCD polarimetria 10.1 Stokesin parametrit 10.1
Lisätiedot83950 Tietoliikennetekniikan työkurssi Monitorointivastaanottimen perusmittaukset
TAMPEREEN TEKNILLINEN KORKEAKOULU 83950 Tietoliikennetekniikan työkurssi Monitorointivastaanottimen perusmittaukset email: ari.asp@tut.fi Huone: TG 212 puh 3115 3811 1. ESISELOSTUS Vastaanottimen yleisiä
LisätiedotKonenäkö - Machine Vision. Yleistä - General
Konenäkö - Machine Vision Yleistä - General Toteutukset -Implementations Valokennot - Light Sensors Väritunnistimet - Color Sensors Laseranturit - Laser Sensors Viivakoodilukijat - Vision based 2D code
LisätiedotLinssin kuvausyhtälö (ns. ohuen linssin approksimaatio):
Fysiikan laboratorio Työohje 1 / 5 Optiikan perusteet 1. Työn tavoite Työssä tutkitaan valon kulkua linssisysteemeissä ja perehdytään interferenssi-ilmiöön. Tavoitteena on saada perustietämys optiikasta
LisätiedotKojemeteorologia. Sami Haapanala syksy 2013. Fysiikan laitos, Ilmakehätieteiden osasto
Kojemeteorologia Sami Haapanala syksy 2013 Fysiikan laitos, Ilmakehätieteiden osasto Mittalaitteiden staattiset ominaisuudet Mittalaitteita kuvaavat tunnusluvut voidaan jakaa kahteen luokkaan Staattisiin
LisätiedotSEISOVA AALTOLIIKE 1. TEORIAA
1 SEISOVA AALTOLIIKE MOTIVOINTI Työssä tutkitaan poikittaista ja pitkittäistä aaltoliikettä pitkässä langassa ja jousessa. Tarkastellaan seisovaa aaltoliikettä. Määritetään aaltoliikkeen etenemisnopeus
LisätiedotOikosulkumoottorikäyttö
Oikosulkumoottorikäyttö 1 DEE-33040 Sähkömoottorikäyttöjen laboratoriotyöt TTY Oikosulkumoottorikäyttö T. Kantell & S. Pettersson 2 Laboratoriomittauksia suorassa verkkokäytössä 2.1 Käynnistysvirtojen
LisätiedotBIOSÄHKÖISET MITTAUKSET
TEKSTIN NIMI sivu 1 / 1 BIOSÄHKÖISET MITTAUKSET ELEKTROENKEFALOGRAFIA EEG Elektroenkegfalografialla tarkoitetaan aivojen sähköisen toiminnan rekisteröintiä. Mittaus tapahtuu tavallisesti ihon pinnalta,
LisätiedotS Sähkön jakelu ja markkinat S Electricity Distribution and Markets
S-18.3153 Sähkön jakelu ja markkinat S-18.3154 Electricity Distribution and Markets Voltage Sag 1) Kolmivaiheinen vastukseton oikosulku tapahtuu 20 kv lähdöllä etäisyydellä 1 km, 3 km, 5 km, 8 km, 10 km
LisätiedotKuva 1. Kaaviokuva mittausjärjestelystä. Laserista L tuleva valonsäde kulkee rakojärjestelmän R läpi ja muodostaa diffraktiokuvion varjostimelle V.
VALON DIFFRAKTIO 1 Johdanto Tässä laboratoriotyössä havainnollistetaan diffraktiota ja interferenssiä valaisemalla kapeita rakoja laservalolla ja tarkastelemalla rakojen takana olevalle varjostimelle syntyviä
LisätiedotValon luonne ja eteneminen. Valo on sähkömagneettista aaltoliikettä, ei tarvitse väliainetta edetäkseen
Valon luonne ja eteneminen Valo on sähkömagneettista aaltoliikettä, ei tarvitse väliainetta edetäkseen 1 Valonlähteitä Perimmiltään valon lähteenä toimii kiihtyvässä liikkeessä olevat sähkövaraukset Kaikki
Lisätiedot1 Johdanto (1) missä 0 on. interferenssi. mittauksen tarkkuudeksi Δ
25B INTERFEROMETRI 1 Johdanto 1.1 Michelsonin interferometri Kuva 1. Michelsonin interferometrin periaate. Michelsoninn interferometrin periaate on esitetty kuvassa 1. Laitteisto koostuu laserista, puoliläpäisevästää
LisätiedotPakettisynkronointitestauksen automaatio
Pakettisynkronointitestauksen automaatio Risto Hietala valvoja: Prof. Riku Jäntti ohjaaja: DI Jonas Lundqvist ESITYKSEN RAKENNE Tietoverkkojen synkronointi Pakettikytkentäisten verkkojen synkronointi Ohjelmistotestaus
Lisätiedots 21.02.2005/BA 1(8) taajuusmuuttajalla
s../ba () MM/MM- taajuusmuuttajalla Micro Master MM-taajuusmuuttajassa on sisäänrakennettu PID-säädin (MM, PI-säädin) jonka avulla voidaan ohjata erilaisia prosessisuureita kuten pinnakorkeuden-, paineen-,
LisätiedotKÄYTTÖOHJE TEHR LU / TEHR-M
V1.0.7 (31.10.2013) 1 (5) YHTEENSOPIVT TUOTTEET TEHR LU TEHR LU-PU TEHR- TEHR--PU TEKNISET TIEOT Käyttöjännite Virrankulutus ittausalue (valitaan jumppereilla) Toiminnot Optiot Lähdöt Tiedonsiirto Tarkkuus
LisätiedotHARJOITUSTYÖ: LabVIEW, Valokennoportti
HARJOITUSTYÖ: LabVIEW, Valokennoportti Tarvittavat laitteet: PC Labview NI USB-6008 tiedonkeruukortti (kuva 1) Vernier Photogate (HSVPG, kuva 2) Smart Pulley Attachment (HSSPA, kuva 2) RJ-11 kaapeli (toinen
LisätiedotPt-100-anturin vertailu: anturin kalibrointi ja kalibrointikertoimen laskeminen
J2/2008 Pt-100-anturin vertailu: anturin kalibrointi ja kalibrointikertoimen laskeminen Loppuraportti Thua Weckström Mittatekniikan keskus Espoo 2008 Julkaisu J2/2008 Pt100-anturin vertailu: kalibrointi
Lisätiedot9. Polarimetria. Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, Kevät 2014 Veli-Matti Pelkonen (Kalvot JN, TH, MG & VMP)
9. Polarimetria Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, Kevät 2014 Veli-Matti Pelkonen (Kalvot JN, TH, MG & VMP) 1 9. Polarimetria 1. Stokesin parametrit 2. Polarisaatio tähtitieteessä 3. Polarisaattorit
LisätiedotHuom. tämä kulma on yhtä suuri kuin ohjauskulman muutos. lasketaan ajoneuvon keskipisteen ympyräkaaren jänteen pituus
AS-84.327 Paikannus- ja navigointimenetelmät Ratkaisut 2.. a) Kun kuvan ajoneuvon kumpaakin pyörää pyöritetään tasaisella nopeudella, ajoneuvon rata on ympyränkaaren segmentin muotoinen. Hitaammin kulkeva
Lisätiedot