Tervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
|
|
- Arto Karvonen
- 7 vuotta sitten
- Katselukertoja:
Transkriptio
1 Mittaustekniikan perusteet Luennointi ja tiedotus S Mittaustekniikan perusteet A S Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-16:00 A-salissa Tervetuloa Doc. Petri Kärhä Mittaustekniikan laboratorio Huone I433 Petri.karha@tkk.fi (451) Ilmoitustaulu (toisessa kerroksessa, kerros riippareista ylöspäin) Sähköposti, ilmoittaudu topilla!! Suorittaminen S Mittaustekniikan perusteet A Laboratoriotyöt (8 kpl) hyväksytysti suoritettu. Tentti määrää arvosanan. Tentissä 5 kysymystä, joista 3 käsittelee laboratoriotöitä ja 2 luentoja. Luentoja käsittelevät kaksi tehtävää voi korvata luentokuulusteluilla. Luentokuulustelupisteet säilyvät seuraavaan syyskuuhun asti. Suorittaminen S Mittaustekniikan perusteet Y Arvosana on tentin arvosana. Tentin voi korvata kokonaan viikoittaisilla luentokuulusteluilla. Läpipääsyyn vaaditaan n. puolet pisteistä Laskuharjoitukset ja laboratoriotyöt (3 kpl) täytyy olla hyväksytysti suoritettu.
2 Luennoilla tutustutaan Mittayksikköjärjestelmään Mittausten keskeisiin termeihin Mittausten epävarmuus- ja luotettavuusnäkökohtiin Tavallisimpiin mittalaitteisiin Mittausten häiriöihin ja rajoituksiin Tärkeimpiin mittausmenetelmiin Tavoitteena on oppia edellämainituista asioista riittävästi eri alojen opintoja varten Materiaali:Luentokalvot, laboratoriotyökirja sekä Pekka Wallinin kirja Sähkömittaustekniikan perusteet. Luentojen aikataulu 15.9 Opintojaksoesittely, SI-Järjestelmä / osa I 22.9 SI-Järjestelmä / osa II, metrologiajärjestelmä 29.9 Perusmittalaitteet I: Oskilloskooppi 6.10 Perusmittalaitteet II: Spektrianalysaattorit Perusmittalaitteet III: Yleismittarit ja taajuuslaskurit Perusmittalaitteet IV: Kellot ja signaalilähteet Ei luentoa 3.11 Mittausepävarmuus Kohina Häiriöt, signaali-kohinasuhteen parantaminen Anturit 2.12 Varalla Harjoitellaan käytännön mittaamista Tutustutaan mittausten teoriaan Oskilloskooppi 2 Yleismittari Taajuuslaskuri Spektrianalysaattori Anturit Häiriöt Kuituoptiset mittaukset Laboratoriotöissä Laboratoriotöiden aikataulu 20.9 Ilmoittautuminen laboratoriotöihin alkaa 22.9 Kirja tulee myyntiin 22.9 Myynti salin ulkopuolella luennon jälkeen 2.10 Laboratoriotyöt alkavat viikolla 40 ja jatkuvat viikolle Y-kurssin laboratoriotyöt tehdään viikoilla Mahdollisista muutoksista ilmoitetaan sähköpostilla
3 Pääassistentit Oppilaslaboratorio A-kurssi: Y-kurssi: Maija Ojanen Huone I443 (451) 2281 Jari Hovila Huone I427 (451) 2336 Mittaustekniikka Mittaustekniikka Mittauksia käsittelevä tieteenhaara on metrologia. Metrologia sisältää kaikki mittauksiin liittyvät teoreettiset ja käytännölliset seikat, tekijät ja näkökohdat riippumatta mittausten epävarmuudesta ja tieteen tai tekniikan alasta. Tekniikka ei ole eksakti tieteenala. Tekniikka on kokeellinen tieteenala, jonka tiedonsaanti on mittausten varassa. Mittausten suorittaminen on tekniikan alalla oleellinen tehtävä.
4 Mittaustekniikka SI-Mittayksikköjärjestelmä Tietopohja Fysiikka, kemia, elektroniikka ja informaatioteoria Mittauslaitteet Mittanormaalit Anturit Mittauselektroniikka Yksikköjärjestelmä = annettujen sääntöjen mukaan tietylle suurejärjestelmälle määritelty perus- ja johdannaisyksiköiden joukko Kansainvälinen SI-mittayksikköjärjestelmä = koherentti mittayksikköjärjestelmä, jonka Yleinen paino- ja mittakonferenssi on omaksunut ja jota se suosittelee käytettävän Mittausten analyysi Mallintaminen virheanalyysi Metrijärjestelmä = mittayksikköjärjestelmä, joka perustuu metriin ja kilogrammaan. Tämän järjestelmän voidaan sanoa olevan nykyisin käytössä olevan SI-mittayksikköjärjestelmän alku Metrisopimus 1875 Metrisopimus: SI yksikköjärjestelmän perusta Yksiköiden määritelmät: Yleinen paino- ja mittakonferenssi Toimeenpaneva elin: Kansainvälinen paino- ja mittakomitea (CIPM) Ohjaa BIPM:n toimintaa, päättää avainvertailuista Neuvoa-antavat komiteat (suurealueille, SI-yksiköille) Avainvertailujen ja tutkimuksen koordinointi Kansainvälinen mitta- ja painotoimisto (BIPM, Bureau International des Poids et Mesures) Tehtävät: eräiden yksiköiden realisointi (kilogramma), tutkimus, vertailut SI-yksiköiden määritelmät Metri (m) Metri on sellaisen matkan pituus, jonka valo kulkee tyhjiössä 1/ sekunnissa. Kilogramma (kg) Kilogramma on yhtäsuuri kuin kansainvälisen kilogramman prototyypin massa (1889). (BIPM-puhdistuksen jälkeen) Sekunti (s) Sekunti on kertaa sellaisen säteilyn jakson aika, joka vastaa cesium 133-atomin siirtymää perustilan ylihienorakenteen kahden energiatason välillä (E=hf)
5 SI-järjestelmän perussuureet Ampeeri (A) Ampeeri on ajallisesti muuttumaton sähkövirta, joka kulkiessaan kahdessa suorassa samansuuntaisessa, äärettömän pitkässä johtimessa, jotka ovat 1 metrin etäisyydellä toisistaan tyhjiössä, aikaansaa johtimien välillä Newtonin voiman johtimen metriä kohti. Kelvin (K) Kelvin on 1/273,16 veden kolmoispisteen lämpötilasta. SI-järjestelmän perussuureet Mooli (mol) Mooli on sellaisen systeemin ainemäärä, joka sisältää yhtä monta perusosasta kuin 0,012 kg:ssa C 12 :a on atomeja. Moolia käytettäessä perusosaset on yksilöitävä ja ne voivat olla atomeja, molekyylejä, ioneja, elektroneja, muita hiukkasia tai hiukkasten määriteltyjä ryhmiä. Kandela (cd) Kandela on sellaisen valonlähteen valovoima tiettyyn suuntaan, joka säteilee monokromaattista säteilyä Hz:n taajuudella ja jonka säteilyintensiteetti tähän suuntaan on 1/683 W/steradiaani. Johdannaisyksiköt, joilla erityisnimi SI-etuliitteet Suure Nimi Yksikkö Selitys Taajuus hertsi Hz Hz = s -1 Voima newton N N = kg m/s 2 Paine, jännitys pascal Pa Pa = N/m 2 Energia, työ joule J J = N m Teho watti W W = J/s Sähkövaraus coulombi C C = A s Jännite voltti V V = W/A Kapasitanssi faradi F F = A s/v Resistanssi ohmi Ω Ω = V/A Konduktanssi siemens S S = Ω -1 Magneettivuo weber Wb Wb = V s Magneettivuon tiheys tesla T T = Wb/m 2 Induktanssi henry H H = V s/a Valovirta luumen lm lm = cd sr Valaistusvoimakkuus luksi lx lx = lm/m 2 Aktiivisuus becquerel Bq Bq = s -1 Absorboitunut annos gray Gy Gy = J/Kg Nimi Tunnus Kerroin jotta Y tsetta Z eksa E peta P tera T giga G 10 9 mega M 10 6 kilo k 10 3 hehto h 10 2 deka da 10 1 Nimi Tunnus Kerroin jokto y tsepto z atto a femto f piko p nano n 10-9 mikro µ 10-6 milli m 10-3 sentti c 10-2 desi d 10-1
6 Realisoinnit: Sekunti (s) Sekunti on kertaa sellaisen säteilyn jakson aika, joka vastaa cesium 133-atomin siirtymää perustilan ylihienorakenteen kahden energiatason välillä Voidaan realisoida määritelmänsä mukaan. Tarkin suure: Cesium -atomikello, epävarmuus ~10-13 Cesium fountain -atomikello, epävarmuus ~ Käytetään mm. useiden muiden perussuureiden realisoinnissa. Atomikelloihin palataan taajuuslaskureiden yhteydessä Metri (m) Metri on sellaisen matkan pituus, jonka valo kulkee tyhjiössä 1/ sekunnissa. Voidaan realisoida määritelmänsä mukaan. Valonnopeus on määritelty vakioksi realisointi: 1. Matkana, jonka sähkömagneettinen tasoaalto kulkee tyhjiössä ajassa t. 2. Taajuudella f olevan sähkömagneettisen tasoaallon tyhjiöaallonpituuden avulla. 3. CIPM:n (Comité Internationales des Poids et Mesures) suosituksen mukaisen sähkömagneettisen säteilyn tyhjiöaallonpituuden avulla. Menetelmiä 2 ja 3 käytetään pituusmetrologiassa. Metri (m) Metrin realisoinnissa käytettävän sähkömagneettisen säteilyn aallonpituus on valon (yleensä näkyvän) alueella (esim. 633 nm) Pituuden mittanormaalin ydin on taajuusstabiloitu laser, jonka taajuus ja näin myös tyhjiöaallonpituus tunnetaan tarkasti. Taajuusstabiloidun laserin taajuus täytyy määrittää Csatomikelloon verranollisesti. Varsinainen pituusmittaus tehdään interferometrisesti. Metri: Interferometri Pituus aallonpituudesta: interferometri c Mittaus ilmassa: λ = n 633 nm nf Mekaanisten kappaleiden dimensioiden mittauksen epävarmuus m Esimerkki: Michelsonin interferometri Albert A. Michelson (Nobel 1907) LASER L2 L 1 DET.
7 Interferenssi Päätemittainterferometri Interferometrin eri haaroista heijastuvien (monokromaattisten) aaltojen välinen vaihe riippuu peilien etäisyyserosta säteenjakajaan LASER MONITOR COVER l=λ/4 SPATIAL FILTER LAMP BEAM SPLITTER CCD CAMERA MOTOR MOVING CUBE CORNER BEAM SPLITTER MIRROR PIEZOS COMPENSATOR PLATE DETECTORS SCREEN MOTOR REFERENCE FLAT GAUGE BLOCK Kuvat: MIKES Päätemittainterferometri Viivamittainterferometri Toiminta: Etsitään valkoisen valon interferenssit (molemmissa pinnoissa) Luetaan näissä kohdissa juovalaskuri ja näytteistetään interferenssisignaali tietokoneelle Karkea pituusmittaus juovien lukumäärastä valkoisen valon interferenssien välillä Tarkka pituus interferenssisignaalien vaihe-erosta D3 D1 N a Reference flat surface ϕ D a N b Gauge block surface D b L=[rnd(N b +D b -N a -D a )+ϕ]λ/2 (N i, D i and ϕ in fringes) MIRROR GLASS PLATE LENS MIRROR CUBE CORNER BEAM- SPLITTER D1 D2 CUBE CORNER LINE SCALE LASER CC 2 FOCUS OF THE MICROSCOPE Kuva: MIKES Kuvat: MIKES
8 Metri: Taajuusstabiloitu laser Taajuustabiloitu laser = optinen kello Toissijainen taajuusnormaali Lukitaan stabiiliin spektriviivaan (metaani, jodi, rubidium) Epävarmuus tavallisesti n. ~ f 1 σ y (2, τ ) = f SNR 0 1 τ f f 0 MHz 500 THz 1 9 = 2 10 Metri: Taajuusstabiloitu laser Stabiloituja lasereita tarvitaan myös: Tietoliikennetekniikassa Atomioptiikan ja fysiikan kokeissa Laser Absorption cell PI Jodistabiloitu 633 nm He-Ne laser 1 f φ 3 f LOCK-IN AMPLIFIER Taajuus määritettävä Cs-atomikelloon Metri: Optinen taajuusmittaus Ongelma: optista taajuutta ~500 THz verrattava atomikelloon, jonka taajuus ~10 GHz Teknisesti vaikeaa: ~16 oktaavin taajuusväli Sähköinen toteutus mahdoton Menetelmät Vaihekoherentit taajuusketjut Useita vaihekoherentisti linkitettyjä kertoja -asteita Perinteinen menetelmä Optiset taajuuskammat Moodilukittu pulssilaser Kuva: A. Madej, International Comb Workshop, BIPM, March 13, Taajuuskampa Idea: pulssijono aikatasossa viivaspektri, jonka viivat ovat toistotaajuuden päässä toisistaan Cs-atomikelloon synkronoidulla taajuudella katkotaan laserin valoa Optiselle alueelle muodostuu viivaspektri, jossa viivojen väli on verrannollinen Cs-kellon taajuuteen f n Optinen taajuus = n frep +δ Cs-kelloon verrannollinen taajuus Taajuuspoikkeama Kuva: D. J. Jones et al., Science 28, 635 (2000).
9 Sitä roinan määrää Taajuuskampa Taajuuskampa Lopputulos: optisia taajuuksia voidaan mitata atomikellon tarkkuudella Toisaalta: optisten kellojen taajuus voidaan siirtää vaihekoherentisti radiotaajuuksille Optisilla kelloilla on periaatteessa atomikelloa parempi suorituskyky On arvioitu, että ~10-18 epävarmuus olisi saavutettavissa Kuva: D. J. Jones et al., Science 28, 635 (2000). Kuva: NIST ion group Kertaus: Metri Kelvin Sekunnin määritelmä Cs-atomikello Metrin määritelmä (c = m/s) Interferometri Pituus Taajuuskampa tai taajuusketju Taajuustabiloitu laser Ympäristömittaukset, ilman taitekerroin ym. Kelvin on 1/273,16 veden kolmoispisteen lämpötilasta. Termodynaaminen lämpötila on vaikeasti mitattavissa käytännön mittauksia varten on sovittu ITS-90 lämpötila-asteikosta Asteikko on määritelty lämpötilan 0,65 K yläpuolella Lämpötilan 961,78 C alapuolella asteikko määritellään kiintopisteiden ja interpolointi-instrumenttien avulla Kiintopisteet: puhtaiden aineiden faasitransitiolämpötiloja Interpolointi-instrumentit: kaasulämpömittari ja platinavastuslämpömittari Lämpötilan 961,78 C yläpuolella asteikko määritellään Planckin säteilylain avulla
10 Kelvin
Tervetuloa. Luennointi ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
Mittaustekniikan perusteet Luennointi ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-16:00 A-salissa Tervetuloa Doc. Petri Kärhä Mittaustekniikan laboratorio
LisätiedotTervetuloa. S Mittaustekniikan perusteet A S Mittaustekniikan perusteet Y. Pe 14:15-15:45 E111-salissa. Mittaustekniikan perusteet
Mittaustekniikan perusteet Luennot ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 14:15-15:45 E111-salissa Tervetuloa Luennot TkT Maija Ojanen-Saloranta
LisätiedotTervetuloa. Luennot ja tiedotus. Mittaustekniikan perusteet. Suorittaminen. Suorittaminen
Mittaustekniikan perusteet Luennot ja tiedotus S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y Luennot Noppa ja tiedotus Pe 14:15-15:45 S4-salissa Tervetuloa TkT Maija Ojanen-Saloranta
LisätiedotTervetuloa. Mittausteknikka. Mittaustekniikan perusteet. Mittaustekniikka. Mittaustekniikka
Mittaustekniikan perusteet Mittausteknikka S-08.95 Mittaustekniikan perusteet A S-08.9 Mittaustekniikan perusteet Y Pe 4:5-6:00 A-salissa Mittauksia käsittelevä tieteenhaara on metrologia. Metrologia sisältää
LisätiedotMittaustuloksen esittäminen Virhetarkastelua. Mittalaitetekniikka NYMTES 13 Jussi Hurri syksy 2014
Mittaustuloksen esittäminen Virhetarkastelua Mittalaitetekniikka NYMTES 13 Jussi Hurri syksy 2014 SI järjestelmä Kansainvälinen mittayksikköjärjestelmä Perussuureet ja perusyksiköt Suure Tunnus Yksikkö
LisätiedotJulkaistu Helsingissä 8 päivänä joulukuuta 2014. 1015/2014 Valtioneuvoston asetus. mittayksiköistä. Annettu Helsingissä 4 päivänä joulukuuta 2014
SUOMEN SÄÄDÖSKOKOELMA Julkaistu Helsingissä 8 päivänä joulukuuta 2014 1015/2014 Valtioneuvoston asetus mittayksiköistä Annettu Helsingissä 4 päivänä joulukuuta 2014 Valtioneuvoston päätöksen mukaisesti
Lisätiedot1. Fysiikka ja mittaaminen
1. Fysiikka ja mittaaminen 1.1 Fysiikka ja muut luonnontieteet Ihminen on aina pyrkinyt selittämään havaitsemansa ilmiöt Kreikkalaiset filosofit pyrkivät selvittämään ilmiöt pelkästään ajattelemalla Aristoteles
LisätiedotSI-järjestelmä uudistuu
SI-järjestelmä uudistuu Virpi Korpelainen VTT MIKES 6.10.2018 VTT beyond the obvious 1 Sisällys SI-järjestelmä Uudistus Miksi? Mitä? Milloin? Uudet määritelmät ja toteutus Kysymyksiä? 6.10.2018 VTT beyond
LisätiedotMETROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi
METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi SISÄLTÖ Mitä metrologia on Metrisopimus, MIKES Lämpötilan yksikkö kelvin, lämpötila-asteikko ITS-90 Valovoiman yksikkö kandela,
LisätiedotSTANDARDIEN LYHIN MAHDOLLINEN OPPIMÄÄRÄ
STANDARDIEN LYHIN MAHDOLLINEN OPPIMÄÄRÄ HEI OPISKELIJA! Tämä opas on tehty Hei muistuttamaan opiskelija! standardisoinnin tärkeydestä ja kertomaan Oletko huomannut, että maailma toimii standardien avulla?
LisätiedotYksikkömuunnokset. Pituus, pinta-ala ja tilavuus. Jaana Ohtonen Språkskolan/Kielikoulu Haparanda-Tornio. lördag 8 februari 14
Yksikkömuunnokset Pituus pinta-ala ja tilavuus lördag 8 februari 4 SI-järjestelmän perussuureet ja yksiköt Suure Suureen tunnus Perusyksikkö Yksikön lyhenne Määritelmä Lähde: Mittatekniikan keskus MIKES
LisätiedotSI-mittayksiköt. Martti Heinonen VTT MIKES. FINAS-päivä National Metrology Institute VTT MIKES
SI-mittayksiköt Martti Heinonen VTT MIKES FINAS-päivä 29.1.2019 National Metrology Institute VTT MIKES SI järjestelmän uudistus astuu voimaan 20.5.2019 National Metrology Institute VTT MIKES Sisältö: -
Lisätiedot11915/08 VHK,HKE/tan DG C I A
EUROOPAN UNIONIN NEUVOSTO Bryssel, 9. lokakuuta 2008 (OR. en) 11915/08 Toimielinten välinen asia: 2007/0187 (COD) MI 257 ENT 180 CONSOM 92 CODEC 978 SÄÄDÖKSET JA MUUT VÄLINEET Asia: Neuvoston hyväksymä
LisätiedotElektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus
Elektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus Antti Karjalainen, PRK 30.10.2014 Komponenttien esittelytaktiikka Toiminta, (Teoria), Käyttö jännite, virta, teho, taajuus, impedanssi ja näiden yksiköt:
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, osa II b, sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö 4. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä
Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, osa II b, sähkösuureet Antti Manninen MIKES TKK, Mittaustekniikan perusteet 22.9.2006 Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Perusyksikkö: ampeeri (A)
LisätiedotMittayksikköjärjestelmät
Mittaustekniikan historia: mittaustekniikan lähtökohta ihmisten luontaisen tietämyksen tarpeet, aluksi etäisyydet, massat, tilavuudet ja aika ulottuu todella kauas menneisyyteen, jopa 3000 vuotta ennen
LisätiedotMittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön lähentäminen ***I
P7_TA(2011)0209 Mittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön lähentäminen ***I Euroopan parlamentin lainsäädäntöpäätöslauselma 11. toukokuuta 2011 ehdotuksesta Euroopan parlamentin ja neuvoston
LisätiedotTämä asiakirja on ainoastaan dokumentointitarkoituksiin. Toimielimet eivät vastaa sen sisällöstä.
1980L0181 FI 27.05.2009 004.001 1 Tämä asiakirja on ainoastaan dokumentointitarkoituksiin. Toimielimet eivät vastaa sen sisällöstä. B NEUVOSTON DIREKTIIVI, annettu 20 päivänä joulukuuta 1979, mittayksikköjä
LisätiedotEUROOPAN YHTEISÖJEN KOMISSIO. Ehdotus EUROOPAN PARLAMENTIN JA NEUVOSTON DIREKTIIVIKSI
EUROOPAN YHTEISÖJEN KOMISSIO Bryssel 27.9.2010 KOM(2010) 507 lopullinen 2010/0260 (COD) C7-0287/10 Ehdotus EUROOPAN PARLAMENTIN JA NEUVOSTON DIREKTIIVIKSI mittayksikköjä koskevan jäsenvaltioiden lainsäädännön
LisätiedotMETROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES
METROLOGIA osa I Kari Riski, Mittatekniikan keskus, MIKES kari.riski@mikes.fi SISÄLTÖ Mitä metrologia on Metrologian organisointi Lämpötilan yksikkö kelvin, lämpötila-asteikko ITS-90 Valovoiman yksikkö
LisätiedotElektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus
Elektroniikan perusteet, Radioamatööritutkintokoulutus Antti Karjalainen, PRK 14.11.2013 Komponenttien esittelytaktiikka Toiminta, (Teoria), Käyttö jännite, virta, teho, taajuus, impedanssi ja näiden yksiköt:
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, sähkösuureet. Antti Manninen MIKES 10.10.2008
Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet, sähkösuureet Antti Manninen MIKES 10.10.2008 Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Perusyksikkö: ampeeri (A) Ampeeri on ajallisesti muuttumaton sähkövirta,
LisätiedotLuento 1. 1 SMG-1100 Piirianalyysi I
SMG-1100 Piirianalyysi I Luento 1 1 SMG-1100 Piirianalyysi I I + II periodi Luennot Harjoitukset ti 8 10 S4 ma 10 12 TB 110 pe 9 10 S4 ti 12 14 TC 161 Risto Mikkonen, SC 312 ti 12 14 SC 163 ke 14 16 SC
LisätiedotTutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa
Tutkimustoiminta MIKES- Metrologiassa Heikki Isotalo Johtaja Metrologia Tutkimus Kvanttimetrologiakolmio (SA) Taajuuskampa (SA) EMMA - piimikromekaniikalla toteutettu voltti CBT- primääri lämpömittari
LisätiedotDiplomi-insinöörien ja arkkitehtien yhteisvalinta - dia-valinta 2012 Insinöörivalinnan fysiikan koe 30.5.2012, malliratkaisut
A1 Kappale, jonka massa m = 2,1 kg, lähtee liikkeelle levosta paikasta x = 0,0 m pitkin vaakasuoraa alustaa. Kappaleeseen vaikuttaa vaakasuora vetävä voima F, jonka suuruus riippuu paikasta oheisen kuvan
LisätiedotKellot ja signaalilähteet
Mittaustekniikan perusteet / luento 10 Kellot ja signaalilähteet Määritellään kello Kello = Oskillaattori + Laskuri Figure: Pierre Dube, NRC (Canada) Heiluri > Kideoskillaattori > Optinen kello (taajuusstabiloitu
LisätiedotMittaustarkkuus ja likiarvolaskennan säännöt
Mittaustarkkuus ja likiarvolaskennan säännöt Mittaustulokset ovat aina likiarvoja, joilla on tietty tarkkuus Kokeellisissa luonnontieteissä käsitellään usein mittaustuloksia. Mittaustulokset ovat aina
LisätiedotOPAS. Kansainvälinen suure- ja yksikköjärjestelmä International System of Quantities and Units
OPAS Kansainvälinen suure- ja yksikköjärjestelmä International System of Quantities and Units Sisällys Esipuhe....3 1 Kansainvälinen mittayksikköjärjestelmä SI...4 2 Suure ja yksikkö....5 3 ISQ-suurejärjestelmä
LisätiedotFYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT. 1 Johdanto. 2 Teoreettista taustaa
FYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT Työn tavoitteita o Havainnollistaa vaihtovirtapiirien toimintaa o Syventää ymmärtämystä aiheeseen liittyvästä fysiikasta 1 Johdanto Tasavirta oli 1900 luvun alussa kilpaileva
LisätiedotVIRTAPIIRILASKUT II Tarkastellaan sinimuotoista vaihtojännitettä ja vaihtovirtaa;
VITAPIIIASKUT II Tarkastellaan sinimutista vaihtjännitettä ja vaihtvirtaa; u sin π ft ja i sin π ft sekä vaihtvirtapiiriä, jssa n sarjaan kytkettyinä vastus, käämi ja kndensaattri (-piiri) ulkisen vastuksen
LisätiedotLuento 1 / SMG-1100 Piirianalyysi I Risto Mikkonen
SMG-1100 Piirianalyysi I Luento 1 / 12 1 SMG-1100 Piirianalyysi I Viikot 22-24 (27.5. 14.6.) Luennot Harjoitukset ma, ti, ke, to 16-19 S2 pe 11-14 S2 ti 28.5. ja ke 29.5. SC 105B pe 14.6. SC 105B, SH 311
LisätiedotS-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A Tentti
S-108.1010 Mittaustekniikan perusteet A Tentti 15.12.06 / Kärhä Tehtävät 1-2 käsittelevät luentoja ja ne hyvitetään vuoden 2006 luentokuulustelupisteiden perusteella. Tehtävät 3-5 käsittelevät laboratoriotöitä
LisätiedotFYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT. 1 Johdanto
FYSP105/2 VAIHTOVIRTAKOMPONENTIT Työn tavoitteet o Havainnollistaa vaihtovirtapiirien toimintaa o Syventää ymmärtämystä aiheeseen liittyvästä fysiikasta 1 Johdanto Tasavirta oli 1900 luvun alussa kilpaileva
LisätiedotYleistä. Digitaalisen äänenkäsittelyn perusteet. Tentit. Kurssin hyväksytty suoritus = Harjoitustyö 2(2) Harjoitustyö 1(2)
Yleistä Digitaalisen äänenkäsittelyn perusteet Jouni Smed jouni.smed@utu.fi syksy 2006 laajuus: 5 op. (3 ov.) esitiedot: Java-ohjelmoinnin perusteet luennot: keskiviikkoisin 10 12 12 salissa β perjantaisin
LisätiedotKellot, taajuuslähteet. Kellot, taajuuslähteet. Mittaustekniikan perusteet / luento 6 Perusmittalaitteet 4. Kideoskillaattorit
Mittaustekniikan perusteet / luento 6 Perusmittalaitteet 4 Kellot, taajuuslähteet Kellon (taajuuslähteen) epävarmuus riippuu käytetystä referenssistä Taajuusreferenssejä: Kvartsikiteet Mekaaninen värähtelijä
LisätiedotB sivu 1(6) AMMATTIKORKEAKOULUJEN TEKNIIKAN JA LIIKENTEEN VALINTAKOE
B sivu 1(6) TEHTÄVÄOSA 7.6.2004 AMMATTIKORKEAKOULUJEN TEKNIIKAN JA LIIKENTEEN VALINTAKOE YLEISOHJEITA Tehtävien suoritusaika on 2 h 45 min. Osa 1 (Tekstin ymmärtäminen) Osassa on 12 valintatehtävää. Tämän
LisätiedotEUROOPAN PARLAMENTTI
EUROOPAN PARLAMENTTI 2004 Istuntoasiakirja 2009 C6-0425/2008 2007/0187(COD) 20/11/2008 YHTEINEN KANTA Neuvoston 18 päivänä marraskuuta 2008 hyväksymä yhteinen kanta Euroopan parlamentin ja neuvoston asetuksen
LisätiedotLuento 1. 1 DEE Piirianalyysi Risto Mikkonen
DEE-11000 Piirianalyysi Luento 1 1 DEE-11000 Piirianalyysi Kesäkurssi, viikot 22-24 (26.5. 13.6.) Luennot Harjoitukset ma, ti, ke to klo 16-19 SE 211 pe klo 11-14 SE 211 (helatorstaina 29.5. ei luentoa),
LisätiedotFaradayn laki ja sähkömagneettinen induktio
Faradayn laki ja sähkömagneettinen induktio Haarto & Karhunen Magneettivuo Magneettivuo Φ määritellään magneettivuon tiheyden B ja sen läpäisemän pinta-alavektorin A pistetuloksi Φ B A BAcos Acosθ θ θ
LisätiedotInterferenssi. Luku 35. PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman. Lectures by James Pazun
Luku 35 Interferenssi PowerPoint Lectures for University Physics, Twelfth Edition Hugh D. Young and Roger A. Freedman Lectures by James Pazun Johdanto Interferenssi-ilmiö tapahtuu, kun kaksi aaltoa yhdistyy
LisätiedotSMG-4450 Aurinkosähkö
SMG-4450 Aurinkosähkö Ensimmäisen luennon aihepiirit Auringonsäteily: Auringon säteilyintensiteetin mallintaminen: mustan kappaleen säteily Sähkömagneettisen säteilyn hiukkasluonne: fotonin energia Aurinkovakio
LisätiedotLUT, Sähkötekniikan osasto. 1. Ilmassa etenevällä tasoaallolla on sähkökentän voimakkuus z. d) vaihekerroin
SÄHKÖMAGNETISMI LUT, Sähkötekniikan osasto LH5/216 P.I. Ketausta: 1. Ilassa etenevällä tasoaallolla on sähkökentän voiakkuus z t E cos t z Ex,. Aallon taajuus on 2 MHz. Kuvassa 1 on esitetty tasoaallon
LisätiedotHiukkaspäästöjen mittaus
Hiukkaspäästöjen mittaus Juha-Matti Hirvonen MIKES-Aalto 24.3.2010 Sisältö Hiukkaset Koot Synty Terveysvaikutukset ja kustannukset Lainsäädäntö Kansallinen EU Mittausmenetelmiä Mekaaniset Sähköiset Optiset
Lisätiedot14.1. Lämpötilan mittaaminen
14 16. LÄMPÖOPPIA 14.1. Lämpötilan mittaaminen Neste lasi lämpömittari Nesteen lämpölaajeneminen Kaksoismetallilämpömittari Aineilla erilainen lämpölaajeneminen, jolloin lämpeneminen aiheuttaa taipumista
LisätiedotSPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA
FYSA234/K2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA 1 Johdanto Kvanttimekaniikan mukaan atomi voi olla vain tietyissä, määrätyissä energiatiloissa. Perustilassa, jossa atomi normaalisti on, energia on pienimmillään.
LisätiedotPerusmittalaitteiden käyttö mittauksissa
Fysiikan laboratorio Työohje 1 / 5 Perusmittalaitteiden käyttö mittauksissa 1. Työn tavoite Työn tavoitteena on tutustua insinöörien tarvitsemiin perusmittalaitteisiin: mikrometriruuviin, työntömittaan,
LisätiedotSähköstatiikka ja magnetismi Sähkömagneetinen induktio
Sähköstatiikka ja magnetismi Sähkömagneetinen induktio Antti Haarto.05.013 Magneettivuo Magneettivuo Φ on magneettivuon tiheyden B ja sen läpäisemän pinta-alavektorin A pistetulo Φ B A BAcosθ missä θ on
LisätiedotFluke 279 FC -yleismittari/lämpökamera
TEKNISET TIEDOT Fluke 279 FC -yleismittari/lämpökamera Etsi. Korjaa. Tarkasta. Raportoi. 279 FC, digitaalisen yleismittarin ja lämpökameran yhdistelmä, lisää mittausten tuottavuutta ja luotettavuutta.
LisätiedotS-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y - Tentti
S-108.1020 Mittaustekniikan perusteet Y - Tentti 15.12.06/Kärhä Merkitse vastauspaperiin laboratoriotöiden suoritusvuosi. 1. Ohessa on 12 väittämää antureista. Ovatko väittämät oikein vai väärin? Oikeasta
LisätiedotFysiikan perusteet. Työ, energia ja energian säilyminen. Antti Haarto 20.09.2011. www.turkuamk.fi
Fysiikan perusteet Työ, energia ja energian säilyminen Antti Haarto 0.09.0 Voiman tekemä työ Voiman F tekemä työ W määritellään kuljetun matkan s ja matkan suuntaisen voiman komponentin tulona. Yksikkö:
Lisätiedot1/6 TEKNIIKKA JA LIIKENNE FYSIIKAN LABORATORIO V1.31 9.2011
1/6 333. SÄDEOPTIIKKA JA FOTOMETRIA A. INSSIN POTTOVÄIN JA TAITTOKYVYN MÄÄRITTÄMINEN 1. Työn tavoite. Teoriaa 3. Työn suoritus Työssä perehdytään valon kulkuun väliaineissa ja niiden rajapinnoissa sädeoptiikan
Lisätiedot25 INTERFEROMETRI 25.1 Johdanto
5 INTERFEROMETRI 5.1 Johdanto Interferometrin toiminta perustuu valon interferenssiin. Interferenssillä tarkoitetaan kahden tai useamman aallon yhdistymistä yhdeksi resultanttiaalloksi. Kuvassa 1 tarkastellaan
LisätiedotMittalaitetekniikka. NYMTES13 Vaihtosähköpiirit Jussi Hurri syksy 2014
Mittalaitetekniikka NYMTES13 Vaihtosähköpiirit Jussi Hurri syksy 2014 1 1. VAIHTOSÄHKÖ, PERUSKÄSITTEITÄ AC = Alternating current Jatkossa puhutaan vaihtojännitteestä. Yhtä hyvin voitaisiin tarkastella
LisätiedotKondensaattorin läpi kulkeva virta saadaan derivoimalla yhtälöä (2), jolloin saadaan
VAIHTOVIRTAPIIRI 1 Johdanto Vaihtovirtapiirien käsittely perustuu kolmen peruskomponentin, vastuksen (resistanssi R), kelan (induktanssi L) ja kondensaattorin (kapasitanssi C) toimintaan. Tarkastellaan
Lisätiedot3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 1. Tsunamin synty. 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.
Akustiikan perussuureita, desibelit. 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 1 Tsunamin synty 3.1.2013 LUT CS20A0650 Meluntorjunta juhani.kuronen@lut.fi 2 1 Tasoaallon synty 3.1.2013
LisätiedotSähköiset perussuureet. 1 DEE Piirianalyysi Risto Mikkonen
DEE-11000 Piirianalyysi Sähköiset perussuureet 1 DEE-11000 Piirianalyysi kevät 2016 ; III + IV periodi Luennot, III periodi Ma 10 12 S1 Ti 14 15 S4 Luennot, IV periodi Ma 10 12 S1 Harjoitukset, III + IV
LisätiedotPYP I / TEEMA 4 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS
1 PYP I / TEEMA 4 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS Aki Sorsa 2 SISÄLTÖ YLEISTÄ Mitattavuus ja mittaus käsitteinä Mittauksen vaiheet Mittaustarkkuudesta SUUREIDEN MITTAUSMENETELMIÄ Mittalaitteen osat Lämpötilan
LisätiedotKELAN INDUKTANSSI VAASAN YLIOPISTO TEKNILLINEN TIEDEKUNTA SÄHKÖTEKNIIKKA. Miika Manninen, n85754 Tero Känsäkangas, m84051
VAASAN YLIOPISTO TEKNILLINEN TIEDEKUNTA SÄHKÖTEKNIIKKA Miika Manninen, n85754 Tero Känsäkangas, m84051 SATE.2010 Dynaaminen kenttäteoria KELAN INDUKTANSSI Sivumäärä: 21 Jätetty tarkastettavaksi: 21.04.2008
Lisätiedot1240eV nm. 410nm. Kun kappaleet saatetaan kontaktiin jännite-ero on yhtä suuri kuin työfunktioiden erotus ΔV =
S-47 ysiikka III (ST) Tentti 88 Maksimiaallonpituus joka irroittaa elektroneja metallista on 4 nm ja vastaava aallonpituus metallille on 8 nm Mikä on näiden metallien välinen jännite-ero? Metallin työfunktio
LisätiedotMAA10 HARJOITUSTEHTÄVIÄ
MAA0 Määritä se funktion f: f() = + integraalifunktio, jolle F() = Määritä se funktion f : f() = integraalifunktio, jonka kuvaaja sivuaa suoraa y = d Integroi: a) d b) c) d d) Määritä ( + + 8 + a) d 5
LisätiedotTekstiilien tutkiminen ja testaus
Tekstiilien tutkiminen ja testaus Yleistä johdatusta tekstiilien tutkimusmenetelmiin elokuu 2006 Riikka Räisänen Helsingin yliopisto Miksi tekstiilejä tutkitaan? Tutkimus (teoreettinen metrologia) Määritykset,
LisätiedotPYP I / TEEMA 8 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS
1 PYP I / TEEMA 8 MITTAUKSET JA MITATTAVUUS Aki Sorsa 2 SISÄLTÖ YLEISTÄ Mitattavuus ja mittaus käsitteinä Mittauksen vaiheet Mittausprojekti Mittaustarkkuudesta SUUREIDEN MITTAUSMENETELMIÄ Mittalaitteen
LisätiedotVastksen ja diodin virta-jännite-ominaiskäyrät sekä valodiodi
Sivu 1/10 Fysiikan laboratoriotyöt 1 Työ numero 3 Vastksen ja diodin virta-jännite-ominaiskäyrät sekä valodiodi Työn suorittaja: Antero Lehto 1724356 Työ tehty: 24.2.2005 Uudet mittaus tulokset: 11.4.2011
LisätiedotSähköstatiikan laskuissa useat kaavat yksinkertaistuvat hieman, jos vakio C kirjoitetaan muotoon
30 SÄHKÖVAKIO 30 Sähkövakio ja Coulombin laki Coulombin lain mukaan kahden tyhjiössä olevan pistevarauksen q ja q 2 välinen voima F on suoraan verrannollinen varauksiin ja kääntäen verrannollinen varausten
LisätiedotELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2015)
ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2015) Henrik Wallén Luentoviiko 1 / versio 8. syyskuuta 2015 Johdanto (ti) Merkinnät ja yksiköt Kenttä- ja lähdesuureet Maxwellin yhtälöt ja väliaineyhtälöt Aallot ja osoittimet
Lisätiedot- Kahden suoran johtimen välinen magneettinen vuorovaikutus I 1 I 2 I 1 I 2. F= l (Ampèren laki, MAOL s. 124(119) Ampeerin määritelmä (MAOL s.
7. KSS: Sähkömagnetismi (FOTON 7: PÄÄKOHDAT). MAGNETSM Magneettiset vuoovaikutukset, Magneettikenttä B = magneettivuon tiheys (yksikkö: T = Vs/m ), MAO s. 67, Fm (magneettikenttää kuvaava vektoisuue; itseisavona
LisätiedotMustan kappaleen säteily
Mustan kappaleen säteily Musta kappale on ideaalisen säteilijän malli, joka absorboi (imee itseensä) kaiken siihen osuvan säteilyn. Se ei lainkaan heijasta eikä sirota siihen osuvaa säteilyä, vaan emittoi
LisätiedotTehtävänä on tutkia gammasäteilyn vaimenemista ilmassa ja esittää graafisesti siihen liittyvä lainalaisuus (etäisyyslaki).
TYÖ 68. GAMMASÄTEILYN VAIMENEMINEN ILMASSA Tehtävä Välineet Tehtävänä on tutkia gammasäteilyn vaimenemista ilmassa ja esittää graafisesti siihen liittyvä lainalaisuus (etäisyyslaki). Radioaktiivinen mineraalinäyte
LisätiedotPIIRIANALYYSI. Harjoitustyö nro 7. Kipinänsammutuspiirien mitoitus. Mika Lemström
PIIRIANAYYSI Harjoitustyö nro 7 Kipinänsammutuspiirien mitoitus Mika emström Sisältö 1 Johdanto 3 2 RC-suojauspiiri 4 3 Diodi suojauspiiri 5 4 Johtopäätos 6 sivu 2 [6] Piirianalyysi Kipinänsammutuspiirien
LisätiedotLähteet. SESKOn yhteystiedot: Särkiniementie HELSINKI puhelin sähköposti verkkosivut
Lähteet Suomenkieliset lähteet SFS-IEC 60050-121 + A1 Sähköteknillinen sanasto. Osa 121: Sähkömagnetismi (1. painos) SFS-EN 60059 IEC-standardimitoitusvirrat (1. painos) SFS-EN 60269-1 Pienjännitevarokkeet.
LisätiedotPerusmittalaitteet 2. Yleismittari Taajuuslaskuri
Mittaustekniikan perusteet / luento 4 Perusmittalaitteet 2 Digitaalinen yleismittari Yleisimmin sähkötekniikassa käytetty mittalaite. Yleismittari aajuuslaskuri Huomaa mittareiden toisistaan poikkeaat
Lisätiedot- ultraviolettisäteilyn (UV) - näkyvän alueen (visible) - infrapuna-alueen (IR)
86 Opettele jako: - Gammasäteet (Gamma rays) - Röntgensäteet (X-rays) - Ultravioletti (Ultraviolet) - Näkyvä (Visible) - Infrapuna-alue (Infrared) - Mikroaaltoalue (Microwave) - Radioaallot 87 Valo-opissa
Lisätiedot4. SÄHKÖMAGNEETTINEN INDUKTIO
4. SÄHKÖMAGNEETTINEN INDUKTIO Magneettivuo Magneettivuo Φ määritellään vastaavalla tavalla kuin sähkövuo Ψ Magneettivuo Φ on magneettivuon tiheyden B ja sen läpäisemän pinta-alan A pistetulo Φ= B A= BAcosθ
LisätiedotFYSA220/K2 (FYS222/K2) Vaimeneva värähtely
FYSA/K (FYS/K) Vaimeneva värähtely Työssä tutkitaan vaimenevaa sähköistä värähysliikettä. Erityisesti pyritään havainnollistamaan kelan inuktanssin, konensaattorin kapasitanssin ja ohmisen vastuksen suuruuksien
LisätiedotMittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet: sähkösuureet. 1. Jännite ja Josephson-ilmiö. Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä
TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY Sähkösuureiden yksiköt SI-järjestelmässä Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet: sähkösuureet Antti Manninen MIKES-metrologia, VTT Aalto, Mittaustekniikan perusteet
LisätiedotFYSIIKKA (FY91): 9. KURSSI: Kertauskurssi KOE 30.01.2014 VASTAA KUUTEEN (6) TEHTÄVÄÄN!!
FYSIIKKA (FY91): 9. KURSSI: Kertauskurssi KOE 30.01.2014 VASTAA KUUTEEN (6) TEHTÄVÄÄN!! 1. Vastaa, ovatko seuraavat väittämät oikein vai väärin. Perustelua ei tarvitse kirjoittaa. a) Atomi ei voi lähettää
LisätiedotMuunnokset ja mittayksiköt
Muunnokset ja mittayksiköt 1 a Mitä kymmenen potenssia tarkoittavat etuliitteet m, G ja n? b Mikä on massan (mass) mittayksikkö SI-järjestelmässäa? c Mikä on painon (weight) mittayksikkö SI-järjestelmässä?
LisätiedotInfrapunaspektroskopia
ultravioletti näkyvä valo Infrapunaspektroskopia IHMISEN JA ELINYMPÄ- RISTÖN KEMIAA, KE2 Kertausta sähkömagneettisesta säteilystä Sekä IR-spektroskopia että NMR-spektroskopia käyttävät sähkömagneettista
LisätiedotFYSA230/2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA
FYSA230/2 SPEKTROMETRI, HILA JA PRISMA 1 JOHDANTO Työssä tutustutaan hila- ja prismaspektrometreihin, joiden avulla tutkitaan valon taipumista hilassa ja taittumista prismassa. Samalla tutustutaan eräiden
Lisätiedotkategorioista. mittajärjestelmästä haluamasi oletusyksiköt esitettäviin ratkaisuihin.
Kappale 4: Vakiot ja mittayksiköt 4 Johdanto: Vakiot ja mittayksiköt... 82 Vakioiden tai yksiköiden syöttäminen... 83 Yksiköiden muuntaminen... 85 Ratkaisujen oletusyksikköjen asettaminen... 87 Käyttäjäkohtaisen
Lisätiedot=. (1) , (2) max. kin
TYÖ Planc vakion kokeellinen määrittäminen TYÖN TORTTINN PRUSTA JA TYÖOHJ Teoreettinen perusta instein perusteli valosähköisen ilmiön siten, että sähkömagneettinen säteily, sisältäen valon, paitsi emittoituu,
LisätiedotSMG-4300 Aurinkosähkö ja Tuulivoima
SMG-4300 Aurinkosähkö ja Tuulivoima Aurinkosähkön 1. luento Katsaus aurinkosähkön historiaan. Auringon energiantuotanto: Miten ja miksi auringosta tulee energiaa maahan? Kuinka suurella teholla maa vastaanottaa
LisätiedotS-108.3020 Elektroniikan häiriökysymykset. Laboratoriotyö, kevät 2010
1/7 S-108.3020 Elektroniikan häiriökysymykset Laboratoriotyö, kevät 2010 Häiriöiden kytkeytyminen yhteisen impedanssin kautta lämpötilasäätimessä Viimeksi päivitetty 25.2.2010 / MO 2/7 Johdanto Sähköisiä
LisätiedotELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016)
ELEC C4140 Kenttäteoria (syksy 2016) Henrik Wallén / versio 15. syyskuuta 2016 Johdanto (Ulaby 1.2 1.3) Merkinnät ja yksiköt Kenttä- ja lähdesuureet Maxwellin yhtälöt ja väliaineyhtälöt Vektorit ja koordinaatistot
LisätiedotSÄHKÖSTATIIKKA JA MAGNETISMI. NTIETS12 Tasasähköpiirit Jussi Hurri syksy 2013
SÄHKÖSTATIIKKA JA MAGNETISMI NTIETS12 Tasasähköpiirit Jussi Hurri syksy 2013 1. RESISTANSSI Resistanssi kuvaa komponentin tms. kykyä vastustaa sähkövirran kulkua Johtimen tai komponentin jännite on verrannollinen
LisätiedotMittausjärjestelmän kalibrointi ja mittausepävarmuus
Mittausjärjestelmän kalibrointi ja mittausepävarmuus Kalibrointi kalibroinnin merkitys kansainvälinen ja kansallinen mittanormaalijärjestelmä kalibroinnin määritelmä mittausjärjestelmän kalibrointivaihtoehdot
LisätiedotUusi SI-järjestelmä toteuttaa Maxwellin unelman. Antti Manninen. liikkeestä tai massasta, vaan pilaantumattomien,
Uusi SI-järjestelmä toteuttaa Maxwellin unelman Antti Manninen Tämän vuoden tammikuussa kanadalaistutkijat raportoivat hätkähdyttävän tieteellisen tuloksen: he olivat määrittäneet Planckin vakion arvon
LisätiedotFYSP101A Laboratoriotöiden perusteet
FYSP101A Laboratoriotöiden perusteet Luennot To 4.9. klo 14 16 FYS1 Ti 9.9. klo 14 16 FYS1 To 11.9. klo 14 15 FYS1 Harjoitustehtäviä FYSP101:n ensimmäisissä laskuharjoituksissa tiistaina 16.9. Kurssin
LisätiedotEsimerkki 1a. Stubisovituksen (= siirtokaapelisovitus) laskeminen Smithin kartan avulla
Esimerkkejä Smithin kartan soveltamisesta Materiaali liittyy OH3AB:llä keväällä 2007 käytyihin tekniikkamietintöihin. 1.5.2007 oh3htu Esimerkit on tehty käyttäen Smith v 1.91 demo-ohjelmaa. http://www.janson-soft.de/seminare/dh7uaf/smith_v191.zip
LisätiedotLABORAATIO 1, YLEISMITTARI JA PERUSMITTAUKSET
KAJAANIN AMMATTIKORKEAKOULU Tekniikan ja liikenteen ala VAHVAVIRTATEKNIIKAN LABORAATIOT H.Honkanen LABORAATIO 1, YLEISMITTARI JA PERUSMITTAUKSET YLEISTÄ YLEISMITTARIN OMINAISUUKSISTA: Tässä laboratoriotyössä
LisätiedotFYSP105 / K3 RC-SUODATTIMET
FYSP105 / K3 R-SODATTIMET Työn tavoitteita tutustua R-suodattimien toimintaan oppia mitoittamaan tutkittava kytkentä laiterajoitusten mukaisesti kerrata oskilloskoopin käyttöä vaihtosähkömittauksissa Työssä
LisätiedotVerkkotehtäviin pohjautuva arviointi matematiikan opetuksessa
Verkkotehtäviin pohjautuva arviointi matematiikan opetuksessa Linda Blåfield, Helle Majander, Antti Rasila & Pekka Alestalo Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu Oppimisen arviointi Käytännössä: Tarkastellaan
LisätiedotOngelmia mittauksissa Ulkoiset häiriöt
Ongelmia mittauksissa Ulkoiset häiriöt Häiriöt peittävät mitattavia signaaleja Häriölähteitä: Sähköverkko 240 V, 50 Hz Moottorit Kytkimet Releet, muuntajat Virtalähteet Loisteputkivalaisimet Kännykät Radiolähettimet,
LisätiedotRadioastronomian käsitteitä
Radioastronomian käsitteitä allonpituusalue ~ 100 m - 1 mm MHz 300 GHz Leveä aallonpituusalue: erilaisia antenneja, monenlaista tekniikkaa Ei (suoraan) kuvia Signaali yleensä
LisätiedotSÄHKÖTEKNIIKKA. NTUTAS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri kevät 2015
SÄHKÖTEKNIIKKA NTTAS13 Tasasähköpiirit Jussi Hurri kevät 2015 1. PERSKÄSITTEITÄ 1.1. VIRTAPIIRI Virtapiiri on johtimista ja komponenteista tehty reitti, jossa sähkövirta kulkee. 2 Virtapiirissä on vähintään
Lisätiedotsuunta kuvassa alaspäin. Virrankuljettajat liikkuvat magneettikentässä ja sähkökentässä suoraan, kun
TYÖ 4. Magneettikenttämittauksia Johdanto: Hallin ilmiö Ilmiön havaitseminen Yhdysvaltalainen Edwin H. Hall (1855-1938) tutki mm. aineiden sähköjohtavuutta ja löysi menetelmän, jolla hän pystyi mittaamaan
LisätiedotMetrologia innovaatioiden tukijalkana
Metrologia innovaatioiden tukijalkana Alueellisten innovaatiokeskusten menestyksen avaimet -seminaari Kajaani sähköposti: etunimi.sukunimi@mikes.fi puh: 010 6054 402 Ryhmäpäällikkö, dos. METROLOGIA tutkii
LisätiedotPerusopintojen Laboratoriotöiden Työselostus 1
Perusopintojen Laboratoriotöiden Työselostus 1 Kalle Hyvönen Työ tehty 1. joulukuuta 008, Palautettu 30. tammikuuta 009 1 Assistentti: Mika Torkkeli Tiivistelmä Laboratoriossa tehdyssä ensimmäisessä kokeessa
LisätiedotRadiotekniikan perusteet BL50A0301
Radiotekniikan perusteet BL50A0301 1. Luento Kurssin sisältö ja tavoitteet, sähkömagneettinen aalto Opetusjärjestelyt Luentoja 12h, laskuharjoituksia 12h, 1. periodi Luennot Juhamatti Korhonen Harjoitukset
LisätiedotOPTIIKAN TYÖ. Fysiikka 1-2:n/Fysiikan peruskurssien harjoitustyöt (mukautettu lukion oppimäärään) Nimi: Päivämäärä: Assistentti:
Fysiikka 1-2:n/Fysiikan peruskurssien harjoitustyöt (mukautettu lukion oppimäärään) Nimi: Päivämäärä: Assistentti: OPTIIKAN TYÖ Vastaa ensin seuraaviin ennakkotietoja mittaaviin kysymyksiin. 1. Mitä tarkoittavat
Lisätiedot