ModerniOptiikka. InFotonics Center Joensuu



Samankaltaiset tiedostot
Valonlähteen vaikutus värinäytteiden spektreihin eri mittalaitteilla

Spektroskooppiset menetelmät kiviaineksen laadun tutkimisessa. Lasse Kangas Aalto-yliopisto Yhdyskunta- ja ympäristötekniikka

Nanotieteestä nanoteknologiaan

FOKUKSENA OPTRONIIKKA. Mitä silmä ei näe, siihen tarvitaan optroniikkaa

O S T I E N S I S TIEDETTÄ JA TUTKIMUSTA JOENSUUN YLIOPISTOSTA 2/2006

MAA (4 OP) JOHDANTO VALOKUVAUKSEEN,FOTOGRAM- METRIAAN JA KAUKOKARTOITUKSEEN Kevät 2006

S OPTIIKKA 1/10 Laboratoriotyö: Polarisaatio POLARISAATIO. Laboratoriotyö

Tervetuloa Joensuuhun

LIITE 2. ALTISTUMISRAJA-ARVOT OPTISELLE SÄTEILYLLE

Komposiittien tutkimustoiminta ja tuotekehityspalvelut Suomessa. Rasmus Pinomaa, Muoviteollisuus ry Lujitemuovipäivät

Digitaalinen valmistaminen ja palvelut tulevaisuuden Suomessa

d sinα Fysiikan laboratoriotyöohje Tietotekniikan koulutusohjelma OAMK Tekniikan yksikkö TYÖ 8: SPEKTROMETRITYÖ I Optinen hila

LAATUA ASUINKIINTEISTÖJEN KUITUSISÄVERKKOIHIN

FYSIIKAN LABORATORIOTYÖT 2 HILA JA PRISMA

Refecor Oy. Jyrki Portin. Sensoriverkot Massamarkkinoille Suunnittelun ja valmistuksen haasteita

VALON DIFFRAKTIO YHDESSÄ JA KAHDESSA RAOSSA

Tosi elävä virtuaalimalli Mika Karaila Tutkimuspäällikkö Valmet Automation

Ongelma(t): Miten digitaalista tietoa voidaan toisintaa ja visualisoida? Miten monimutkaista tietoa voidaan toisintaa ja visualisoida?

VÄRISPEKTRIKUVIEN TEHOKAS SIIRTO TIETOVERKOISSA

9. Polarimetria. 1. Stokesin parametrit 2. Polarisaatio tähtitieteessä. 3. Polarisaattorit 4. CCD polarimetria

LIITE I. Epäkoherentti optinen säteily. λ (H eff on merkityksellinen vain välillä nm) (L B on merkityksellinen vain välillä nm)

Mikroskooppisten kohteiden

VALAISTUKSEN VAIKUTUKSET. Mobilia Kangasala

Nanopinnoitetutkimus Suomessa - päivän teemaan sopivia poimintoja

Värinhallinta ja -mittalaitteet. Mikko Nuutinen

Työ 2324B 4h. VALON KULKU AINEESSA

Nanolla paremmaksi lisäarvoa tuotteisiin nanoteknologialla

TIIVISTELMÄRAPORTTI (SUMMARY REPORT)

Leica Sprinter Siitä vain... Paina nappia

LIITE. asiakirjaan. komission delegoitu asetus

Puolustusvoimien teknologiatoiminta

10. Polarimetria. 1. Polarisaatio tähtitieteessä. 2. Stokesin parametrit. 3. Polarisaattorit. 4. CCD polarimetria

6. Värikuvanprosessointi 6.1. Värien periaatteet

ESA (Electrostatic Attraction) - Katsaus ongelmiin ja mahdollisuuksiin. Jaakko Paasi

9. Polarimetria. tähtitieteessä. 1. Polarisaatio. 2. Stokesin parametrit. 3. Polarisaattorit. 4. CCD polarimetria

Optiset vedenlaadun kenttämittaukset

The acquisition of science competencies using ICT real time experiments COMBLAB. Kasvihuoneongelma. Valon ja aineen vuorovaikutus. Liian tavallinen!

Quality. Telatek Quality (TE-Coating Oy) on erikoistunut laadunvarmistukseen ja projektinjohtamiseen. Telatek Quality kuuluu Telatek Groupiin.

REFERENSSIT

Opetuskalvot aiheesta pietsokontrollerit

MASIT18 Simuloinnin ja suunnittelun uudet sovellustavat ja liiketoiminta

Yhteisöllisen tuotekehyksen avoin verkkolaboratorio. Asta Bäck

Fysiikan laboratoriotyöt 2, osa 2 ATOMIN SPEKTRI

ELEC-A4130 Sähkö ja magnetismi (5 op)

REKISTERI- JA TIETOKANTA-AINEISTOJEN SIIRTÄMINEN VAPA-PALVELUUN

4 Optiikka. 4.1 Valon luonne

Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I. Spektroskopia. Jyri Lehtinen. kevät Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos

Pitkän kantaman aktiivinen hyperspektraalinen laserkeilaus

Korkean suorituskyvyn lämpökameran käyttö tulipesämittauksissa. VI Liekkipäivä, Lappeenranta Sami Siikanen, VTT

Ohutlevy- ja jousiosaamista proto tyypistä volyymi tuotantoon OHUTLEVY- JA JOUSITUOTEKUMPPANISI

Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, kevät Luento 2, : Ilmakehän vaikutus havaintoihin Luennoitsija: Jyri Näränen

Loppuraportti Blom Kartta Oy - Hulevesien mallintaminen kaupunkiympäristössä / KiraDIGI

Matemaattinen Analyysi, k2011, L2

Automaattisten ajoneuvojen ja lainsäädännön kehitys - Suomi edistää älykästä liikennettä. Jenni Rantio Teknologia Forum

Digitaalinen signaalinkäsittely Johdanto, näytteistys

13. Värit tietokonegrafiikassa

Aikaerotteinen spektroskopia valokemian tutkimuksessa

Nopeutettu Elinkaaren Määritys. TEKES tutkimusprojekti

Motek messut, Stuttgart

TIE Ohjelmistojen suunnittelu. Luento 2: protot sun muut

100 % hydrauliikkaa Suomesta

MONIPRIMÄÄRINÄYTTÖ. Jari Hintikka. Joensuun Yliopisto. Kandidaatintutkielma

Nanoteknologian tulevaisuuden näkymistä. Erja Turunen Vice President, Applied Materials

Advanced Test Automation for Complex Software-Intensive Systems

7.4 Fotometria CCD kameralla

Projektisuunnitelma ja johdanto AS Automaatio- ja systeemitekniikan projektityöt Paula Sirén

Ultravioletti- ja lasersäteily. Toimittanut Riikka Pastila

Fotoniikan ja konenäkötekniikan sovellukset metsäbiojalostamossa

Koneenrakennuksen ja talonrakennuksen digitaalisten tuoteprosessien vertailu. Seminaariesitelmä , Tampere

Automaatiotekniikka Vaasan Yliopisto

Elektroniikkalajin semifinaalitehtävien kuvaukset

Arvoa palveluista ja teollisesta internetistä. Petri Kinnunen, Ylivieska

SÄHKÖTEKNIIKAN KOULUTUSOHJELMA 2010

FYSA230/2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA

9. Polarimetria. Havaitsevan tähtitieteen peruskurssi I, Syksy 2017 Thomas Hackman (Kalvot JN, TH, MG & VMP)

Tomi Huttunen Kuava Oy Kuopio

TIMI TIETOTEKNIIKAN HYÖTYJEN MITTAAMINEN

Tekniset tiedot. Lamppujen ominaisuudet. Kompromissi eliniän ja kirkkauden välillä

Kojemeteorologia. Sami Haapanala syksy Fysiikan laitos, Ilmakehätieteiden osasto

Tuotantojohtajan opas

MITTAUS JA DIGITOINTI. smartscan M I T T A A E T U S I. AICON 3D Systems yritys

DIGIBONUSTEHTÄVÄ: MPKJ NCC INDUSTRY OY LOPPURAPORTTI

Kuinka selität NANOTEKNIIKKA?

TUTKIMUSRAPORTTI NO. MAT VÄRIN JA KIILLON MITTAAMINEN

Tulevaisuuden teräsrakenteet ja vaativa valmistus. 3D-skannaus ja käänteinen suunnittelu

Teollisuusautomaation standardit Osio 9

Teemat. Vaativien säätösovellusten käyttövarmuus automaation elinkaarimallin näkökulmasta Tampere. Vaativat säätösovellukset

HF-4040 Signaalivoimakkuusmittarin. käyttökoulutus

Oxix L I U E N N E E N H A P E N M I T T A R I BROCHURE FI 5.40 OXIX BROCHURE 1308

S Portaalinosturi AS Projektisuunnitelma Oleg Kovalev

Online DGA mittausteknologiat. Vaisala

Kokeellisen tiedonhankinnan menetelmät

Toiminnallinen testaus

Pv Pvm Aika Kurssin koodi ja nimi Sali Tentti/Vk Viikko

4 Optiikka. 4.1 Valon luonne

Tulevaisuuden tehdas 2020 Petri Laakso, Senior Scientist

Toukokuu 2017 VISION SYSTEMS

MetGen Oy TEKES

Sähkömagneettinen säteily ja sen vuorovaikutusmekanismit

3D-tulostaminen suomalaisissa valmistavan teollisuuden yrityksissä. 3D-raportti 2016

Transkriptio:

ModerniOptiikka InFotonics Center Joensuu

Joensuun Tiedepuistossa sijaitseva InFotonics Center on fotoniikan ja informaatioteknologian yhdistävä kansainvälisen tason tutkimus- ja yrityspalvelukeskus. Osaamisen terävin kärki sijoittuu aalto-optiseen teknologiaan sekä spektriseen väritutkimukseen, joiden alueilla InFotonics Center toimii maailman johtavana tutkimuskeskuksena. Keskuksen tehtävänä on luoda tiivis yhteistyöverkosto alan parhaiden ja tuottavimpien laboratorioiden kanssa sekä toimia siltana yliopiston perustutkimuksen ja tutkimustuloksia hyödyntävän teollisuuden välillä. Aalto-optinen teknologia Diffraktiivisen optiikan sovellukset Diffraktiivisten komponenttien valmistusteknologia Moderni optinen mittaustekniikka Optiset sensorit Spektrinen väritutkimus Tarkka värimittaus Spektritiedon ja -kuvankäsittely Spektrikuvien tiivistysmenetelmät Spektrikuvantamisen ja käsittelyn uudet menetelmät Palveluja korkeanteknologian yrityksille Tutkimusprojektit teollisuuden kanssa Mittauspalvelut Toteutettavuusanalyysi Tuotteistaminen Tutkimus- ja suunnittelutyössä työskennellään nanometreissä mitattavien yksityiskohtien kanssa. Yksi nanometri on millimetrin miljoonasosa.

InFotonics Center palvelee useita eri toimialoja Paperi- ja painoteollisuus Lääketiede Näyttöteollisuus Elintarviketeollisuus Puolustusvälineteollisuus Ilmailu- ja avaruusteollisuus Mobiiliteollisuus Mittalaiteteollisuus Optinen tietoliikenne Kosmetiikkateollisuus Turvallisuusteknologia Kulttuurihistoriallinen dokumentointi Sovelluksia: Aalto-optinen teknologia Säteenjakajat ja -muokkaajat Aaltojohteet Näyttöjen valaisu Optisen tietoliikenteen komponentit Tulevaisuuden sensoriteknologia Turvamerkinnät Heijastamattomat pintarakenteet Dekoratiiviset rakenteet Spektrinen väritutkimus Konenäkö, hahmontunnistussovellukset, neurolaskenta, luokittelu Teollinen laadunvalvonta Näyttölaitteiden värikalibrointi (esim. e-kauppa) Spektrimittalaitteiden ohjelmistot Kulttuuri-historiallisten kohteiden värimittaus Fluoresoivien materiaalien spektrimittaus Hakumenetelmät spektrikuvatietokannoissa Etälääketieteen sovellukset (esim. ihonväri) Elektroniset museot (digitaalinen arkistointi) Ympäristön monitorointi Digitaalinen värikuvien vesileimaus

Aalto-optinen teknologia Aalto-optisen teknologian lähtökohtana on valon aaltoluonne. Tarkka sähkömagneettisen kentän hallinta mahdollistaa monimutkaisten optisten komponenttien valmistamisen mitä erilaisimpiin sovelluksiin. Tyypillisiä esimerkkejä valon kulun hallinnasta mikro- ja nanorakenteilla ovat lasersäteen muokkaaminen, jakaminen tai suuntaaminen. InFotonics Centerin Aalto-optisen osaston palveluprosessi ASIAKAS idea ongelma tarve TOTEUTETTA- VUUSANALYYSI valmistettavuus kustannustehokkuus SUUNNITTELU simulointi optimointi VALMISTUS litografisesti KARAKTERI- SOINTI SEM AFM PROTOTYYPIN VALMISTUS yhteistyössä asiakkaan kanssa testaus MASSAVALMISTUS Aalto-optisen osaston palveluprosessi ulottuu toteutettavuusanalyysistä protoelementin valmistukseen ja testaukseen. Työn lähtökohtana voi olla asiakkaan määrittelemä optinen toiminto tai mittauspalvelu. Toimintaympäristönä puhdastilat: Mikro- ja nanorakenteita tuotettaessa puhutaan mittakaavasta, jossa pölyhiukkanenkin on jättiläinen. Työskentely on mahdollista vain tilassa, jossa ilma on äärimmäisen puhdasta. InFotonics Centerin käytössä on puhdastiloja tällä hetkellä yli 200 m 2. Mikro- tai nanorakenteella voidaan tuottaa valonlähteelle halutunlainen optinen toiminto. Nanokokoluokan tuomat edut: Mikro- ja nanorakenteiden avulla kyetään muokkaamaan valon kulkua. Yhdellä elementillä voidaan toteuttaa useita optisia funktioita. Elementtien pieni koko ja keveys mahdollistavat tehokkaan optiikan pakkaamisen. Minimaalisten, valon aallonpituutta pienempien yksityiskohtien avulla pystytään mm. lisäämään tuoteturvallisuutta. Elektronisädemikroskoopilla (SEM) otetut kuvat binäärisestä, monitasoisesta ja jatkuvasta hilarakenteesta. Mikrorakenteilla tuotettu visuaalinen efekti. Puhdastilaympäristöön on sijoitettu Elektronisädekirjoitin Leica LION LVI Sputteri Reaktiivisia ionietsauslaitteistoja Fotoresistispinneri Elektrolyysilaitteisto Kontaktikopiointilaite Elektronimikroskooppi (SEM) Atomivoimamikroskooppi (AFM) Profilometri Ellipsometri Interferometrinen UV-laservalotin

Spektriväritutkimus Väri on subjektiivinen aistimus aivoissa, eikä näin ole suoraan mitattavissa. Silmään saapuva signaali voidaan määrittää tarkasti sähkömagneettisen spektrin avulla. Kun tiedetään ihmisen näkevän värejä kolmentyyppisten näkösolujen avulla, voidaan silmä mallintaa 3-ulotteiseksi värikoordinaattiesitykseksi, joita ovat esim. RGB, CIE xyy, CIE Lab. Värisignaali Kohteen värin muodostavat kolme perustekijää: valaisu, heijastus tai läpäisy sekä havaitsija. 3-komponenttiesityksessä väri on edellisten tulo, joten yhden tekijän muutos muuttaa myös väriä. Samaan aistimukseen voidaan kuitenkin päästä erilaisilla 3-komponenttiarvoilla. Näin ollen tarkkaan värihallintaan tarvitaan laajempaa spektritietoa. Spektrinen lähestymistapa ja sen edut Spektri on aallonpituuden funktiona mitattu säteilyn määrä. RGB-kuvaa moniulotteisemmassa esityksessä hallitaan mm. valaistuksen muutokset ja kuva voidaan sovittaa samannäköiseksi eri näyttölaitteille. Spektriesitys voidaan muuntaa myös muihin kuin standardivärikoordinaatistoesityksiin. Lisäksi menetelmiä on mahdollista soveltaa näkyvän valon ulkopuolella (UV ja IR). Ihmiselle näkyvä valo sijaitsee UV- ja IR -aallonpituuksien välissä. Kuvassa prisma jakaa valkoisen valon spektriksi. Spektritiedon käsittely Spektrimittauksista saatua tietoa käsitellään laskennallisesti mm. seuraavilla menetelmillä: PCA (Principal Component Analysis) ICA (Independent Component Analysis) ALSM (Average Learning Subspace Method) SOM (Self-Organizing Map) Kohteen tarkin väriesitys saadaan aikaan mittaamalla kohteesta tulevan sähkömagneettisen säteilyn spektri. Mittalaitteita ja materiaalia Spektrofotometrejä Spektrikamera Spektroradiometri Spektrogoniometri Luminesenssispektrometri Kromametrejä UV-mittari Valokaappi UV-lamppuja Standardivalonlähteitä Väristandardeja ja näytteitä Värinäkötesti Värisuotimia Esimerkki spektrikuvan PCA-analyysin laskevasta ohjelmistosta ja värispektristä. Kuvassa keskellä digitaalikameralla otettu kuva. Kuvan vasemmalla puolella R, G ja B komponentit ja oikealla puolella spektrikuvan komponentteja 50 nanometrin välein aallonpituuksilla 400-700 nm.

InFotonics Center Joensuu Joensuun yliopisto PL 111 80101 Joensuu puhelin +358 (0)13 251 5610 fax +358 (0)13 251 7955 info@ifc.joensuu.fi http://ifc.joensuu.fi